一种纳米纤维膜膜厚测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种纳米纤维膜膜厚测量装置，包括工作台板，所述工作台板的顶部固定安装有两个位置相对的驱动座和限位座，所述限位座的顶部装配有限位板，所述限位板上开设有检测槽，且限位板的顶部固定安装有信息处理器，所述驱动座中套装有从动轴，所述从动轴的外壁上固定套装有套筒，且套筒上装配有两个位置相对的下激光计数器和上激光计数器，所述从动轴的顶端固定安装有原料桶，所述原料桶上装配有喷射装置，且喷射装置设置在限位板中检测槽的上方；该纳米纤维膜膜厚测量装置，通过喷射装置的设置，能够计算出纳米膜的密度和厚度，操作简单且效率高，解决了现有装置对于纳米膜检测速度较慢导致其效率低的问题。测速度较慢导致其效率低的问题。测速度较慢导致其效率低的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种纳米纤维膜膜厚测量装置


[0001]本专利技术涉及纳米纤维膜
，具体为一种纳米纤维膜膜厚测量装置。

技术介绍

[0002]纳米纤维以其优越的力学、光学与电学等特性，在过滤、消音、传感器、防护服装、药物控释、生物支架、柔性电子以及新能源等诸多领域广泛应用，其产业化应用的关键是实现纳米纤维的批量化制造。目前，可大规模制造纳米纤维的批量电纺技术主要包括滚筒电纺、离心电纺等，其中捷克科研人员利用滚筒电纺技术开发出“纳米蜘蛛”设备并成功实现商业化。电纺纳米纤维膜的厚度均匀性是纳米纤维膜的一个重要指标，因此，纳米纤维膜厚度在线测量成为纤维膜电纺制造过程中的一个重要环节。
[0003]由于纤维直径(纳米级)一般比光波长小(亚微米级)，因此不能采用光学测量的方法进行检测，而采用电子显微镜(SEM)方法需要在很高真空度下检测，速度慢，不适用于纳米纤维批量生产制造过程中的在线检测,此外，电子显微镜方法投入相对较大，测量成本较高，不适于批量检测。
[0004]因此，我们提出了一种纳米纤维膜膜厚测量装置。
专利技术内容
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种纳米纤维膜膜厚测量装置，其特征在于：包括工作台板(1)，所述工作台板(1)的顶部固定安装有两个位置相对的驱动座(2)和限位座(8)，所述限位座(8)的顶部装配有限位板(10)，所述限位板(10)上开设有检测槽(12)，且限位板(10)的顶部固定安装有信息处理器(11)，所述驱动座(2)中套装有从动轴(3)，所述从动轴(3)的外壁上固定套装有套筒(4)，且套筒(4)上装配有两个位置相对的下激光计数器(14)和上激光计数器(15)，所述从动轴(3)的顶端固定安装有原料桶(5)，所述原料桶(5)上装配有喷射装置(7)，且喷射装置(7)设置在限位板(10)中检测槽(12)的上方。2.根据权利要求1所述的一种纳米纤维膜膜厚测量装置，其特征在于：所述限位座(8)通过立柱(9)固定连接有限位板(10)，且立柱(9)由套杆与杆筒套装而成。3.根据权利要求1所述的一种纳米纤维膜膜厚测量装置，其特征在于：所述套筒(4)的顶部和底部均装配有支板(13)，所述支板(13)的外端分别固定安装有...

【专利技术属性】
技术研发人员：孔善右，张仕明，张辉，葛栋，
申请(专利权)人：江苏仕邦柔性电子研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：