【技术实现步骤摘要】
一种模拟集成电路测试仪
[0001]本技术涉及集成电路
，具体为一种模拟集成电路测试仪。
技术介绍
[0002]随着社会的发展，对集成电路的应用愈加广泛，集成电路是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构。其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。
[0003]现有技术中，对于集成电路的测试只能够单个的对集成电路芯片进行连接检测，并且需要人工对集成电路芯片进行更换，从而降低集成电路芯片的测试效率，不便于大量的集成电路芯片测试；且在对集成电路芯片进行检测后，不能够快速的对未合格产品进行剔除，从而使未合格产品掺杂在合格产品内，不便于合格产品的包装和使用。
技术实现思路
[0004]本技术的目的在于提供一种模拟集成电路测试仪，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为实现上述...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种模拟集成电路测试仪，包括测试箱(1)、液压机(4)和单片机(19)，其特征在于：所述测试箱(1)的内侧下端固定连接有传送带(2)，所述传送带(2)的外侧表面固定连接有放置槽板(3)；所述测试箱(1)的内侧壁上端左侧固定连接有液压机(4)，所述液压机(4)的下端密封连接有液压杆(5)，所述液压杆(5)的下端固定连接有传动接头(6)，所述传动接头(6)的外侧转动连接有传动杆(7)，所述传动杆(7)的下端转动连接有驱动接头(8)，所述驱动接头(8)的内侧滑动连接有芯片主体(9)，所述芯片主体(9)与放置槽板(3)之间滑动连接；所述测试箱(1)的后侧壁右侧固定连接有电机(10)，所述电机(10)的前端设有转动杆(11)，所述转动杆(11)通过输出轴与电机(10)之间转动连接，所述转动杆(11)的下端转动连接有驱动杆(12)，所述驱动杆(12)的下端转动连接有升降杆(13)，所述升降杆(13)的下端固定连接有推送板(14)，所述推送板(14)的内侧滑动连接有弹性接杆(15)，所述弹性接杆(...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈超超，
申请(专利权)人：杭州宇称电子技术有限公司，
类型：新型
国别省市：
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