一种IC-CPD电气寿命试验装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供了一种IC

【技术实现步骤摘要】
一种IC
‑
CPD电气寿命试验装置


[0001]本技术涉及一种IC
‑
CPD电气寿命试验装置。

技术介绍

[0002]目前常规的断路器电气寿命试验室每个试验回路只有一套阻、感性负载，如要进行电动汽车充电模式2的IC
‑
CPD(缆上控制与保护装置)电气寿命试验，需要在原有的负载上串联一个电容器，同时在负载两端并联两套阻性负载，在并联的两个支路中各串联一个接触器来控制每条支路的投切，这样临时搭建的试验回路不能准确的校准涌入电流，与试验标准要求不符。

技术实现思路

[0003]本技术要解决的技术问题是：常规的断路器电气寿命试验室进行IC
‑
CPD电气寿命试验时需要临时搭建试验回路，不能满足试验标准要求的问题。
[0004]为了解决上述问题，本技术的技术方案是提供了一种IC
‑
CPD电气寿命试验装置，其特征在于：包括测控系统、与试品IC
‑
CPD的进线端连接的供电系统、接在试品IC
‑
CPD导引线和PE出线端之间的导引单元，以及与试品IC
‑
CPD的出线端并联的涌入电流负载、预充电流负载和额定电流调节负载；
[0005]所述涌入电流负载包括串联的可调电阻R3和电容C1，
[0006]所述预充电流负载包括串联的可调电阻R2和开关S4，通过控制所述开关S4的合分控制所述预充电流负载是否接入试验回路；
[0007]所述额定电流负载包括串联的负载X1和开关S3，通过控制所述开关S3的合分控制所述额定电流负载是否接入试验回路；
[0008]所述导引单元包括二极管VD1、电阻R1和开关S2，所述二极管VD1和电阻R1串联后与开关S2并联接在试品IC
‑
CPD导引线和PE出线端之间，通过控制所述开关S2的合分控制试品IC
‑
CPD的合分；
[0009]所述测控系统用于控制所述开关S2、开关S3和开关S4的合分以及试验回路电流的波形采集。
[0010]优选地，所述供电系统包括电压源和主回路控制开关S1，所述电压源通过主回路控制开关S1接入试品IC
‑
CPD的进线端。
[0011]优选地，所述电压源的输出电压可调，调节范围为交流220V～250V。
[0012]优选地，所述主回路控制开关S1采用电子式选相开关控制主回路的合分，通过设置选相合闸角度合闸或设置随机角度进行电子式选相开关的合闸，电子式选相开关分闸为过零分闸。
[0013]优选地，所述负载X1包括串联的电阻R4和电感L，所述电阻R4为可调电阻，电感L为空心可调电感。
[0014]优选地，所述测控系统包括用于控制试验流程的工控机、用于采集试验回路电流
的电流传感器CT1、用于控制所述主回路控制开关S1、开关S2、开关S3和开关S4合分的数字量输出板卡以及用于采集电流传感器CT1输出波形的模拟量采集板卡。
[0015]优选地，所述电容C1选择30μF/1000V，可调电阻R3的调节范围为1～1.55Ω，细度0.05Ω。
[0016]优选地，所述负载X1的阻抗调节细度4％，功率因数调节细度不大于
±
0.04。
[0017]优选地，在所述预充电流负载不接入试验回路的前提下，所述额定电流调节负载在供电系统供电情况下使试验回路电流为试品IC
‑
CPD的额定电流。
[0018]优选地，在所述预充电流负载和额定电流调节负载不接入试验装置前提下，所述涌入电流负载在主回路控制开关S1合闸角度为90
°
时，能使试验回路电流峰值为200A
±
10A,电流上升时间最大值为20us；在额定电流调节负载接入试验装置前提下，预充电流负载在供电系统供电情况下使试验回路电流为30A。
[0019]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0020]本技术提供的IC
‑
CPD电气寿命试验装置用于IC
‑
CPD电气寿命试验，通过对涌入电流负载、预充电流负载、额定电流调节负载的调节，可产生符合标准要求的试验电流，满足试验标准要求，无需在现有传统电气寿命装置上临时接线，从而提高了试验效率及试验可靠性，且改善了试验场地的美观与安全。
附图说明
[0021]图1为本技术一种IC
‑
CPD电气寿命试验装置的原理框图。
具体实施方式
[0022]为使本技术更明显易懂，兹以优选实施例，并配合附图作详细说明如下。
[0023]如图1所示，本技术一种IC
‑
CPD电气寿命试验装置包括电压源101、主回路控制开关S1、涌入电流负载(由电阻R3和电容C1组成)、预充电流负载(由电阻R2和开关S4组成)、额定电流调节负载(由负载X1和开关S3组成)、导引单元(由二极管VD1、电阻R1和开关S2组成)和测控系统102。其中：电压源101与主回路控制开关S1构成试验装置的供电系统，接入试品IC
‑
CPD的进线端，电压源101输出电压可调，调节范围为交流220V～250V。主回路控制开关S1采用电子式选相开关控制主回路的合分，电子式选相开关由晶闸管和选相控制器组成，可通过设置选相合闸角度合闸，也可设置随机角度进行合闸，选相开关分闸为过零分闸。开关S2、开关S3和开关S4选用交流接触器。涌入电流负载、预充电流负载和额定电流调节负载三套负载并联接入试品IC
‑
CPD的出线端，导引单元接在IC
‑
CPD导引线与PE出线端之间。测控系统102用于控制试验装置中主回路控制开关S1、开关S2、开关S3和开关S4的合分控制以及试验回路电流103波形采集。
[0024]涌入电流负载由电阻R3和电容C1串联构成，在预充电流负载和额定电流调节负载不接入(即开关S3和开关S4断开)试验装置前提下，涌入电流负载在主回路控制开关S1合闸角度为90
°
时，能使试验回路电流103峰值为200A
±
10A，电流上升时间最大值为20us。电流达到峰值后，在30us～50us内下降到66A
±
3A。涌入电流负载中的电容C1选择30μF/1000V，电阻R3为可调电阻，调节范围1～1.55Ω，细度0.05Ω，采用转换刀手动切换，以满足主回路电压在交流220V～250V范围内的试验需求。
[0025]额定电流调节负载由电阻R4与电感L串联为负载X1以及开关S3串联构成，由开关S3控制负载X1是否接入，在预充电流负载不接入(即开关S4断开)试验装置前提下，额定电流调节负载在主回路电源供电情况下使试验回路电流103为试品IC
‑
CPD额定电流。额定电流调节负载中的电阻值与电感值均可调，阻抗调节细度4％，功率因数调节细度不大于<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种IC
‑
CPD电气寿命试验装置，其特征在于：包括测控系统(102)、与试品IC
‑
CPD的进线端连接的供电系统、接在试品IC
‑
CPD导引线和PE出线端之间的导引单元，以及与试品IC
‑
CPD的出线端并联的涌入电流负载、预充电流负载和额定电流调节负载；所述涌入电流负载包括串联的可调电阻R3和电容C1，所述预充电流负载包括串联的可调电阻R2和开关S4，通过控制所述开关S4的合分控制所述预充电流负载是否接入试验回路；所述额定电流负载包括串联的负载X1和开关S3，通过控制所述开关S3的合分控制所述额定电流负载是否接入试验回路；所述导引单元包括二极管VD1、电阻R1和开关S2，所述二极管VD1和电阻R1串联后与开关S2并联接在试品IC
‑
CPD导引线和PE出线端之间，通过控制所述开关S2的合分控制试品IC
‑
CPD的合分；所述测控系统(102)用于控制所述开关S2、开关S3和开关S4的合分以及试验回路电流(103)的波形采集。2.如权利要求1所述的一种IC
‑
CPD电气寿命试验装置，其特征在于：所述供电系统包括电压源(101)和主回路控制开关S1，所述电压源(101)通过主回路控制开关S1接入试品IC
‑
CPD的进线端。3.如权利要求2所述的一种IC
‑
CPD电气寿命试验装置，其特征在于：所述电压源(101)的输出电压可调，调节范围为交流220V～250V。4.如权利要求2所述的一种IC
‑
CPD电气寿命试验装置，其特征在于：所述主回路控制开关S1采用电子式选相开关控制主回路的合分，通过设置选相合闸角度合闸或设置随机角度进行电子式选相开关的合闸，电子式选相开关分闸为过零分...

【专利技术属性】
技术研发人员：毛家稳，江薇，杨世江，杜文，安平，
申请(专利权)人：上海电科智能装备科技有限公司，
类型：新型
国别省市：