本申请涉及一种芯片测试机的进料装置，包括设置于小圆盘芯片测试机一侧的机架，机架上设置有振料盘以及传料轨道，传料轨道位于振料盘与测试机构之间，机架上设置有用于振动传料轨道针振动的振动电机，传料轨道上设置有第一导向凸条与第二导向凸条，第二导向凸条连接于第一导向凸条的一侧，第二导向凸条位于振料盘的下方，第一导向凸条的一侧表面设置有导向槽，第一导向凸条靠近测试机构的一端时候设置有供芯片放置的定位槽，导向槽的一端与定位槽连通。本申请具有便于芯片进料，提高工作人员工作效率的效果。工作效率的效果。工作效率的效果。
【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试机的进料装置
[0001]本申请涉及芯片测试的领域，尤其是涉及一种芯片测试机的进料装置。
技术介绍
[0002]随着科技的进步以及智能化的快速推广，芯片已经成为现代工业中必不可少的高科技产品，芯片在加工完成后或者出厂之前一般需要进行检测，从而测试芯片是否满足使用要求，一般会使用小圆盘芯片测试机进行检测。
[0003]一般来说，小圆盘芯片测试机包括机座、测试机构以及取料机构，测试机构与取料机构安装于机座上，测试机构用于检测芯片的阻值，测试机构为电阻测试仪，测试机构上安装有探针，通过探针接触芯片以对芯片测试，取料机构用于取料芯片，以对芯片进行取料。
[0004]针对上述中的相关技术，专利技术人认为每次工作人员都需要人工一块块芯片放置在测试机构的探针的下方，然后测试机构的探针对芯片进行测试，如此进料方式增加了工作人员的劳动负担，降低了工作人员的工作效率。
技术实现思路
[0005]为了提高工作人员的工作效率，本申请提供一种芯片测试机的进料装置。
[0006]本申请提供的一种芯片测试机的进料装置，采用如下的技术方案：
[0007]一种芯片测试机的进料装置，包括设置于小圆盘芯片测试机一侧的机架，所述机架上设置有振料盘以及传料轨道，所述传料轨道位于所述振料盘与测试机构之间，所述机架上设置有用于振动传料轨道针振动的振动电机，所述传料轨道上设置有第一导向凸条与第二导向凸条，所述第二导向凸条连接于所述第一导向凸条的一侧，所述第二导向凸条位于所述振料盘的下方，所述第一导向凸条的一侧表面设置有导向槽，所述第一导向凸条靠近测试机构的一端时候设置有供芯片放置的定位槽，所述导向槽的一端与所述定位槽连通。
[0008]通过采用上述技术方案，在机架上增设振料盘与传料轨道，在传料轨道上增设第一导向凸条与第二导向凸条，第一导向凸条的一侧表面设置有导向槽，振料盘振动将芯片掉落至第二导向凸条上，在振动电机的作用下对传料轨道进行振动，芯片在第二导向凸条上不断向前振动移动，芯片会进入导向槽中并在导向槽中向前移动，直至芯片移动并掉落至定位槽中，相比于人工进料的方式，该装置具有便于芯片进料的优点，提高芯片进料效率，测试机构的探针就可以对芯片进行探测。
[0009]可选的，所述导向槽自远离第一导向凸条的一端沿导向槽的宽度方向向下倾斜设置。
[0010]通过采用上述技术方案，导向槽呈倾斜设置对在导向槽振动传输的芯片起到了限位作用，使芯片在振动传输的过程中不易从导向槽中掉落。
[0011]可选的，所述第二导向凸条远离所述振料盘的一端设置有导向面，所述导向面呈倾斜设置。
[0012]通过采用上述技术方案，导向面的设置对芯片起到导向作用，使未进行导向槽中的芯片快速滑移至传料轨道中收集。
[0013]可选的，所述传料轨道远离测试机构的一端设置有用于供所述进料轨道放置的限位槽。
[0014]通过采用上述技术方案，限位槽的设置对进料轨道起到了限位作用，使进料轨道快速对对准第二导向凸条并安装于第二导向凸条上，以便于芯片下料。
[0015]可选的，装置还包括回收机构，所述回收机构包括回收轨道，，所述回收轨道设置于机架上，所述回收轨道的一端位于传料轨道靠近测试机构下方，所述振料盘的一侧壁设置有回收口，所述回收轨道的另一端贯穿回收口伸入所述振料盘内。
[0016]通过采用上述技术方案，利用增设回收轨道对不能进入导向槽中的多余芯片并回收至振料盘，如此工作人员就不需要人工回收芯片，减轻了工作人员的工作负担，提高工作效率。
[0017]可选的，所述回收轨道的一端连接有限位板。
[0018]通过采用上述技术方案，限位板的设置对芯片起到了限位作用，使芯片在回收的过程中不易从回收轨道中掉落。
[0019]可选的，所述第一导向凸条上设置有若干根螺栓，所述第一导向凸条上的设置有多个通孔，所述传料轨道上设置有与若干个所述螺栓对应的螺纹孔，所述螺栓贯穿所述通孔且与对应的所述螺纹孔螺纹连接。
[0020]通过采用上述技术方案，螺栓贯穿通孔且与对应的螺纹孔螺纹连接，能够便于第一导向凸条的安装和拆卸，以便于后续对传料轨道清扫。
[0021]可选的，所述定位槽槽底设置有供探针容置的避让槽。
[0022]通过采用上述技术方案，避让槽的时候能够为测试机构的探针提供了足够的空间操作，以便于探针对芯片进行测试。
[0023]综上所述，本申请包括以下至少一种有益技术效果：
[0024]1.在机架上增设振料盘与传料轨道，在传料轨道上增设第一导向凸条与第二导向凸条，第一导向凸条的一侧表面设置有导向槽，振料盘振动将芯片掉落至第二导向凸条上，芯片在第二导向凸条上不断向前振动移动，芯片会进入导向槽中并在导向槽中向前移动，由此便于芯片进料，提高工作效率；
[0025]2.导向槽呈倾斜设置对在导向槽振动传输的芯片起到了限位作用，使芯片在振动传输的过程中不易从导向槽中掉落；
[0026]3.利用增设回收轨道对不能进入导向槽中的多余芯片并回收至振料盘，如此工作人员就不需要人工回收芯片。
附图说明
[0027]图1是本申请实施例应用于测试机上的结构示意图；
[0028]图2是本申请实施例的整体结构示意图；
[0029]图3是本申请实施例的第一导向凸条与传料轨道之间的装配关系示意图。
[0030]附图标记说明：1、机架；101、定位杆；102、底板；2、振料盘；3、传料轨道；4、进料轨道；5、振动电机；6、第一导向凸条；7、第二导向凸条；8、导向槽；9、定位槽；10、限位槽；11、回
收轨道；12、支撑杆；13、回收口；14、限位板；15、螺栓；16、通孔；17、螺纹孔；18、测试机本体、181、测试机构；182、取料机构；183、机座；19、避让槽。
具体实施方式
[0031]以下结合附图1
‑
3对本申请作进一步详细说明。
[0032]本申请实施例公开一种芯片测试机的进料装置。
[0033]参照图1和图2，一种芯片测试机的进料装置，包括安装于小圆盘芯片测试机一侧的机架1，机架1安装于测试机本体18的机座183上，机架1包括四根定位杆101以及底板102，且四根定位杆101均匀位于底板102的四个端角。底板102上安装有振料盘2以及传料轨道3，传料轨道3位于测试机本体18的取料机构182与测试机构181之间，传料轨道3与底板102之间通过多根成竖直设置的支撑杆12焊接固定。同时，振料盘2位于传料轨道3远离测试机构181或取料机构182的一端，振料盘2的一端连通有进料轨道4，且进料轨道4延伸至传料轨道3上。此外，传料轨道3的底部安装有用于振动传料轨道3振动的振动电机5，工作人员可驱动振动电机5就能使传料轨道3振动，振料盘2振动经进料轨道4掉落至传料轨道3中。
[0034]参照图2和图3，传料轨道3上设置有第一导向凸条6与第二导向凸条7，在本实施例中，第一导向凸条6呈长本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种芯片测试机的进料装置，包括设置于小圆盘芯片测试机一侧的机架(1)，其特征在于：所述机架(1)上设置有振料盘(2)以及传料轨道(3)，所述传料轨道(3)位于所述振料盘(2)与测试机构(181)之间，所述振料盘(2)上连通有进料轨道(4)，所述进料轨道(4)位于所述传料轨道(3)的上方，所述机架(1)上设置有用于振动传料轨道(3)振动的振动电机(5)，所述传料轨道(3)上设置有第一导向凸条(6)与第二导向凸条(7)，所述第二导向凸条(7)连接于所述第一导向凸条(6)的一侧，所述第二导向凸条(7)位于所述振料盘(2)的下方，所述第一导向凸条(6)的一侧表面设置有导向槽(8)，所述第一导向凸条(6)靠近测试机构(181)的一端时候设置有供芯片放置的定位槽(9)，所述导向槽(8)的一端与所述定位槽(9)连通。2.根据权利要求1所述的一种芯片测试机的进料装置，其特征在于：所述导向槽(8)自远离第一导向凸条(6)的一端沿导向槽(8)的宽度方向向下倾斜设置。3.根据权利要求1所述的一种芯片测试机的进料装置，其特征在于：所述第二导向凸条(7)远离所述振料盘(2)的一端设置有导向面，所述导向面呈倾斜设置。4.根据权利要求1所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：叶珂，
申请(专利权)人：东莞市科蓬达电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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