【技术实现步骤摘要】
阵列基板及其制备方法
[0001]本专利技术涉及显示设备领域,特别是一种阵列基板及其制备方法。
技术介绍
[0002]顶栅(Top
‑
Gate)结构的Oxide TFT(金属氧化物薄膜晶体管)技术中,为了降低沟道以外区域的电阻,往往采用自对准(self
‑
aligned)刻蚀工艺,即通过1道Photo制程同时定义栅极图案以及刻蚀栅极绝缘层以及非沟道区域的导体化,这样可以有效避免对位偏差导致的沟道两侧高阻区域的形成。
[0003]但是,沟道两侧导体化效果的扩散会使得沟道两端存在低阻区域,从而减少了有效沟道长度,导致有效沟道的实际长度比预期长度小。并且,对于设有金属遮光层的TFT器件中,有效沟道长度往往会更短。而在缩小TFT器件的尺寸时,往往需要制作短沟道器件,有效沟道实际长度的减小则会严重影响短沟道器件的制作,从而影响小尺寸TFT器件的制备。
技术实现思路
[0004]专利技术的目的是提供一种阵列基板及其制备方法,以解决现有技术中由于导体化是等离子体的扩散而导致的有效 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种阵列基板,其特征在于,包括:遮光层;有源层,绝缘设置于所述遮光层上;栅极绝缘层,设于有源层远离所述缓冲层的一表面上;栅极层,设于所述栅极绝缘层远离所述有源层的一表面上;第一电极层和第二电极层,均绝缘设置于所述栅极层上,并与所述有源层电连接;其中所述栅极绝缘层包括:主体部,对应于所述栅极层;第一延伸部和第二延伸部,分别设于所述主体部的两侧;所述遮光层在所述栅极绝缘层上的正投影的一侧位于所述第一延伸部上。2.如权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述遮光层靠近所述第一电极层的一侧与所述栅极层靠近所述第一电极层的一侧之间的水平距离小于1.5微米。3.如权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述第一电极层为漏极层,所述第二电极层为源极层。4.如权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述遮光层靠近所述第一延伸部的一侧面与所述遮光层的底面之间具有一坡度角,所述坡度角为锐角。5.如权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述有源层包括:沟道部,与所述栅极层对应设置;第一导体部,设于所述沟道部靠近所述第一电极层的一侧,并与所述第一电极部电连接;第二导体部,设于所述沟道部靠近所述第二电极层的一侧,并与所述第二导体部电连接;第一扩散部,设于所述第一导体部和所述沟道部之间,并且所述第一延伸部覆盖在所述第一扩散部上;第二扩散部,设于所述第二导体部和所述沟道部之间,...
【专利技术属性】
技术研发人员:卓毅,
申请(专利权)人:深圳市华星光电半导体显示技术有限公司,
类型:发明
国别省市:
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