弹片探针和弹片探针模组制造技术

本实用新型专利技术实施例公开了一种弹片探针和一种弹片探针模组，其中弹片探针包括弹性中部以及连接弹性中部相对两端的第一导电部和第二导电部，第一导电部包括第一测试接触面和连接第一测试接触面相对两边的第一加厚面和第二加厚面，第二导电部包括：第二测试接触面和连接第二测试接触面相对两边的第一探针面和第二探针面，第一加厚面与第二加厚面之间的第一间距大于第一探针面与第二探针面之间的第二间距，且弹性中部的厚度与第二间距相同。本实用新型专利技术可以提高测试的一次性准确率的同时增加与被测产品的接触面及提高弹片探针的使用寿命。用寿命。用寿命。

【技术实现步骤摘要】
弹片探针和弹片探针模组


[0001]本技术涉及测试装置领域，特别涉及一种弹片探针和一种弹片探针模组。

技术介绍

[0002]随着现代社会的快速发展，人们对电子产品的质量要求越来越高，随之对电子产品进行检测的测试设备的要求也越来越高，目前在微小间距BTB连接器导通测试中，测试设备通过探针作为连接件与被测产品进行连接，且Blade Pin(片状针)正逐渐替代Pogo Pin(圆柱形针)被广泛应用。
[0003]然而现有相关技术中的片状针常常存在寿命短、和/或测试准确率低等问题。因此，提供一种寿命长且测试准确率高的探针是本技术亟待解决的问题。

技术实现思路

[0004]本技术的主要目的是针对现有技术的缺陷和不足，提供一种弹片探针及一种弹片探针模组，能够增加与待测连接器的接触面，提高测试一次性准确率及使用寿命。
[0005]具体地，本技术的一个实施例公开一种弹片探针，包括：弹性中部、连接所述弹性中部的一端的第一导电部和连接所述弹性中部远离所述第一导电部的另一端的第二导电部。所述第一导电部，包括：第一测试接触面、第一加厚面和第二加厚面，所述第一测试接触面位于所述第一导电部远离所述弹性中部的一侧，用于连接待测连接器，所述第一加厚面连接所述第一测试接触面的一边，所述第二加厚面连接所述第一测试接触面的另一边，且与所述第一加厚面相对。所述第二导电部，包括：第二测试接触面、第一探针面和第二探针面，所述第二测试接触面位于所述第二导电部远离所述弹性中部的一侧，用于连接转接电路板，所述第一探针面连接所述第二测试接触面的一边，所述第二探针面，连接所述第二测试接触面的另一边，且与所述第一探针面相对。
[0006]其中，所述第一加厚面与所述第二加厚面之间的第一间距大于所述第一探针面与所述第二探针面之间的第二间距，且所述弹性中部的厚度与所述第二间距相同，以使所述第一导电部的所述第一测试接触面与所述待测连接器充分接触以提高测试的一次性准确率的同时提高所述弹片探针的使用寿命。
[0007]本技术的一个实施例中，所述弹性中部、所述第一导电部和所述第二导电部为一体结构。
[0008]本技术的一个实施例中还公开了一种弹片探针模组，包括：浮板、底板、连接所述浮板和所述底板的连接组件和探针组件。其中，所述浮板设置有多个弹片探针限位孔；所述底板与所述浮板对应设置，且在远离所述浮板的一侧设置多个弹片探针限位槽；所述探针组件包括前述任意一种弹片探针。
[0009]其中，每个所述弹片探针的所述第一导电部通过对应的所述弹片探针限位孔连接所述待测连接器，以及每个所述弹片探针的所述第二导电部通过所述弹片探针限位槽连接所述转接电路板。
[0010]本技术的一个实施例中，所述连接组件包括弹性连接件和可调导向限位连接件。
[0011]其中，所述弹性连接件连接所述浮板和所述底板，以实现所述浮板相对于所述底板沿所述弹性连接件的弹力方向平移；
[0012]其中，所述可调导向限位连接件连接所述浮板和所述底板且限制所述浮板相对所述底板的平移距离。
[0013]本技术的一个实施例中，所述探针组件还包括多个隔片，其中每相邻两个所述弹片探针之间设置有至少一个所述隔片，所述底板远离所述浮板的一侧设置有用于容纳所述弹片探针和所述隔片的容置内腔，所述容置内腔内壁的相对两侧设置有多个隔片卡槽，其中每个所述隔片与对应的所述隔片卡槽卡接。
[0014]本技术的一个实施例中，多个所述弹片探针之间中每相邻两个所述弹片探针之间设置有一个所述隔片，每相邻两个所述弹片探针之间的间距不大于0.35mm。
[0015]本技术的一个实施例中，所述连接组件还包括安装板连接件和装配柱销，所述底板包括底板主体和位于所述底板远离所述浮板一侧的可拆卸安装板。
[0016]其中，所述安装板连接件连接所述底板主体与所述可拆卸安装板，使得所述可拆卸安装板与所述底板主体可分离以方便更换所述探针组件；
[0017]其中，所述装配柱销贯穿所述浮板、所述底板主体和所述可拆卸安装板,且所述装配柱销从所述可拆卸安装板中伸出，以使所述第二导电部精准定位到所述转接电路板上。
[0018]本技术的一个实施例中，所述浮板远离所述底板的一侧设置有多个定位突出部，所述定位突出部对称分布在所述弹片探针限位孔的四周，以限制所述待测连接器的插入位置。
[0019]上述技术方案具有如下优点或有益效果：
[0020]通过增加所述弹片探针的所述第一导电部的厚度，使得第一导电部与待测连接器的接触面增大，大大提高了导通测试的一次性准确率，且提高了所述弹片探针的使用寿命。采用所述弹片探针的弹片探针模组具有前述所述弹片探针的优点，且所述弹片探针模组中的弹片探针的数量以及间距可以根据实际需要进行调节，广泛适用于多种数量或中心距不同的待测连接器，提高了弹片探针模组的通用性，节省制作成本且提高使用寿命，此外所述弹片探针模组体积小、装配精度高且组装、拆卸简便。
附图说明
[0021]为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0022]图1a为本技术的一个实施例涉及的一种弹片探针的结构示意图；
[0023]图1b为本技术的一个实施例涉及的一种弹片探针与现有相关技术中涉及的常规探针的一种结构对比图；
[0024]图1c为本技术的一个实施例涉及的一种弹片探针与现有相关技术涉及的常规探针的另一种结构对比图；
[0025]图2为本技术的一个实施例涉及的一种弹片探针模组的整体结构示意图；
[0026]图3为图2所示的一种弹片探针模组的结构分解示意图；
[0027]图4为图2所示的一种弹片探针模组中部分结构分解示意图；
[0028]图5为图4所示的部分结构中A部位结构的局部放大图；
[0029]图6为本技术涉及的一种弹片探针模组中弹片探针和过电流探针的结构示意图。
具体实施方式
[0030]以下结合附图和具体实施，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0031]需要说明，本技术实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后
……
)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
[0032]在本技术的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种弹片探针，其特征在于,包括：弹性中部(110)；第一导电部(120)，连接所述弹性中部(110)的一端，包括：第一测试接触面(121)，位于所述第一导电部(120)远离所述弹性中部(110)的一侧，用于连接待测连接器；第一加厚面(122)，连接所述第一测试接触面(121)的一边；第二加厚面(123)，连接所述第一测试接触面(121)的另一边，且与所述第一加厚面(122)相对；第二导电部(130)，连接所述弹性中部(110)远离所述第一导电部(120)的另一端，包括：第二测试接触面(131)，位于所述第二导电部(130)远离所述弹性中部(110)的一侧，用于连接转接电路板；第一探针面(132)，连接所述第二测试接触面(131)的一边；第二探针面(133)，连接所述第二测试接触面(131)的另一边，且与所述第一探针面(132)相对；其中，所述第一加厚面(122)与所述第二加厚面(123)之间的第一间距(d1)大于所述第一探针面(132)与所述第二探针面(133)之间的第二间距(d2)，且所述弹性中部(110)的厚度与所述第二间距(d2)相同。2.根据权利要求1所述的弹片探针，其特征在于，所述弹性中部(110)、所述第一导电部(120)和所述第二导电部(130)为一体结构。3.一种弹片探针模组，其特征在于，包括：浮板(210)，设置有多个弹片探针限位孔(211)；底板(220)，与所述浮板(210)对应设置，且在远离所述浮板(210)的一侧设置多个弹片探针限位槽(2221)；连接组件(230)，连接所述浮板(210)和所述底板(220)；探针组件(240)，包括：多个权利要求1
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2中任意一项所述的弹片探针；其中，每个所述弹片探针的所述第一导电部(120)通过对应的所述弹片探针限位孔(211)连接所述待测连接器，以及每个所述弹片探针的所述第二导电部(130)通过所述弹片探针限位槽(2221)连接所述转接电路板。4.根据权利要求3所述的弹片探针模组，其特征在于，所述连接组件(230)包括弹性连接件(231)和可调导向限位连接件(232)；...

【专利技术属性】
技术研发人员：段超毅，陈家锋，蒋伟，
申请(专利权)人：深圳凯智通微电子技术有限公司，
类型：新型
国别省市：