一种基于芯片的自动测试印字定量收料装置制造方法及图纸

技术编号:31116933 阅读:15 留言:0更新日期:2021-12-01 19:52
本实用新型专利技术提供一种基于芯片的自动测试印字定量收料装置,包括,传输装置本体;收料装置,所述收料装置设置于所述传输装置本体的左侧,所述收料装置包括基板,所述基板上转动连接有转动箱,所述转动箱的内部滑动连接有第一支撑板,所述第一支撑板上固定连接有第一弹簧,本实用新型专利技术提供的基于芯片的自动测试印字定量收料装置具有第一支撑板向上移动会使第一弹簧受力收缩,从而加大第一弹簧向上推力,从而可以增加收料箱对QGN芯片的收集,此收集装置结构简单,可以通过调节第一弹簧不同弹性,从而调节收料箱对QFN芯片收集的量,并且在收集特定的量以后,转动箱会旋转,从而使转动箱带动另一个收料箱继续收料。箱带动另一个收料箱继续收料。箱带动另一个收料箱继续收料。

【技术实现步骤摘要】
一种基于芯片的自动测试印字定量收料装置


[0001]本技术涉及物料的定量收集领域,尤其涉及一种基于芯片的自动测试印字定量收料装置。

技术介绍

[0002]QFN(QuadFlatNo

leadPackage,方形扁平无引脚封装),表面贴装型封装之一,现在多称为LCC,QFN是日本电子机械工业会规定的名称,封装四侧配置有电极触点,由于无引脚,贴装占有面积比QFP小,高度比QFP低,QFN芯片制品生产工艺复杂、生产设备昂贵、测试参数多,收料模式多。
[0003]现有的QFN芯片印字收料设备需要对QFN芯片进行印字,从而方便识别QFN芯片的大小以及名称等,而现有的QFN芯片印字收料设备不具有对印字后的QFN芯片定量收集功能,而是通过人工对印字后的QFN芯片进行定量收集,人工收集QFN芯片速度慢,并且QFN芯片较小,容易发生定量不等。
[0004]因此,有必要提供一种基于芯片的自动测试印字定量收料装置解决上述技术问题。

技术实现思路

[0005]本技术提供一种基于芯片的自动测试印字定量收料装置,解决了QFN芯片印字收料设备不具有对印字后的QFN芯片定量收集功能的问题。
[0006]为解决上述技术问题,本技术提供的基于芯片的自动测试印字定量收料装置,包括:传输装置本体;收料装置,所述收料装置设置于所述传输装置本体的左侧,所述收料装置包括基板,所述基板上转动连接有转动箱,所述转动箱的内部滑动连接有第一支撑板,所述第一支撑板上固定连接有第一弹簧,所述第一弹簧的顶部固定连接有第二支撑板,所述支撑板的顶部设置收料壳,所述转动箱的内部开设有第一滑动槽,所述第一滑动槽的内部滑动连接有滑动块;调节装置,所述调节装置固定于所述第一支撑板上;触发装置,所述触发装置固定于所述转动箱的内部,所述触发装置包括固定壳,所述固定壳的内部滑动连接有第二滑动杆,所述第二滑动杆的表面固定连接有第三限位盘,并且第二滑动杆的顶部固定连接有推动板,所述第二支撑板的底部固定连接有推动杆,所述固定壳的顶部固定连接有触发开关,所述第二滑动杆的表面套接有第四弹簧;转动装置,所述转动装置设置于所述转动箱的右侧,所述转动装置包括固定架,所述固定架的顶部固定连接有固定板,所述固定板上转动连接有转动杆,所述转动杆上固定连接有第一齿轮,所述固定板上固定连接有步进电机,所述步进电机的输出端固定连接有第二齿轮。
[0007]优选的,所述调节装置包括滑动杆,所述滑动杆的表面固定连接有第一限位盘,所述滑动杆的表面套接有第二弹簧,所述滑动杆的一端固定连接有第二限位盘,所述第一限位盘上固定连接有两个限位杆,两个所述限位杆的一端固定连接有连接板,所述连接板的一端固定连接有握杆,所述转动箱上开设有多个限位槽。
[0008]优选的,多个限位槽均匀分布在所述转动箱上,并且多个限位槽与两个所述限位杆的一端相适配。
[0009]优选的,两个所述限位杆对称分布在所述第一限位盘的底部和顶部,所述第二弹簧位于所述第一限位盘和所述第二限位盘之间。
[0010]优选的,所述转动箱上开设有第二滑动槽,所述滑动杆在所述第二滑动槽的内部,并且滑动杆的表面与所述第二滑动槽的内表面滑动连接。
[0011]优选的,所述基板上共设置有两个转动箱,两个所述转动箱上的结构相同。
[0012]优选的,所述转动杆的底端与所述两个转动箱的中部固定连接,所述第一齿轮与所述第二齿轮啮合。
[0013]与相关技术相比较,本技术提供的基于芯片的自动测试印字定量收料装置具有如下有益效果:
[0014]本技术提供一种基于芯片的自动测试印字定量收料装置,QFN芯片慢慢的增加会使收料箱慢慢向下移动,收料箱向下移动会带动第二支撑板向下移动,推动板向下移动会使推动板与触发开关接触,从而使触发开关控制外接电源的步进电机的输出端旋转,步进电机输出端旋转会带动第二齿轮旋转,转动杆旋转会带动转动箱旋转,从而由另一个转动箱对传输装置本体传输的QGN芯片进行收集,第一支撑板向上移动会使第一弹簧受力收缩,从而加大第一弹簧向上推力,从而可以增加收料箱对QGN芯片的收集,此收集装置结构简单,可以通过调节第一弹簧不同弹性,从而调节收料箱对QFN芯片收集的量,并且在收集特定的量以后,转动箱会旋转,从而使转动箱带动另一个收料箱继续收料。
附图说明
[0015]图1为本技术提供的基于芯片的自动测试印字定量收料装置的一种较佳实施例的结构示意图;
[0016]图2为图1所示的转动箱的侧视图;
[0017]图3为图1所示的A部放大示意图;
[0018]图4为图1所示的B部放大示意图;
[0019]图5为图1所示的C部放大示意图;
[0020]图6为图1所示的D部放大示意图。
[0021]图中标号:1、传输装置本体,2、收料装置,21、基板,22、转动箱,23、第一支撑板,24、第一弹簧,25、第二支撑板,26、收料箱,27、第一滑动槽,28、滑动块,3、调节装置,31、滑动杆,32、第一限位盘,33、第二弹簧,34、第二限位盘,35、限位杆,36、连接板,37、握杆,38、限位槽,4、触发装置,41、固定壳,42、第二滑动杆,43、第三限位盘,44、推动板,45、推动杆,46、触发开关,47、第三弹簧,5、转动装置,51、固定架,52、固定板,53、转动杆,54、第一齿轮,55、步进电机,56、第二齿轮。
具体实施方式
[0022]下面结合附图和实施方式对本技术作进一步说明。
[0023]请结合参阅图1、图2、图3、图4、图5和图6,其中,图1为本技术提供的基于芯片的自动测试印字定量收料装置的一种较佳实施例的结构示意图;图2为图1所示的转动箱的
侧视图;图3为图1所示的A部放大示意图;图4为图1所示的B部放大示意图;图5为图1所示的C部放大示意图;图6为图1所示的D部放大示意图。一种基于芯片的自动测试印字定量收料装置包括:传输装置本体1;收料装置2,所述收料装置2设置于所述传输装置本体1的左侧,所述收料装置2包括基板21,所述基板21上转动连接有转动箱22,所述转动箱22的内部滑动连接有第一支撑板23,所述第一支撑板23上固定连接有第一弹簧24,所述第一弹簧24的顶部固定连接有第二支撑板25,所述支撑板25的顶部设置收料壳26,所述转动箱22的内部开设有第一滑动槽27,所述第一滑动槽27的内部滑动连接有滑动块28;调节装置3,所述调节装置3固定于所述第一支撑板23上;触发装置4,所述触发装置4固定于所述转动箱22的内部,所述触发装置4包括固定壳41,所述固定壳41的内部滑动连接有第二滑动杆42,所述第二滑动杆42的表面固定连接有第三限位盘43,并且第二滑动杆42的顶部固定连接有推动板44,所述第二支撑板25的底部固定连接有推动杆45,所述固定壳41的顶部固定连接有触发开关46,所述第二滑动杆42的表面套接有第四弹簧47;转动装置5,所述转动装置设置于所述转动箱22的右侧,本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于芯片的自动测试印字定量收料装置,其特征在于,包括:传输装置本体;收料装置,所述收料装置设置于所述传输装置本体的左侧,所述收料装置包括基板,所述基板上转动连接有转动箱,所述转动箱的内部滑动连接有第一支撑板,所述第一支撑板上固定连接有第一弹簧,所述第一弹簧的顶部固定连接有第二支撑板,所述支撑板的顶部设置收料壳,所述转动箱的内部开设有第一滑动槽,所述第一滑动槽的内部滑动连接有滑动块;调节装置,所述调节装置固定于所述第一支撑板上;触发装置,所述触发装置固定于所述转动箱的内部,所述触发装置包括固定壳,所述固定壳的内部滑动连接有第二滑动杆,所述第二滑动杆的表面固定连接有第三限位盘,并且第二滑动杆的顶部固定连接有推动板,所述第二支撑板的底部固定连接有推动杆,所述固定壳的顶部固定连接有触发开关,所述第二滑动杆的表面套接有第四弹簧;转动装置,所述转动装置设置于所述转动箱的右侧,所述转动装置包括固定架,所述固定架的顶部固定连接有固定板,所述固定板上转动连接有转动杆,所述转动杆上固定连接有第一齿轮,所述固定板上固定连接有步进电机,所述步进电机的输出端固定连接有第二齿轮。2.根据权利要求1所述的基于芯片的自动测试印字定量收料装置,其特征在于,所述调节装置包括...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈力
申请(专利权)人:福建福顺半导体制造有限公司
类型:新型
国别省市:

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