一种箔材延伸率尺寸效应的分析方法技术

本发明专利技术公开了一种箔材延伸率尺寸效应的分析方法，以解决现有方法分析箔材延伸率尺寸效应时出现的误差率高的问题。本发明专利技术的方法包含以下步骤：步骤一：确定箔材的晶体结构类型；步骤二：分析确定集中变形区形成的时间；步骤三：分析确定箔材的主宰变形量；步骤四：根据t/d值确定箔材延伸率的大小。本发明专利技术适应于厚度小于100μm的金属箔材的延伸率尺寸效应的精确分析，指导选取高塑性的箔材，大幅提高大比表面积箔材成形件的成品率。表面积箔材成形件的成品率。表面积箔材成形件的成品率。

【技术实现步骤摘要】
一种箔材延伸率尺寸效应的分析方法


[0001]本专利技术是关于大比表面积类微型零件的先进制造技术，特别是关于一种箔材延伸率尺寸效应的分析方法。

技术介绍

[0002]随着机械装备微型化趋势的加剧，对于微细零件的功能集成化要求越来越高。在众多微细零件制造工艺中，箔材成形工艺因具有生产效率高、材料利用率高等优势而获得了关注，特别适合于燃料电池板、波纹板等大比表面积类微型零件的精密制造。然而，目前利用箔材成形工艺制造大比表面积类零件时废品率较高。主要原因是现有方法在分析箔材延伸率的尺寸效应时误差率较高，导致实际生产时不能利用箔材的最佳塑性状态，严重制约了箔材成形工艺的应用与发展。
[0003]公开于该
技术介绍
部分的信息仅仅旨在增加对本专利技术的总体背景的理解，而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域一般技术人员所公知的现有技术。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种箔材延伸率尺寸效应的分析方法，其能够将晶体结构类型和个体晶粒异质性的影响引入到分析方法中，实现金属箔材延伸率尺寸效应的高精度分析，选本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种箔材延伸率尺寸效应的分析方法，其特征在于，包含以下步骤：步骤一：确定箔材的晶体结构类型；步骤二：分析确定集中变形区形成的时间；步骤三：分析确定箔材的主宰变形量；步骤四：根据t/d值确定箔材延伸率的大小。2.如权利要求1所述的一种箔材延伸率尺寸效应的分析方法，其特征在于，所述步骤一中，箔材的晶体结构类型是密排六方晶格，或面心立方晶格。3.如权利要求1所述的一种箔材延伸率尺寸效应的分析方法，其特征在于，所述步骤二中，密排六方晶格箔材集中变形区形成时...

【专利技术属性】
技术研发人员：马振武，曹自洋，卢金斌，张元晶，
申请(专利权)人：苏州科技大学，
类型：发明
国别省市：