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本发明公开了一种箔材延伸率尺寸效应的分析方法，以解决现有方法分析箔材延伸率尺寸效应时出现的误差率高的问题。本发明的方法包含以下步骤：步骤一：确定箔材的晶体结构类型；步骤二：分析确定集中变形区形成的时间；步骤三：分析确定箔材的主宰变形量；步骤...
该专利属于苏州科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过苏州科技大学授权不得商用。

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