极耳的平面度测量方法及测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种极耳的平面度测量方法及测量装置，方法包括：S1、建立标准3D极耳平面度模型池；S2、获取待测量极耳的型号信息；S3、根据型号信息获取标准3D极耳平面度模型池中与型号信息相对应的标准3D极耳平面度模型；S4、扫描待测量极耳，生成待测量3D极耳平面度模型；S5、将标准3D极耳平面度模型与待测量3D极耳平面度模型重叠，得到待测量3D极耳平面度模型相对于标准3D极耳平面度模型的极耳高度偏离信息；S6、根据极耳高度偏离信息计算得到待测量极耳的平面度。本发明专利技术用于消除极耳平面度的测量精度受到人工操作时，工作台、夹具等器件的影响，并能提升测量效率，满足生产需求。满足生产需求。满足生产需求。

【技术实现步骤摘要】
极耳的平面度测量方法及测量装置


[0001]本专利技术涉及极耳平面度测量领域，尤其涉及一种极耳的平面度测量方法及测量装置。

技术介绍

[0002]聚合物锂离子电芯在制作完成后，还要经过极耳转焊等pack工序，才能制成最终能直接应用的成品电池，聚合物锂电池在制作过程中，有很多充放电过程和电压内阻检验项目，这些都需要通过设备工装接触极耳才能够实现，这些工序不可避免的都会对极耳平面度产生影响。而极耳的平面度对于pack转焊十分重要，当极耳平面度太大的时候，焊接会出现虚焊、焊爆等问题，直接导致电池不良。尤其对于聚合物锂离子电池质量要求比较高的厂家来说，极耳平面度已经成为了电池制作中常规的检验项目。
[0003]现有的极耳平面度测试方法都是利用光学原理进行测量的，光学测量设备有普通光源扫描设备(例如OMM)和激光扫描设备(例如APMT)等，但是这些设备往往都很贵重，一般在数万元到数十万美元，时间长，OMM设备需要数分钟，测试误差大，极耳稍微偏斜或翘起测试数值就会相差很大，很难在生产上应用起来，或是利用数显千分表检测极耳平面度，但这种方法是直接在工本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种极耳的平面度测量方法，其特征在于，包括：S1、建立标准3D极耳平面度模型池；S2、获取待测量极耳的型号信息；S3、根据所述型号信息获取所述标准3D极耳平面度模型池中与所述型号信息相对应的标准3D极耳平面度模型；S4、扫描待测量极耳，生成待测量3D极耳平面度模型；S5、将所述标准3D极耳平面度模型与所述待测量3D极耳平面度模型重叠，得到待测量3D极耳平面度模型相对于标准3D极耳平面度模型的极耳高度偏离信息；S6、根据所述极耳高度偏离信息计算得到待测量极耳的平面度。2.根据权利要求1所述的一种极耳的平面度测量方法，其特征在于，所述建立标准3D极耳平面度模型池，包括：获取预设数量的不同极耳型号的极耳标准参数信息；根据所述预设数量的不同极耳型号的极耳标准参数信息构建预设数量的不同极耳型号的标准3D极耳平面度模型；根据所述预设数量的不同极耳型号的标准3D极耳平面度模型建立标准3D极耳平面度模型池。3.根据权利要求1所述的一种极耳的平面度测量方法，其特征在于，所述获取待测量极耳的型号信息，包括：以预设倾斜角度的光源照射待检测极耳，获取待检测极耳的彩色图像和反光图像；对所述待检测极耳的彩色图像和反光图像进行特征提取，得到所述彩色图像和所述反光图像中的极耳型号特征信息；对所述彩色图像的极耳型号特征信息和所述反光图像的极耳型号特征信息进行校验，得到高精度极耳型号特征信息；根据所述高精度极耳型号特征信息，确定待检测极耳的型号信息。4.根据权利要求1所述的一种极耳的平面度测量方法，其特征在于，所述扫描待测量极耳，生成待测量3D极耳平面度模型，包括：扫描待测量极耳，得到待测量极耳各个方向的待测量图片；根据所述待测量极耳的型号信息获取与所述型号信息对应的标准极耳各个方向的极耳图片；分别获取待测量图片和极耳图片的极耳残缺特征信息，将所述待测量图片的极耳残缺特征信息与所述极耳图片的极耳残缺特征信息进行特征比对，得到比对结果；若所述比对结果为待测量图片存在残缺，获取所述存在残缺的待测量图片，生成由所述存在残缺的待测量图片残缺部分的水平起始点、垂直起始点、水平终止点、垂直终止点组成的补正控制信息；根据所述存在残缺的待测量图片残缺部分的水平起始点以及垂直起始点的一组相邻像素点计算出补正前的第一像素值；根据所述存在残缺的待测量图片残缺部分的水平终止点以及垂直终止点的一组相邻像素点计算出补正前的第二像素值；获取所述第一像素值和所述第二像素值行坐标的第一差值和列坐标的第二差值；
根据所述第一差值、所述第二差值和预设最大误差系数生成第一偏移量；根据所述第一偏移量确定第二倾斜角度；根据所述存在残缺的待测量图像的方向信息以所述第二倾斜角度重新扫描获取待测量极耳中与所述方向信息对应的第二待测量图片；根据所述补正控制信息分别对所述第二待测量图片和所述极耳图片进行裁剪，得到补正待测量图片和补正极耳图片；分别获取补正待测量图片和补正极耳图片的极耳残缺特征信息，将所述补正待测量图片的极耳残缺特征信息与所述补正极耳图片的极耳残缺特征信息进行特征比对，得到第二比对结果；若所述第二比对结果为补正待测量图片不存在残缺；根据所述补正待测量图片对所述存在残缺的待测量图片进行补正，得到补正图片；根据所述补正图片和剩余比对结果为待测量图片不存在残缺的待测量图片生成待测量3D极耳平面度模型。5.根据权利要求3所述的一种极耳的平面度测量方法，其特征在于，所述对所述彩色图像的极耳型号特征信息和所述反光图像的极耳型号特征信息进行校验，得到高精度极耳型号特征信息，包括：根据所述彩色图像的极耳型号特征信息，确定第一极耳型号；获取预设天数内所述第一极耳型号出现的第一概率；根据所述第一概率，计算得到第一极耳型号对应的彩色置信度；其中，所述彩色置信度反映所述彩色图像的极耳型号特征信息确定的第一极耳型号的精度；根据所述反光图像的极耳型号特征信息，确定第二极耳型号；获取预设天数内所述第二极耳型号出现的第二概率；根据所述第二概率，计算得到第二极耳型号对应的反光置信度；其中，所述反光置信度反映所述反光图像的极耳型号特征信息确定的第二极耳型号的精度；判断所述第一极耳型号与所述第二极耳型号是否相同；若相同，输出所述彩色图像的极耳型号特征信息、所述反光图像的极耳型号特征信息其中任一项作为高精度极耳型号特征信息；若不相同，判断所述彩色置信度是否小于所述反光置信度；若所述彩色置信度小于所述反光置信度，将所述反光图像的极耳型号特征信息输出为高精度极耳型号特征信息；若所述彩色置信度大于所述反光置信度，将所述彩色图像的极耳型号特征信息输出为高精度极耳型号特征信息；若所述彩色置信度等于所述反光置信度时，计算彩色置信度和反光置信度的信任值，计算公式如下：其中，T为信任值，m为不同型号极耳的种类数量，e
t
为第t种型号极耳的权值，
p
t,c
为第t种型号极耳的彩色置信度，p
t,f
为第t种型号极耳的反光置信度，x
t,c
为第t种型号极耳在30天内被测量数量中彩色置信度大于反光置信度的极耳数量，x
t,f
为第t种型号极耳在30天内被测量数量中反光置信度大于彩色置信度的极耳数量；极耳数量的单位为千，e为自然常数；若信任值T小于等于2e，将所述反光图像的极耳型号特征信息输出为高精度极耳型号特征信息；若信任值T大于2e，将所述彩色图像的极耳型号特征信息输出为高精度极耳型号特征信息。6.一种极耳的平面度测量装置，其特征在于，包括：标准3D极耳平面度模型池建立模块，用于建立标准3D极耳平面度模型池；型号检测模块，用于获取待测量极耳的型号...

【专利技术属性】
技术研发人员：贺珍真，卢盛林，何翔，董瑞，
申请(专利权)人：广东奥普特科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：