手机中框曲面屏小C平面度自动测量设备制造技术

手机中框曲面屏小C平面度自动测量设备，包括机架及机架上的平台底板，所述平台底板中间固定有光源及检具，检具位于光源上方且与光源具有间隙，检具上开设有若干透光槽，平台底板四周分布有一定数量的摄像头模组。本实用新型专利技术的测量设备效率高速度快，自动测量平均每PCS时间为6S（含取放时间），测量数据准确率高，采用CCD测量读书精度0.001MM以内，测量面覆盖产品四周,不存在局部位置漏失风险。产品四周,不存在局部位置漏失风险。产品四周,不存在局部位置漏失风险。

【技术实现步骤摘要】
手机中框曲面屏小C平面度自动测量设备


[0001]本技术涉及手机中框曲面屏小C平面度自动测量设备。

技术介绍

[0002]传统的生产经营模式更多的依靠劳动力成本、规模优势，但随着近几年人工成本的不断上涨，将面临着外部环境变化带来的竞争压力和行业环境变化带来的经营压力。此外，智能手机等消费电子产品工艺变化周期日益缩短，产品精度越来越高，往往人工作业达不到工艺要求，迫切需要开发新工艺、新设备来满足生产工艺要求。
[0003]自动化工厂也是当今时代工业化发展的趋势。随着技术革新及市场需求变化，手机结构件已呈现材料多样化，机型少样大量化特点。传统的手机中框曲面屏小C平面度检测使用塞尺+平台检测，容易造成外观三伤不良，测量时间长效率低，平均测量1片产品需要15S左右，且人为测量且存在误判比例。使用光耦测量方案，局限性太大，对壳体仓深要求1.5MM以上Z向尺寸才可以装下光耦，不适应曲面屏手机中框，另外，塞尺测量+光耦测量都采用点位测量法，存在局部位置漏失风险，导致不良流入客户端。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是解决上述现有装置本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.手机中框曲面屏小C平面度自动测量设备，包括机架（10）及机架（10）上的平台底板（20），其特征在于：所述平台底板（20）中间固定有光源（30）及检具（40），检具（40）位于光源（30）上方且与光源（30）具有间隙，检具（40）上开设有若干透光槽（41），平台底板（20）四周分布有一定数量的摄像头模组（50）。2.根据权利要求1所述的手机中框曲面屏小C平面度自动测量设备，其特征在于：所述透光槽（41）数量为四条，两长两短围成一个矩形。3.根据权利要求2所述的手机中框曲面屏小C平面度自动测量设备，其特征在于：所述摄像头模组（50）包括固定在平台底板（20）上的模组底板（51），模组底板（51）上固定有两块模组侧板（52），两块模组侧板（52）之间设有通过模组横板（5...

【专利技术属性】
技术研发人员：邱晓波，
申请(专利权)人：杭州耕德电子有限公司，
类型：新型
国别省市：