一种元器件电气性能测试治具及测试方法技术

本发明专利技术公开了一种元器件电气性能测试治具及测试方法，所述测试治具包括测试组件、夹持机构、自锁机构、基体和外框，所述测试组件用于将待测产品连接到测试电路中；所述自锁机构包括自弹式卡座组件；当所述自锁机构在预定位置锁止时，所述夹持机构处于夹紧所述待测产品的状态，复位后，所述夹持机构处于松开所述待测产品的状态。本发明专利技术通过所述夹持机构、自锁机构和外框的相互配合，使得两次按压作用力下分别实现待测产品的自动夹紧和自动松开操作，简化了产品测试程序中的操作步骤，提高了测试效率，同时，测试中无需操作人员持续手工压持，故能够避免因为人工操作的偏差、不稳定等情况导致的电弧烧伤电极问题，这在大批量连续化作业中效果尤其显著。业中效果尤其显著。业中效果尤其显著。

【技术实现步骤摘要】
一种元器件电气性能测试治具及测试方法


[0001]本专利技术涉及元器件电气性能测试
，尤其涉及一种元器件电气性能测试治具(治具也称夹具)的结构改良及测试方法改进。

技术介绍

[0002]元器件在电气特性测试过程中要通入电流，对比通电前后感值的变化率来评估元器件的饱和特性。现有技术的测试治具及测试方法，在操作中容易出现电弧烧伤电极的缺陷，同时，现有技术的元器件测试治具需要先按压开关，然后才能取/放被测试产品，操作复杂、测试效率低。因此，测试质量(如电极烧伤的比例低等)和测试效率(单位时间测试产品的数量多)均不理想，更无法实现测试效率和测试质量的同步提升。

技术实现思路

[0003]为克服前述现有技术的缺陷，本专利技术提供一种可自动夹持及释放被测元器件的测试治具，很好地实现了测试效率和测试质量的同步提升，并且无需消耗额外的能源，该元器件电气性能测试治具包括测试组件、夹持机构、自锁机构和外框；
[0004]所述测试组件设于所述夹持机构上，用于将待测产品连接到测试电路中；
[0005]所述夹持机构和所述自锁机构相互连接，并分别连接于所述外框上；
[0006]所述自锁机构包括自弹式卡座组件，所述自弹式卡座组件在受到首次按压作用力后，可使所述测试组件和所述夹持机构下移并在达到预定位置时锁止，在受到二次按压作用力后进一步下移，在所述二次按压作用力撤除后解锁并使所述测试组件和所述夹持机构上移复位；
[0007]当所述自锁机构在预定位置锁止时，所述夹持机构处于夹紧所述待测产品的状态，当所述自锁机构复位后，所述夹持机构处于松开所述待测产品的状态。
[0008]本专利技术还可采用如下可选/优选方案：
[0009]所述测试组件包括至少一对测试片，设于所述基体的顶面上；所述夹持机构包括基体和成对设置的夹持杆，成对设置的所述夹持杆的一个相对端以可转动方式连接于所述基体上，另一个相对端为具有夹持部的自由端，成对设置的所述夹持杆上还分别设有狭长通孔；所述外框成对设有固定杆，所述固定杆分别穿过所述狭长通孔，当所述夹持杆下移时，会受到所述固定杆的阻挡作用而使得所述夹持部相互靠拢，当所述夹持杆上移复位时，会受到所述固定杆的阻挡作用而使得所述夹持部相互远离。
[0010]两个所述夹持部的夹持接触面，在夹紧所述待测产品的状态下呈相向且相互平行的关系。
[0011]成对设置的所述夹持杆的杆体呈弯曲状，所述弯曲状是弧形弯曲或多段折弯。
[0012]成对设置的所述夹持杆的可转动连接方式是套设于螺杆螺帽组件上，所述螺杆螺帽组件贯穿所述基体设置，成对设置的所述夹持杆的夹持部相对所述测试组件呈对称的位置关系。
[0013]所述自弹式卡座组件连接于所述基体下方，包括卡座本体、连接杆、运动凹槽、弹簧及弹簧固定部件一和弹簧固定部件二；所述连接杆一端固定于所述卡座本体上，另一端为活动端，处于所述运动凹槽中并可沿所述运动凹槽的路径运动；所述弹簧固定部件一设于所述外框内壁上，所述固定部件二设于所述卡座本体上，所述弹簧的两端分别设于所述弹簧固定部件一和所述弹簧固定部件二上，用于提供使所述测试组件、所述夹持机构和所述基体上移复位的弹力。
[0014]所述自弹式卡座组件还包括限位块，所述限位块设于所述运动凹槽的底部预定距离处，用于对所述连接杆的活动端进行阻挡限位，以避免所述连接杆滑出所述运动凹槽。
[0015]所述测试组件包括至少一对测试片，设于所述基体的顶面上；所述夹持机构包括基体和成对设置的夹持杆，成对设置的所述夹持杆的一个相对端以可转动方式连接于所述基体上，另一个相对端为具有夹持部的自由端；所述外框成对设有一对下固定杆和一对上固定杆，所述下固定杆分别设于所述夹持杆的下方预定位置处，所述上固定杆分别设于所述夹持杆的上方预定位置处，当所述夹持杆下移时，会受到所述下固定杆的阻挡作用而使得所述夹持部相互靠拢，当所述夹持杆上移复位时，会受到所述上固定杆的阻挡作用而使得所述夹持部相互远离。
[0016]本专利技术还提供一种采用如上文任一项所述的测试治具，首先将待测产品放置于所述测试组件上，并施加按压作用力到所述待测产品上，使所述测试组件、所述夹持机构和所述基体下移，并在下移至预定位置时由所述夹持机构夹紧所述待测产品，同时所述自锁机构锁止以保持当前状态；然后进行所述待测产品的电性能测试；测试完毕后施加二次按压作用力到所述待测产品上，使所述测试组件、所述夹持机构和所述基体进一步下移，并在所述二次按压作用力撤除后自动复位，复位后，所述夹持机构松开已完成电性能测试的所述待测产品，以便自所述测试组件上移除。
[0017]所述自弹式卡座组件的自动复位的复位力的大小配置为可调节。
[0018]本专利技术的有益效果包括：
[0019]通过巧妙的结构设计，使得两次按压作用力下分别实现待测产品的自动夹紧和自动松开操作，简化了产品测试程序中的操作步骤，提高了测试效率，同时，因为是通过夹持机构和自锁机构实现待测产品的测试状态保持而非操作人员的手工实现，因此，能够避免因为人工操作的人为偏差、不稳定等情况导致的电弧烧伤电极问题，这在大批量连续化作业中效果尤其显著。
[0020]所述夹持机构包括基体和成对设置的夹持杆，成对设置的所述夹持杆的一个相对端以可转动方式连接于所述基体上，另一个相对端为具有夹持部的自由端，该结构的有点是，无需顶部压持，更加方便测试人员施加按压作用力，而且，同样能实现所需要的稳定可靠的接触。
附图说明
[0021]图1是一个实施例的元器件电气性能测试治具的结构示意图。
[0022]图2是图1结构的主视图。
[0023]图3是图1中不含外框结构的爆炸图。
[0024]图4A是图3的立体图，处于夹持状态(待测产品未示出)。
[0025]图4B是图4A的左视图。
[0026]图4C是图3的立体图，处于非夹持状态(待测产品未示出)。
[0027]图4D是图4C的左视图。
[0028]图4E是图3中运动凹槽的示意图。
[0029]图5是图1中外框的结构示意图。
[0030]图6是另一实施例的元器件电气性能测试治具的主视图结构示意图。
具体实施方式
[0031]下面结合附图1
‑
6和具体的实施方式对本专利技术作进一步说明。应该强调的是，下述说明仅仅是示例性的，而不是为了限制本专利技术的范围及其应用。本专利技术的背景部分可以包含关于本专利技术的问题或环境的背景信息，而不一定是描述现有技术。因此，在
技术介绍
部分中包含的内容并不是申请人对现有技术的承认。
[0032]专利技术人经研究发现，要想获得较高的测试效率，可通过将测试治具设计成测试片结构实现，即将产品电极按压在测试片上并保持稳定的按压状态，然后进行测试。实际应用中还发现，要想获得较高的测试质量，还需在测试过程中始终保持在产品顶部施加一定的压持力，以保证被测产品电极与测试片之间充分稳定地接触。而现有技术中，是采用测试人员手工压持产品到测试片上，因用手压本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种元器件电气性能测试治具，其特征在于，包括测试组件、夹持机构、自锁机构和外框；所述测试组件设于所述夹持机构上，用于将待测产品连接到测试电路中；所述夹持机构和所述自锁机构相互连接，并分别连接于所述外框上；所述自锁机构包括自弹式卡座组件，所述自弹式卡座组件在受到首次按压作用力后，可使所述测试组件和所述夹持机构下移并在达到预定位置时锁止，在受到二次按压作用力后进一步下移，在所述二次按压作用力撤除后解锁并使所述测试组件和所述夹持机构上移复位；当所述自锁机构在预定位置锁止时，所述夹持机构处于夹紧所述待测产品的状态，当所述自锁机构复位后，所述夹持机构处于松开所述待测产品的状态。2.如权利要求1所述的，其特征在于，所述测试组件包括至少一对测试片，设于所述基体的顶面上；所述夹持机构包括基体和成对设置的夹持杆，成对设置的所述夹持杆的一个相对端以可转动方式连接于所述基体上，另一个相对端为具有夹持部的自由端，成对设置的所述夹持杆上还分别设有狭长通孔；所述外框成对设有固定杆，所述固定杆分别穿过所述狭长通孔，当所述夹持杆下移时，会受到所述固定杆的阻挡作用而使得所述夹持部相互靠拢，当所述夹持杆上移复位时，会受到所述固定杆的阻挡作用而使得所述夹持部相互远离。3.如权利要求2所述的，其特征在于，两个所述夹持部的夹持接触面，在夹紧所述待测产品的状态下呈相向且相互平行的关系。4.如权利要求3所述的，其特征在于，成对设置的所述夹持杆的杆体呈弯曲状，所述弯曲状是弧形弯曲或多段折弯。5.如权利要求2所述的，其特征在于，成对设置的所述夹持杆的可转动连接方式是套设于螺杆螺帽组件上，所述螺杆螺帽组件贯穿所述基体设置，成对设置的所述夹持杆的夹持部相对所述测试组件呈对称的位置关系。6.如权利要求1所述的，其特征在于，所述自弹式卡座组件连接于所述基体下方，包括卡座本体、连接杆、运动凹槽、弹簧及弹簧固定部件一和弹簧固定部件二；所述连接杆一端固定于所述卡座本体上，另一端...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄颖，侯倾林，侯勤田，邵庆云，
申请(专利权)人：深圳顺络电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：