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本发明公开了一种元器件电气性能测试治具及测试方法，所述测试治具包括测试组件、夹持机构、自锁机构、基体和外框，所述测试组件用于将待测产品连接到测试电路中；所述自锁机构包括自弹式卡座组件；当所述自锁机构在预定位置锁止时，所述夹持机构处于夹紧所述...
该专利属于深圳顺络电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳顺络电子股份有限公司授权不得商用。

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