一种可弹性定位的内存条测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开一种可弹性定位的内存条测试装置，包括测试箱、内置于测试箱前端的测试机构，以及内置于测试箱后端的加热箱；所述加热箱用于为测试机构提供发热测试环境；所述测试机构包括固定于测试箱上部的下压模组，以及活动设于测试箱下部的测试底座；所述测试箱的底部内侧从前端至后端方向设有抽拉滑动模组，测试底座经抽拉滑动模组进出测试箱；所述测试底座与下压模组之间设有若干弹性定位组件，下压模组经弹性定位组件弹性定位以靠近测试底座。本实用新型专利技术可一次性测试多个内存条，提高测试效率；同时通过测试箱可保证模拟测试效果，并经弹性定位组件可实现精准下压，且有效避免压坏内存条。效避免压坏内存条。效避免压坏内存条。

【技术实现步骤摘要】
一种可弹性定位的内存条测试装置


[0001]本技术涉及内存条测试装置
，尤其涉及一种可弹性定位的内存条测试装置。

技术介绍

[0002]内存条是电脑中至关重要的硬件之一，是不可或缺的硬件。内存条是CPU可通过总线寻址，并进行读写操作的电脑部件。或者可以理解内存条是CPU连接其他设备的重要通道。
[0003]在电脑的使用过程中会出现发热现象，由于内存条内置于电脑的机箱安装，所以不可避免在发热的环境中使用。因此，内存条在成品出厂之前，需要先模拟实际使用中的发热环境进行测试，以保证内存条的性能良好。目前，测试内存条大部分是通过人工逐一手动测试，在开阔的空间下模拟发热环境的效果不理想，且人工作业效率低下。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是提供一种可弹性定位的内存条测试装置，可一次性测试多个内存条，提高测试效率；同时通过测试箱可保证模拟测试效果，并经弹性定位组件可实现精准下压，且有效避免压坏内存条。
[0005]为实现上述目的，采用以下技术方案：
[0006]一种可弹性定位的内存条测试装置，包括测试箱、内本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种可弹性定位的内存条测试装置，其特征在于，包括测试箱、内置于测试箱前端的测试机构，以及内置于测试箱后端的加热箱；所述加热箱用于为测试机构提供发热测试环境；所述测试机构包括固定于测试箱上部的下压模组，以及活动设于测试箱下部的测试底座；所述测试箱的底部内侧从前端至后端方向设有抽拉滑动模组，测试底座经抽拉滑动模组进出测试箱；所述测试底座与下压模组之间设有若干弹性定位组件，下压模组经弹性定位组件弹性定位以靠近测试底座。2.根据权利要求1所述的可弹性定位的内存条测试装置，其特征在于，每一弹性定位组件包括设于测试底座顶部的定位柱、设于下压模组底部的定位套筒，以及内置于定位套筒的弹簧；当下压模组下压时，定位柱的上端伸入定位套筒抵接压缩弹簧。3.根据权利要求1所述的可弹性定位的内存条测试装置，其特征在于，所述测试底座的顶部间隔开设有若干测试插槽，用于卡插连接内存条。4.根据权利要求3所述的可弹性定位的内存条测试装置，其特征在于，所述测试底座的两端外侧分别设有一定位夹紧模组，用于将测试底座夹紧定位在测试箱内；每一定位夹紧模组包括固定于测试箱底部内侧的夹紧气缸，以...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑存本，
申请(专利权)人：深圳市芯锐仁和科技开发有限公司，
类型：新型
国别省市：