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本实用新型公开一种可弹性定位的内存条测试装置，包括测试箱、内置于测试箱前端的测试机构，以及内置于测试箱后端的加热箱；所述加热箱用于为测试机构提供发热测试环境；所述测试机构包括固定于测试箱上部的下压模组，以及活动设于测试箱下部的测试底座；所述...
该专利属于深圳市芯锐仁和科技开发有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市芯锐仁和科技开发有限公司授权不得商用。

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