一种微处理器内存可靠性测试方法技术

本发明专利技术提供一种微处理器内存可靠性测试方法，包括：对待注错的应用源码插入注错辅助函数和标志变量；将可注错的应用源码烧录至目标发开版；调用Python注错脚本，对程序进行内存注错；解析注错结果，输出内存的软错误率评估报告。通过Python脚本调用注错系统对嵌入式应用进行内存可靠性的自动化测试，向开发者提供了一种通用的微处理器内存可靠性测试的途径，本方案测试效率高、通用性强、扩展性灵活、自由度高、实现成本低廉。实现成本低廉。实现成本低廉。

【技术实现步骤摘要】
一种微处理器内存可靠性测试方法


[0001]本专利技术属于微处理器测试
，尤其涉及一种微处理器内存可靠性测试方法。

技术介绍

[0002]随着嵌入式技术的迅猛发展，嵌入式应用不仅在我们的生活中随处可见，在航空航天、汽车和军工等安全关键行业中也比比皆是。然而，在恶劣的辐照环境中，芯片内部的静态随机存取存储器（SRAM，Static Random
‑
Access Memory）对软错误非常敏感。比如，高能粒子打击内存，会造成数据污染，从而引起控制系统失效。
[0003]为了提高嵌入式系统片上内存对软错误的可靠性，传统的加固方式有硬件加固和软件加固。
[0004]常见的硬件技术有纠正码（ECC，Error Correcting Code）技术，ECC技术能够修正单位翻转及检测多位翻转。但ECC技术会引起额外的内存、性能、功耗和经济成本，例如，带ECC技术的芯片比同样配置没有ECC技术的芯片价格更高。为了克服上述缺点，本领域技术人员提出了选择性内存刷新和选择性内存冗余的软件技术，这些技术是基于应用的容错特性，有选本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种微处理器内存可靠性测试方法，其特征在于，包括如下步骤：S1：对待注错的应用源码插入注错辅助函数和标志变量；S2：将可注错的应用源码烧录至目标发开版；S3：调用Python注错脚本，对程序进行内存注错。2.根据权利要求1所述的一种微处理器内存可靠性测试方法，其特征在于，还包括：S4：解析注错结果，输出内存的软错误率评估报告。3.根据权利要求2所述的一种微处理器内存可靠性测试方法，其特征在于，所述步骤S3的过程包括：S301：生成注错任务列表；S302：提取所述注错任务列表中的任务；S303：执行注错任务；S304：单次注错任务执行完毕，保存注错结果；S305：判断所述注错任务列表中是否还有新任务，若有新任务，则转入步骤S302，否则，转入步骤S306；S306：汇总并将结果导出至文件，结束脚本任务。4....

【专利技术属性】
技术研发人员：王海滨，
申请(专利权)人：王海滨，
类型：发明
国别省市：