一种近场局部照射目标散射近远场转换方法技术

本发明专利技术提供一种近场局部照射目标散射近远场转换方法，包含步骤：S1、将目标分割成P个散射区域；S2、依序对各个散射区域进行2

【技术实现步骤摘要】
一种近场局部照射目标散射近远场转换方法


[0001]本专利技术涉及电磁散射与逆散射
，尤其涉及一种近场局部照射目标散射近远场转换方法。

技术介绍

[0002]近年来发展活跃的RCS(Radar Cross section雷达散射截面)近场测试技术，是指在不满足远场条件的近场进行测试，再通过近远场转换得到目标RCS的一种测试与计算结合的技术。当目标电尺寸较大时，远场条件变得异常苛刻，难以在实验场实现。近场测试仅需要在几倍目标尺寸的有限实验场进行，具有低廉便捷的特点。但近场测试需要对测试数据进行近远场转换处理才能得到远场RCS数据，所以近远场转换算法是上述近场测试技术的关键。
[0003]目标RCS近场测试与远场地平场测试、紧缩场测试不同，是指在目标散射菲涅尔区进行测试，所得测试结果经过近远场转换得到RCS。目前成熟的RCS近场测试方法都是让待测目标完全处于测试天线方向图照射区域中，通过双站扫描或者单站采样及相应地近远场转换算法得到远场RCS。
[0004]现有近远场转换方法支持的近场测试形式固定和单一，不能实现近场局部照射目本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种近场局部照射目标散射近远场转换方法，其特征在于，包含步骤：S1、将目标分割成P个散射区域；S2、依序对各个散射区域进行2
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D平面采样，获取每个采样点的2
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D近场散射数据；S3、基于2
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D近场测试天线接收电压的表达式，对散射区域的所述2
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D近场散射数据进行近远场转换，获取该散射区域的2
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D远场散射特征量；S4、将各散射区域的2
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D远场散射特征量进行总场合成，基于RCS关系式计算得到目标总体RCS。2.如权利要求1所述的近场局部照射目标散射近远场转换方法，其特征在于，步骤S2包含：S21、确定散射区域内近场散射数据的采样平面；S22、在所述采样平面上，以采样平面的中心为圆心，在最近半径和最远半径所确定的圆环内，使用任意天线在该圆环的任意位置进行采样，记录每个采样点的天线接收电压及采样点位置。3.如权利要求1所述的近场局部照射目标散射近远场转换方法，其特征在于，步骤S3中所述2
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D近场测试天线接收电压的表达式为：其中，U
m
是P个散射区域内所有采样点的天线接收电压之和；U
i
为入射电压；Z表示自由空间的波阻抗；r
A
是测试天线所在位置矢量；r
p
是目标上第p个散射区域的中心坐标；r
Ap
是第p个散射区域的中心到测试天线之间的矢量；T
N
是转移算子，k表示入射波矢，k和分别是波数和波矢方向，是二维波矢方向，β是波矢在二维极坐标系中的角度；ξ
p
(k)表示第p个散射区域的远场散射特征量。4.如权利要求3所述的近场局部照射目标散射近远场转换方法，其特征在于，T
N
的表达式为：式为：是第二类球Hankel函数。5.如权利要求4所述的近场局部照射目标散射近远场转换方法，其特征在于，步骤S4包含：S41、对各散射区域的2
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D远场散射特征量进行总场合成，获取目标总体远场散射特征量ξ：S42、计算得到目标总体RCS：
σ表示目标总体RCS。6.一种近场局部照射目...

【专利技术属性】
技术研发人员：贺新毅，童广德，徐秀丽，廖意，
申请(专利权)人：上海无线电设备研究所，
类型：发明
国别省市：