【技术实现步骤摘要】
一种雷达探测弹丸虚假目标处理方法
[0001]本专利技术涉及一种目标识别方法,适用于雷达探测领域。
技术介绍
[0002]信号处理端输出的目标包括真实目标和虚假目标,如何更好的将真实目标上报以及有效的剔除虚假目标是一项重要的工作。
[0003]目前炮位侦察校射雷达对虚假目标的识别能力参差不齐,且存在环境虚警率大、影响雷达对弹丸目标的识别、误将虚假目标识别成弹丸目标等问题。在这种情况下,需要提高弹丸的识别概率,在数据处理阶段剔除虚假目标,以达到上报真实目标之目的。
[0004]过去剔除虚假目标一般使用一维的数据处理方法,只是从方位、俯仰和距离三个方面进行单一的判断,看是否符合飞行轨迹的规律。例如,某型号雷达的虚假目标处理方法,分别对方位、俯仰、距离维逐一进行判断,这种方式首先需要明确雷达当前的模式类型是侦察或者校射,在模式确定后,根据模式特性来判断弹丸飞行的特征,比如侦察模式下,俯仰维必须是逐渐继增,距离维越来越小,这些是侦察模式下的弹丸具有的特征。实际情况弹丸的飞行特征的确符合这种特征,但是由于雷达测量带来的 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种雷达探测弹丸虚假目标处理方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一,计算方位与时间维度的二次曲线拟合;在雷达天线阵面坐标下,将接收到的雷达目标数据整理得到点迹集合Q,包含方位正弦值sina、俯仰正弦值sine、距离r以及时标t;从集合Q中取每个点迹方位正弦sina、距离r以及时标t,计算每个点的Yn=sina*r和时间间隔dt,得Y与dt的集合Q1;通过Q1中每一个点的Y与时间dt进行二次曲线拟合,得到一个二次曲线方程y=at2+bt+c,同时得到Q1中每一个点与二次拟合曲线的残差,计算Q1中每个点与其平均值的方差,通过残差和方差计算出相关系数以及标准残差;计算二次曲线抛物线的开口方向a、中轴线x=
‑
b/2*a以及y的平均值Ave;如果a>0,即二次曲线开口向上;此时若t0<Axis<tn则dy=0,t0表示该目标第一个点迹的时戳,tn表示该目标最后一个点迹的时戳;若Axis<=t0即dy=1,tn<=Axis即dy=
‑
1;如果a<0,即二次曲线开口向下;此时若t0<Axis<tn则dy=0;若Axis<=t0即dy=
‑
1,tn<=Axis即dy=1;如果a=0,即dy=0;步骤二,计算俯仰与时间维度的二次曲线拟合;在雷达天线阵面坐标下得到上报点迹的集合Q2,计算Q2中每个点迹的高度Z=sine*r,通过每一个点的Z与时间dt进行二次曲线拟合,得到一个二次曲线方程y
’
=a
’
t2+b
’
t+c
’
;计算Q2中每个点与其平均值的方差,通过残差和方差计算出相关系数以及标准残差;计算二次曲线抛物线的开口方向a
’
、中轴线x
’
=
‑
b
’
/2*a
’
以及y
’
的平均值Aver
’
;如果a
’
>0,即二次曲线开口向上;此时若t0<x
’
<tn则dz=0;若x
’
<=t0即dz=1,tn<=x
’
即dz=
‑
1;如果a
’
<0,即二次曲线开口向下;此时若t0<x
’
<tn且dy>0,则dz=
‑
1,否则dz=1;若x
’
<=t0即dz=
‑
...
【专利技术属性】
技术研发人员:姜洋,刘鹏飞,宋思盛,王博,翁晨,
申请(专利权)人:西安电子工程研究所,
类型:发明
国别省市:
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