【技术实现步骤摘要】
超低损耗硅波导及其制备方法
[0001]本公开涉及光电子芯片及集成领域,具体涉及一种超低损耗硅波导及其制备方法。
技术介绍
[0002]光电子芯片及集成技术具有低功耗、高速率、高可靠、小体积等突出优势,这些优势是突破信息网络所面临的速率带宽、能耗体积、智能化与可重构等方面瓶颈的核心关键技术,在光通信、传感、计算、生物、医药、农业等领域也有着广泛的应用。
[0003]制备光电子集成芯片的载体包括硅基、磷化铟、铌酸锂、氮化硅、二氧化硅、聚合物等材料,其中,硅基具有尺寸小、能耗低、CMOS工艺兼容以及便于与现有的电子器件和光子器件实现单片、微纳集成等优点,是制备光电子集成芯片最常用的材料。利用硅基实现光的产生、调制、传输、操控以及探测等功能的硅光子学,已被公认为突破计算机和通信超大容量、超高速信息传输和处理瓶颈的理想技术之一,硅光子学受到研究者的高度关注,成为近年光电子研究领域的热点。
[0004]硅基光波导是引导光波在其中传播的介质,是光电子芯片及集成技术中最基础的单元结构,主要作用包括限制、传输、耦合光波等。光 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种超低损耗硅波导的制备方法,其特征在于,包括以下几个步骤:S1挑选作为衬底的SOI晶圆,所述SOI晶圆包括由上至下依次设置的第一硅层(1)、第一二氧化硅层(2)和第二硅层(3),第一硅层(1)的组成材料为硅;S2热氧化第一硅层(1)的上部,形成第二二氧化硅层(4);S3刻蚀第二二氧化硅层(4),使得第二二氧化硅层(4)被刻蚀区域形成第一凹陷部,其余区域为第一凸起部(5);S4在第一凹陷部与第一凸起部(5)上方沉积相同厚度的二氧化硅,形成第三二氧化硅层(6);S5在第三二氧化硅层(6)上方注入氧离子,使得第一硅层(1)内形成富氧离子层(7),富氧离子层(7)将第一硅层(1)的下部分隔为上下两层,所述富氧离子层(7)对应所述第一凸起部(5)形成第二凸起部,且对应所述第一凹陷部形成第二凹陷部;S6使用刻蚀工艺除去第二二氧化硅层(4)与第三二氧化硅层(6);S7在第一硅层(1)的上方沉积二氧化硅,形成第四二氧化硅层(8);S8高温退火,使得富氧离子层(7)中的氧离子与硅原子反应形成第五二氧化硅层(9),所述第二凸起部转换形成第三凸起部,所述第二凹陷部转换形成第三凹陷部;S9使用刻蚀工艺除去第四二氧化硅层(8),制得成品,成品中第五二氧化硅层(9)下方的第一硅层(1)即为波导层(11),而第三凸起部下方的第一硅层(1)即为硅波导(10)。2.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,所述步骤S1中第一硅层(1)的厚度为600nm;所述步骤S2中第二二氧化硅层(4)的厚度为100nm。3.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,所述步骤S3中刻蚀第二二氧化硅层(4)直至第二二氧化硅层(...
【专利技术属性】
技术研发人员:文花顺,许博蕊,孙甲政,翟鲲鹏,陈伟,祝宁华,李明,
申请(专利权)人:中国科学院半导体研究所,
类型:发明
国别省市:
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