【技术实现步骤摘要】
一种描述外载作用下岩体微细观破裂与微裂隙形成的方法
[0001]本专利技术属于石油和天然气开采
,具体是一种描述外载作用下岩体微细观破裂与微裂隙形成的方法。
技术介绍
[0002]岩石内部存在形状不一、规模不同、复杂多变的构造,各构造之间相互作用使其,内部产生大量微观和宏观裂隙,其中宏观裂隙是众多微裂隙的集合体,在外荷载作用下岩石内部众多裂纹端部的应力集中现象是引起岩石开裂,致使岩石解体破坏的主要原因。然而在进行岩石问题解决时,现有的方法仍将岩石设为理想的规则岩体,并未考虑其形变以及潜在的裂缝问题,且在描述岩石时大多采用泊松分布,未考虑体积等易变因素,在此基础上进行分析获得的模型本构关系等结果会产生极大的误差。
[0003]通过上述分析,现有技术存在的问题及缺陷为:现有的方法并未考虑其形变以及潜在的裂缝问题,且在描述岩石时大多采用泊松分布,未考虑体积等易变因素,进行分析获得的模型本构关系等结果会产生极大的误差。
技术实现思路
[0004]针对现有技术存在的问题及不足,本专利技术提供了一种描述外载作用下岩体微细观破裂与微裂隙形成的方法。
[0005]为实现上述目的,本专利技术采用如下技术方案:
[0006]描述外载作用下岩体微细观破裂与微裂隙形成的方法,所述描述外载作用下岩体微细观破裂与微裂隙形成的方法,包括:
[0007]步骤一,采集岩石的相关参数,根据采集的岩石参数获取岩石微观颗粒之间的数据;
[0008]所述采集岩石的相关参数过程中,通过X射线成像技术 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种描述外载作用下岩体微细观破裂与微裂隙形成的方法,其特征在于,所述描述外载作用下岩体微细观破裂与微裂隙形成的方法,包括:步骤一,采集岩石的相关参数,根据采集的岩石参数获取岩石微观颗粒之间的数据;所述采集岩石的相关参数过程中,通过X射线成像技术,获取岩石的X射线成像,并对X射线成像进行处理;其中,X射线成像处理中包括图像分割处理的具体过程为:原始图像灰度级为L,灰度为i的像素的个数为n
i
,总像素数为N,各灰度出现的频率为p
i
=n
i
/N,灰度级用阈值t将灰度划分为两类C0={0,
…
,t},C1={t+1,
…
,L
‑
1};判决规则为:σ2=w0(u0‑
u
T
)2+w1(u1‑
u
T
)2=w0·
w1(u1‑
u0)2;阈值为:t
*
=arg max{σ2};其中,w0为C0出现的概率为:w1为C1出现的概率为:u0为C0平均灰度为:u1为C1平均灰度为:步骤二,根据获取的微观颗粒之间的数据建立黏结模型,将颗粒简化为圆形,取圆形颗粒圆心,测量两个圆心之间的距离,根据距离长度建立等效的微观模型;步骤三,建立基于分数阶的黏壶元件的本构关系;步骤四,根据本构关系建立Kelvin模型,初始化模型参数,代入数据并调节参数,模型由Abel黏壶元件与弹簧元件并联组成;步骤五,获取kelvin模型调整好的弹性模量,建立由弹簧元件与黏壶元件串联形成的Maxwll模型;步骤六,将调整好参数的Kelvin和Maxwll模型进行物理上的串联。2.如权利要求1所述的描述外载作用下岩体微细观破裂与微裂隙形成的方法,其特征在于,所述步骤一中采集岩石的相关参数是采用3D模型套索,并对岩石信息进行精确到毫米的提取。3.如权利要求1所述的描述外载作用下岩体微细观破裂与微裂隙形成的方法,其特征在于,所述步骤三中建立黏壶元件之间的本构关系公式具体为:
式中:η为黏性系数,k为常数,Γ(n+1)为n+1的阶乘,ε为应变,σ为应力,d为微分符号。4.如权利要求1所述的描述外载作用下岩体微细观破裂与微裂隙形成的方法,其特征在于,所述步骤四中对Kelvin模型进行初始化参数是随机初始化参数,通过不断进行参数迭代获得最优调节参数,提高模型的最终效果精度。5.如权利要求1所述的描述外载作用下岩体微细观破裂与微裂隙形成的方法,其特征在于,所述将黏壶元件与弹簧元件并联的步骤如下:σ
【专利技术属性】
技术研发人员:张一鸣,王雪雅,李婧,武杰,李赟鹏,杨雪晴,
申请(专利权)人:河北工业大学,
类型:发明
国别省市:
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