基于DUT替代模型的验证方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

本公开提供一种基于DUT替代模型的验证方法、装置、设备及介质，方法包括：判断第一DUT是否为未完成设计；响应于所述第一DUT为未完成设计，基于DUT替代模型进行验证，得到第一输出信号；基于所述第一输出信号对第二DUT进行验证，所述第二DUT与所述第一DUT在功能上相关联。根据本公开，实现了设计工作与验证工作的并行工作方式，无需等待RTL设计完成即可开展验证工作，极大缩短了验证工作和设计工作的整体时间，有效提高了芯片开发的效率。有效提高了芯片开发的效率。有效提高了芯片开发的效率。

【技术实现步骤摘要】
基于DUT替代模型的验证方法、装置、设备及介质


[0001]本公开涉及验证领域，尤其涉及一种基于DUT替代模型的验证方法、装置及设备。

技术介绍

[0002]传统的芯片验证工作一般是在设计人员提供已经成熟稳定且自测成功的寄存器转换级电路RTL(Register Transfer Level)设计代码之后才开始进行，然而这种将两项任务以顺序的方式进行，花费时间长，最终影响整个芯片开发工作的整体进度。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，本公开的目的在于提出一种基于DUT替代模型的验证方法、装置、设备及介质。
[0004]根据本公开的第一方面，提供了一种基于DUT替代模型的验证方法，包括：
[0005]判断第一DUT是否为未完成设计；
[0006]响应于所述第一DUT为未完成设计，基于DUT替代模型进行验证，得到第一输出信号；
[0007]基于所述第一输出信号对第二DUT进行验证，所述第二DUT与所述第一DUT在功能上相关联。
[0008]可选地，所述DUT替代模型包括与所述未完成设计对应的验本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于DUT替代模型的验证方法，包括：判断第一DUT是否为未完成设计；响应于所述第一DUT为未完成设计，基于DUT替代模型进行验证，得到第一输出信号；基于所述第一输出信号对第二DUT进行验证，所述第二DUT与所述第一DUT在功能上相关联。2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述DUT替代模型包括与所述未完成设计对应的验证环境中的参考模型。3.根据权利要求1所述的方法，基于DUT替代模型进行验证，得到第一输出信号，包括：响应于所述第一DUT为未完成设计，基于配置选项将所述DUT替代模型设置为输出信号驱动至接口；获取激励，并基于所述激励和所述DUT替代模型计算得到所述DUT替代模型的输出信号；将所述DUT替代模型的输出信号驱动到接口上，作为所述第一输出信号。4.根据权利要求3所述的方法，基于所述第一输出信号对第二DUT进行验证包括：判断所述第二DUT是否为未完成设计；响应于所述第二DUT为已完成设计，基于配置选项将所述第二DUT对应的参考模型设置为输出信号不驱动至接口；将所述第一输出信号作为所述第二DUT的输入，计算所述第二DUT的第二输出信号；基于所述第一输出信号和所述第二DUT对应的第二参考模型计算得到所述第二参考模型输出的第二参考信号；对比所述第二输出信号和所述第二参考信...

【专利技术属性】
技术研发人员：马骁，
申请(专利权)人：杭州云合智网技术有限公司，
类型：发明
国别省市：