检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供了一种检测装置，涉及检测技术领域，检测装置包括扫频仪、切换控制单元以及多个全频段探头；多个全频段探头与切换控制单元连接，切换控制单元还与扫频仪连接；多个全频段探头呈阵列排布，切换控制单元根据探头标识控制对应的探头进入工作状态，探测干扰信号，切换控制单元将干扰信号发送至扫频仪，扫频仪分析得出干扰信号的干扰强度数据，包括干扰频段及干扰强度。本申请通过设置多个高频探头，对待测物体不同位置的干扰强度和干扰频点进行探测，并将测试结果通过扫频仪传输到处理器进行分析存储，处理器根据不同探头的干扰强度和干扰频段，生成干扰云图，简便地完成对待测物体不同位置的检测，提高了检测效率。提高了检测效率。提高了检测效率。

【技术实现步骤摘要】
检测装置


[0001]本技术涉及检测
，具体而言，涉及一种检测装置。

技术介绍

[0002]在各类产品研发过程中很难避免出现电磁互扰(Electromagnetic Interference，EMI)的问题，而且在定位干扰源和干扰路径的时候会花费大量时间和精力，往往还不一定能够精确的定位，如果使用辅助定位设备则需要手动对待测物体进行测试，影响检测效率。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于提供一种检测装置，能够改善现有的测试装置需要对待测物体进行手动检测效率较低等问题。
[0004]本技术采用的技术方案如下：
[0005]本技术提供一种检测装置，所述检测装置包括扫频仪、切换控制单元以及多个全频段探头；
[0006]所述多个全频段探头与所述切换控制单元连接，所述切换控制单元与所述扫频仪连接；
[0007]所述多个全频段探头呈阵列排布，所述切换控制单元用于根据全频段探头的探头标识控制对应的全频段探头进入工作状态，探测待测物体的干扰信号，并接收所述全频段探头探测的干扰信号；<br/>[0008]本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测装置，其特征在于，所述检测装置包括扫频仪、切换控制单元以及多个全频段探头；所述多个全频段探头与所述切换控制单元连接，所述切换控制单元与所述扫频仪连接；所述多个全频段探头呈阵列排布，所述切换控制单元用于根据全频段探头的探头标识控制对应的全频段探头进入工作状态，探测待测物体的干扰信号，并接收所述全频段探头探测的干扰信号；所述切换控制单元将所述干扰信号发送至所述扫频仪，所述扫频仪分析得出所述干扰信号的干扰强度数据，所述干扰强度数据包括干扰频段及干扰强度。2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置包括处理器，所述处理器存储有每一个全频段探头的探头标识以及位置信息；所述处理器与所述切换控制单元连接；所述处理器用于向所述切换控制单元发出探测指令，以使所述切换控制单元根据全频段探头的探头标识控制对应的全频段探头进入工作状态，其中，所述探测指令包括所述全频段探头的探头标识。3.根据权利要求2所述的检测装置，其特征在于，所述处理器还与所述扫频仪连接；所述扫频仪用于将所述干扰强度数据发送至所述处理器，所述处理器根据所述干扰强度数据以及所述全频段探头的位置信息生...

【专利技术属性】
技术研发人员：李超，
申请(专利权)人：西安闻泰电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：