一种电化学测量微电极结构及其制作方法技术

技术编号:30830542 阅读:29 留言:0更新日期:2021-11-18 12:43
本发明专利技术公开一种电化学测量微电极结构及其制作方法,该微电极结构包括:绝缘基底、电极、导电线和绝缘保护层,所述电极和所述导电线设于所述绝缘基底的上方,所述电极和所述导电线相连接,所述绝缘保护层覆盖于所述电极和所述导电线上方;所述绝缘基底上设有若干不连续的空孔,所述若干空孔对应所述电极的位置设置,每一所述空孔均连通至所述电极,其中一个空孔或多个空孔内形成近电极控制部。本发明专利技术的电化学测量微电极结构能按需灵活定制微电极电极有效尺度,并维持电极露于空孔或近电极控制部中的材料表面特征,实现微电极的更广泛的材质选用和更丰富的表面状态。本发明专利技术的电化学测量微电极结构设计灵活,制作方法易于构建,易于批量生产。易于批量生产。易于批量生产。

【技术实现步骤摘要】
一种电化学测量微电极结构及其制作方法


[0001]本专利技术涉及电化学测量电极
,尤其涉及一种电化学测量微电极结构及其制作方法。

技术介绍

[0002]微电极指的是:电极的几何结构中至少有一个维度的尺寸在微米量级,通常是将直径为数微米的电极包封在一绝缘材料如热固性树脂内,然后将树脂的尖端抛光以露出电极表面。
[0003]这类电极的特性在于:
[0004](1)通过的电流小,可用于高内阻(低电导)的电解质溶液;
[0005](2)电极尺寸小,可用于分析测量微量体积的物质;
[0006](3)随着测量时间的延长,扩散过程由线性变为球形扩散。
[0007]这些特征使得微电极适宜对电化学反应的细节过程进行精确测量研究。其应用可提高点分析测量的检测极限,适用更广泛的电解质溶液。如将微电极安装在具有三维移动和定位的功能装置上,即可构建扫描电化学显微镜,研究表面微区的电化学反应状态和过程。
[0008]现有的常规微电极,其电极导电部分通常为金属丝,外包的绝缘部分可以是高分子材料如热固性树脂,也可以是无机非本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电化学测量微电极结构,其特征在于,包括:绝缘基底、电极、导电线和绝缘保护层,所述电极和所述导电线设于所述绝缘基底的上方,所述电极和所述导电线相连接,所述绝缘保护层覆盖于所述电极和所述导电线上方;所述绝缘基底上设有若干不连续的空孔,所述若干空孔对应所述电极的位置设置,每一所述空孔均连通至所述电极,其中一个空孔或多个空孔内形成近电极控制部。2.根据权利要求1所述的电化学测量微电极结构,其特征在于,所述近电极控制部为对空孔内进行物质填充或对空孔内表面进行表面处理所形成。3.根据权利要求2所述的电化学测量微电极结构,其特征在于,所述物质填充包括:树脂填充或粉末物填充;所述表面处理包括:离子体溅射、化学腐蚀、化学接枝或电化学沉积。4.根据权利要求1

3任一项所述的电化学测量微电极结构,其特征在于,所述绝缘基底的厚度为10um

10mm,所述空孔的宽度为0.1μm

1mm。5.根据权利要求4所述的电化学测量微电极结构,其特征在于,所述电极为导电浆料、石墨烯、碳纳米管、金属薄片或半导体材质。6.一种权利要求1

5任一项所述的电...

【专利技术属性】
技术研发人员:胡一帆宋航丁显波赵鑫
申请(专利权)人:深圳市溢鑫科技研发有限公司
类型:发明
国别省市:

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