【技术实现步骤摘要】
一种铜靶材及其制备方法
[0001]本专利技术属于磁控溅射
,涉及一种溅射靶材,尤其涉及一种铜靶材及其制备方法。
技术介绍
[0002]磁控溅射是制造半导体芯片所必需的一种极其重要的关键技术,其原理是采用物理气相沉积技术,利用高压加速气态离子轰击靶材表面,使得靶材的原子被溅射出来,并以薄膜的形式沉积到硅片上,最终形成半导体芯片中复杂的配线结构。溅射靶材具有金属镀膜的均匀性、可控性等诸多优势,被广泛应用于半导体领域。
[0003]由于金属铜的电阻率低,导电性好,采用铜布线可显著提升半导体芯片的反应速度。因此,铜靶材成为了应用较广的溅射靶材。对于铜靶材,其内部组织均匀性是镀膜质量稳定性的重要保证。铜靶材的微观结构与组织均匀性、晶粒尺寸和取向分布对铜靶材的性能均会产生显著影响。一般而言,晶粒尺寸越细小,溅射薄膜的厚度分布就越均匀,溅射速率也就越快。
[0004]CN 1928129A公开了一种制备溅射靶材料的方法,所述方法包括:(1)将材料均匀预热至130
‑
170℃;(2)对材料进行垂直于轴向的塑性加工,过程温度控制在250℃以下;(3)对材料进行250
‑
500℃的热处理加工,保温一定时间后进行水冷;(4)将材料再次均匀预热至130
‑
170℃;(5)对材料进行平行于轴向的塑性加工,过程温度控制在250℃以下。所述材料主要包括铝及铝合金,平均晶粒尺寸低于100μm,所述材料具有一定的组织结构取向。所述专利技术主要针对铝及铝合金在130
...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种铜靶材的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括依次进行的切料、第一锻伸、第一热处理、第二锻伸、第二热处理、冷锻、第三热处理、压制、第四热处理与抛光;所述第一热处理与第二热处理的温度分别为290
‑
310℃;所述第三热处理与第四热处理的温度分别为250
‑
270℃。2.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,所述切料得到第一圆柱体铜靶坯;优选地,所述第一圆柱体铜靶坯的直径为170
‑
180mm;优选地,所述第一圆柱体铜靶坯的长度为190
‑
210mm。3.根据权利要求1或2所述的制备方法,其特征在于,所述第一锻伸包括依次进行的预热、锻打、水冷、墩粗与拉拔,其中的墩粗与拉拔交替重复进行至少3次;优选地,所述预热的温度为890
‑
910℃;优选地,所述锻打得到正方体铜靶坯;优选地,所述正方体铜靶坯的边长为145
‑
155mm;优选地,所述墩粗至铜靶坯长度为100
‑
120mm;优选地,所述拉拔至铜靶坯长度为210
‑
230mm;优选地,所述第二锻伸包括依次进行第二前锻伸与第二后锻伸;优选地,所述第二前锻伸与第一锻伸的条件一致;优选地,所述第二后锻伸得到第二圆柱体铜靶坯,并进行水冷;优选地,所述第二圆柱体铜靶坯的长度为220
‑
230mm。4.根据权利要求1
‑
3任一项所述的制备方法,其特征在于,所述第一热处理与第二热处理的时间分别为25
‑
35min;优选地,所述第一热处理与第二热处理分别以水冷的方式进行冷却。5.根据权利要求1
‑
4任一项所述的制备方法,其特征在于,所述冷锻包括依次进行的冷锻墩粗与冷锻拉拔;优选地,所述冷锻墩粗在万吨油压机中进行,得到第三圆柱体铜靶坯;优选地,所述第三圆柱体铜靶坯的长度为100
‑
110mm;优选地,所述冷锻拉拔在万吨油压机中进行,得到第四圆柱体铜靶坯;优选地,所述第四圆柱体铜靶坯的长度为220
‑
230mm。6.根据权利要求1
‑
5任一项所述的制备方法,其特征在于,所述第三热处理与第四热处理的时间分别为25
‑
35min;优选地,所述第三热处理与第四热处理分别以水冷的方式进行冷却。7.根据权利要求1
‑
6任一项所述的制备方法,其特征在于,所述压制包括依次进行的切除、静压与压延;优选地,所述切除具体为切除第四圆柱体铜靶坯两端开裂的料头,得到第五圆柱体铜靶坯;优选地,所述第五圆柱体铜靶坯的长度为190
‑
210mm;优选地,所述静压在油压机中进行,得到第六圆柱体铜靶坯;优选地,所述第六圆柱体铜靶坯的长度为110
‑
120mm;优选地,所述压延在压延机中进行,得到第七圆柱体铜靶坯;优选地,所述第七圆柱体铜靶坯的长度为20
‑
22mm。
8.根据权利要求1
...
【专利技术属性】
技术研发人员:姚力军,潘杰,边逸军,王学泽,章丽娜,罗明浩,
申请(专利权)人:宁波江丰电子材料股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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