优化的跟踪方法技术

本发明专利技术涉及一种用于优化光学扫描器沿着光记录载体的磁道（１Ｌ，１Ｇ）进行跟踪的方法，该磁道具有按照致密顺序排列的信息标记（３），并以显著更小的密度具有基本的特性改变（１Ｌ／１Ｇ，１Ｇ／１Ｌ）。该方法具有如下步骤：形成磁道误差信号（ＴＥ，ＴＥＣＬ，ＰＰＴＥ），检测磁道（１Ｌ，１Ｇ）的基本特性改变的出现，通过将磁道误差信号（ＴＥ，ＴＥＣＬ，ＰＰＴＥ）就在基本特性改变前出现的值和在基本特性改变后紧接着出现的值进行比较来形成偏移值（ＴＯ），在考虑该偏移值（ＴＯ）的情况下形成磁道误差信号（ＴＥ，ＴＥＣＬ，ＰＰＴＥ），以及重复上述步骤。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及在读取和写入通常为DVD-RAM格式或具有类似特性的格式的光记录介质时对磁道误差偏移量的确定，这种光记录介质通常也称为光盘。本专利技术描述了一种用于确定磁道误差偏移量的准则，其目的在于将光学扫描器尽可能精确地保持在预先压缩的磁道(凸区/凹坑)的中心。
技术介绍
一般来说，“推挽式”和“差分推挽式”的方法用于为可重写介质产生磁道误差信号。这些方法通常产生与磁道中心对称的正弦形误差信号，该信号可能由于电和光的影响而发生偏移。由于该信号通常与磁道中心对称，因此可以通过使上下包络线电对称而将这些偏移量补偿到零，从而使扫描器在闭环的磁道调节时精确地保持在磁道中心。但是，如果磁道误差信号由于在读取的光斑(也称斑点)中的非对称的光分布而变得与磁道中心不对称，则不能再使扫描器保持在磁道中心。这例如当外壳内的激光芯片在必要的容差范围内倾斜时就会很轻易发生。由于可重写光盘依赖于光系统的高效率，因此需要使用焦距相对较短的瞄准仪。这与焦距较长的读取扫瞄器相比，使得与光轴的偏移在光束轮廓上产生了较大的不对称。而以往的解决方案不能正确地补偿磁道误差偏移。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题在本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于优化光学扫描器沿着光记录载体的磁道（１Ｌ，１Ｇ）进行的跟踪的方法，该磁道（１Ｌ，１Ｇ）具有按照致密顺序排列的信息标记（３），以及以显著更小的密度具有基本的特性改变（１Ｌ／１Ｇ，１Ｇ／１Ｌ），其特征在于，－形成磁道误差信号（Ｔ Ｅ，ＴＥＣＬ，ＰＰＴＥ），－检测磁道（１Ｌ，１Ｇ）的基本特性改变的出现，－通过将磁道误差信号（ＴＥ，ＴＥＣＬ，ＰＰＴＥ）在基本特性改变前出现的值和在基本特性改变后紧接着出现的值进行比较来形成偏移值（ＴＯ），－在考虑该 偏移值（ＴＯ）的情况下形成磁道误差信号（ＴＥ，ＴＥＣＬ，ＰＰＴＥ），－重复上述步骤。

【技术特征摘要】
DE 2002-6-7 10225271.81.一种用于优化光学扫描器沿着光记录载体的磁道(1L，1G)进行的跟踪的方法，该磁道(1L，1G)具有按照致密顺序排列的信息标记(3)，以及以显著更小的密度具有基本的特性改变(1L/1G，1G/1L)，其特征在于，-形成磁道误差信号(TE，TECL，PPTE)，-检测磁道(1L，1G)的基本特性改变的出现，-通过将磁道误差信号(TE，TECL，PPTE)在基本特性改变前出现的值和在基本特性改变后紧接着出现的值进行比较来形成偏移值(TO)，-在考虑该偏移值(TO)的情况下形成磁道误差信号(TE，TECL，PPTE)，-重复上述步骤。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，通过检测标题区来检测所述磁道(1L，1G)的基本特性改变的出现。3.根据权利要求1所...

【专利技术属性】
技术研发人员：克里斯托弗迪特里克，克里斯琴比克勒，
申请(专利权)人：汤姆森特许公司，
类型：发明
国别省市：FR[法国]