光学拾取装置、光学记录介质驱动装置和信号记录/再生方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种光学拾取装置、光学记录介质驱动装置和信号记录／再生方法，其中，光学拾取装置能够用激光照射具有在其上记录有信号的多个记录层的光学记录介质，该光学拾取装置包括：光源，发射激光；聚光元件，将从光源发射的激光聚集于光学记录介质上；相位差元件，具有被分成至少两个区域的区域，被光学记录介质反射的激光进入至少两个区域，并在被非目标层反射并分别进入所述至少两个区域的第一光和第二光之间产生相位差，以使第一光和第二光彼此削弱，该非目标层不是多个记录层中的信号的记录或再生的目标；以及光检测器，接收从相位差元件发射的激光。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种将信号记录在光学记录介质上或再生所记录 的信号的光学拾取装置、配备有该光学拾取装置的光学记录介质驱 动装置、以及信号记录/再生方法。
技术介绍
在用作光学记录介质的光盘中，已存在一种在一侧上具有两个 记录层的盘。在下文中，为方便将这种光盘称为双层盘。当使用这 种双层盘时，乂人目标层(从该双层盘的两个i己录层中进4亍记录或再 生的目标)反射的光和乂人相邻层(其不是目标层)反射的光进入才企 测器用于进行光电转换。在这种情况下，由于从相邻层反射的光的 功率(或光强度)远远低于从目标层反射的光的功率，所以在检测 器中与每种反射光的干扰是可忽略的。同样在这种情况下，由于来自相邻层的主光束没有聚焦在^r测器上，所以其束径在4全测器附近 i曽大(4列^口，参见曰本专矛J中i青7^开第2005-203090号(|殳, 图IOA、图11A等)(下文中，称为专利文件l))。另外，在用于跟踪控制的三光束方法中，来自激光光源5的激 光S皮分为三种光束作为零级4汙射光的主光束以及作为正和负一级 衍射光的子光束。通过不同于用于检测主光束的4全测器的子检测器 来检测子光束。使用这些主光束和两种子光束的推挽信号值通过预 定计算公式得到作为DPP (差分推挽，Differential Push-Pull)信号 的跟踪误差信号。通常，作ii殳主光束的功率约为子光束的功率的 10-20倍。当将该三光束方法用于上述双层盘的记录或再生时，出现以下 问题。具体地，来自目标层的子光束的功率相对近似于来自相邻层 的主光束的功率，因此，干扰等变得很明显。这种干扰导致进入子 才企测器的光的功率变化。此外，由于通过跟踪控制〗吏物4竟沿跟踪方 向移动，所以其干护O部分出现振荡，因此，出现跟踪i吴差信号的波 动。为了解决这个问题，上述的专利文件17>开了一种通过设置在 光学元件(25)中的全息区(251) 4吏来自相邻层的主光束部分书亍 射并且衍射光不进入检测器的技术。被全息区(251)衍射的主光 束中的一部分进入才企测器中的主光束的光斑(spot)的外部(见图 IIA)。因此，在来自相邻层的主光束的光斑中形成孔。设定全息区 (251)的位置、形状等以^使孔与主4全测器和子4企测器重叠。这防 止来自目标层的主光束和子光束与来自相邻层的主光束发生干才尤。作为解决上述问题的另一项技术，公开了一种将光盘的记录层 中的子光束的光斑面积i殳定4f比主光束的光斑面积大的才支术(例 3口，参见曰本专矛J申i青7^开第2006-344380号(,￡,图2、图 4)(在下文中，称为专利文件2)。生成三种光束的衍射光栅(61) 的光栅图案具有预定的规律性，从而子光束(70b)、 (70c)的光斑 变得更大。当子光束(70b)、 (70c)的光斑变得更大时，子光束的
技术实现思路
然而，在专利文件l中，必须形成至少具有与4企测器的光4^收 表面相同面积的孔，因此，当考虑到通过伺服装置会使物镜在跟踪 方向上振荡时，需要将孔的面积设定为大于检测器的光接收表面的 面积。此外，在专利文件i中，即使在从目标层反射的L1L零级光以 及L11—正和负一级光中也能得到孑L (其由于很小而不能在图11A 中看见)。因此，降低了获得用于再生的RF信号的功率，并且很大 地改变了 MTF (调制传递函lt)。这导致了信号记录或再生性能劣 化的问题，因此在专利文件1中，设置了辅助光才佥测器(247)(参 见图9)，并且将由该辅助光检测器检测到的检测信号和由主要光检 测器(240) 4企测到的4企测信号相加。然而，由于在这种情况下辅助光4企测器(247)是必需的，所 以光学拾取器的尺寸和成本增加。此外，随着光接收区的增大，信 号带减小，因此，该技术不适合高速记录和高速传递。此外，零级 光的孔必须位于光冲全测器(40)上的津奮确位置处。即，二维孔对准 是必须的。因此，至少光学元件(25)和光检测器(40)必须高精 确对准，因此不易于制造。在专利文件2中，在光盘的记录层中的子光束的光斑面积的增 大导致以下问题。例如，当用光束照射形成在光盘的记录层中的凹 槽和未形成有凹槽的边界区时，推挽信号自身会产生波动。在这种 情况下，在主光束推挽(MPP)信号的波动量和子光束推挽(SPP) 信号的波动量之间出现了4艮大差异。结果，DPP信号(即，跟踪误 差信号)出现了较大的波动。考虑到上述情况，期望纟是供一种光学4合取装置、光盘驱动装置 和信号记录/再生方法，能够防止来自目标层(具有多个记录层的光 学记录介质的信号记录或再生的目标)的光受到来自光检测器上的 非目标层的光的影响。还期望提供一种防止光学拾取装置的尺寸和成本增加以及在 其制造期间不需要高精度对准等的光学拾取装置等的技术。根据本专利技术的实施例，提供了 一种能够用激光照射具有在其上 记录有信号的多个记录层的光学记录介质的光学拾取装置。该光学 拾取装置包括光源、聚光元件、相位差元件和光纟企测器。光源发射 激光。聚光元件将从光源发射的激光聚集于光学记录介质上。相位 差元件具有^皮分成通过光学记录介质反射的激光进入的至少两个 区域的区域，并在#1非目标层反射并进入至少两个区域的第一光和 第二光之间产生相位差以使第一光和第二光彼此削弱，该非目标层 不是多个记录层中的信号的记录或再生的目标。光检测器接收从相 位差元件发射的激光。被作为多个记录层中记录或再生的目标的目标层反射的激光记录或再生的电信号。另一方面，即使第一光和第二光彼此削弱并 且削弱后的光进入光检测器，也不会影响纟皮目标层反射的激光。也就是iJL，在光4企测器上，由目标层反射的激光不太可能受由非目标 层反射的;敫光的影响。因此，例如，可以防止通过DPP方法-彈到的 跟踪误差信号的波动。在本专利技术的实施例中，除了防止跟踪误差信号的波动之外，可 以防止通过彼此相邻的记录层反射的主光束相互影响。当一个记录 介质具有三个以上的记录层并JU己录层之间的3巨离之后变4寻更短 时，不管主光束和子光束之间的差异，即，不管是否采用了三光束方法，来自不同记录层的激光应该都不易于相互干扰。在本专利技术的 实施例中，可以解决这种问题。此外，在本专利技术的实施例中，防止了上述专利文件1的光学拾 取装置的尺寸和成本增加的问题，并且不需要在制造期间的高精度 对准等。仅需要将相位差元件配置成至少第一光和第二光的相应部分 -波此削弱。在这种情况下，来自非目标层的激光的光束光斑没有聚 焦于光4企测器上并具有比光4妾收表面大的面积。聚光元件是指物镜或安装在与物镜整体移动的传动器等中的 光学系统等。第 一光和第二光彼此削弱，，还包括第 一光和第二光4皮此4氐消 的意思。在本专利技术的实施例中，光学拾取装置还包括用于将从光源发射 的激光分成主光束和子光束以生成跟踪误差信号的划分元件，并且 相位差元件产生由非目标层反射的主光束的第一光和第二光之间 的相位差。因此，可以减少由于来自多个记录层中的目标层的子光良影响。因此，可以抑制跟踪误差信号的波动。相位差元件在第一光和第二光之间产生7T[rad]的相位差。因此， 第一光和第二光基本上抵消，并且光检测器实际上可以仅检测来自 目标层的激光。例如，作为相位差元件，使用了偏振选择性元件。这里，术语 偏振可本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学拾取装置，能够用激光照射具有在其上记录有信号的多个记录层的光学记录介质，所述光学拾取装置包括：　光源，被配置为发射所述激光；　聚光元件，被配置为将从所述光源发射的所述激光聚集在所述光学记录介质上；　相位差元件，具有被分成至少两个区域的区域，被所述光学记录介质反射的所述激光进入所述至少两个区域，并且所述相位差元件被配置为在被非目标层反射并分别进入所述至少两个区域的第一光和第二光之间产生相位差，以使所述第一光和所述第二光彼此削弱，所述非目标层不是所述多个记录层中所述信号的记录和再生之一的目标；以及　光检测器，被配置为接收从所述相位差元件发射的所述激光。

【技术特征摘要】
JP 2007-9-28 2007-2534231. 一种光学拾取装置，能够用激光照射具有在其上记录有信号的多个记录层的光学记录介质，所述光学拾取装置包括光源，被配置为发射所述激光；聚光元件，被配置为将从所述光源发射的所述激光聚集在所述光学记录介质上；相位差元件，具有被分成至少两个区域的区域，被所述光学记录介质反射的所述激光进入所述至少两个区域，并且所述相位差元件被配置为在被非目标层反射并分别进入所述至少两个区域的第一光和第二光之间产生相位差，以使所述第一光和所述第二光彼此削弱，所述非目标层不是所述多个记录层中所述信号的记录和再生之一的目标；以及光检测器，被配置为接收从所述相位差元件发射的所述激光。2. 才艮据权利要求1所述的光学拾取装置，还包括划分元件，被配置为将从所述光源发射的所述激光分成 主光束和子光束以生成跟踪误差信号，其中，所述相位差元件在^C所述非目标层反射的所述主 光束的所述第一光和所述第二光之间产生相位差。3. 根据权利要求2所述的光学拾取装置，其中，所述相位差元件在所述第一光和所述第二光之间 产生兀[rad]的相位差。4. 根据权利要求1所述的光学拾取装置，其中，所述相位差元件是偏振选择性元件。5. 根据权利要求1所述的光学拾取装置，还包括偏振光分束器，置于所述激光的光路上；以及人/4 板，置于所述偏振光分束器和所述聚光元件之间的光 路上。6. 根据权利要求5所述的光学拾取装置，其中，所述相位差元件被置于所述偏振光分束器和所述 X/4才反之间的光^各上，并才艮据所述激光的线性偏4展光的状态来 产生所述相位差。7. 根据权利要求6所述的光学拾取装置，其中，所述相位差元件是具有以下材料的元件 第一材料，包括所述至少两个区域中的第一区域，以及第二材料，包括所述至少两个区域中的第二区域，所述 第二材料不同于所述第 一材料。8. 根据权利要求7所述的光学拾取装置，其中，所述相位差元件是偏振选择性元件。9. 根据权利要求6所述的光学拾取装置，其中，所述相位差元件是液晶元件。10. 根据权利要求9所述的光学拾取装置，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：坪井琢，上田映一，
申请(专利权)人：索尼日电光领株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]