一种X-Ray检测方法、系统、设备以及存储介质技术方案

本申请公开了一种X

【技术实现步骤摘要】
一种X
‑
Ray检测方法、系统、设备以及存储介质


[0001]本申请涉及检测设备领域，尤其涉及一种X
‑
Ray检测方法、系统、设备以及存储介质。

技术介绍

[0002]目前电路板在加工完成之后需要对齐内部线路是否断裂进行检测，现有的检测方式通常是利用X光机对电路板进行拍摄，之后将拍摄的图像与标准的电路板图像进行比对，从而确定电路板是否达标，但是不同的电路板，大小不同，或者电路板的陈列排布不同，标准模板也不同。
[0003]因此，基于上述问题，现有技术还有待改进。

技术实现思路

[0004]本申请的目的是实现不同排布或大小的电路板的检测。
[0005]本申请的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：本申请第一方面，公开了一种X
‑
Ray检测方法，其中，包括：获取待测产品图样的检测点参数信息；基于检测点参数信息，生成检测点的阵列模板；调节阵列模板与待测产品图样的位置关系；基于最终确定的阵列模板，形成检测点的检测路径，对待测产品进行依次检测。
[0006]本申请上述方案，通过获取待测产品图样的检测点参数信息，生成检测点的阵列模板，对阵列模板和待测样品图样的位置关系进行调节，完成后，基于最终确定的阵列模板，形成检测路径，对待测产品进行检测，保证了测量精度。
[0007]可选的，所述的X
‑
Ray检测方法，其中，还包括：预设检测的标准阵列模板以及对应的阵列参数并存储。
[0008]本申请上述方案，通过预先存储标准阵列模板以及对应的阵列参数，方便在获取待测图样的待测点参数信息后，生成阵列模板。
[0009]可选的，所述的X
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Ray检测方法，其中，获取待测产品图样的检测点参数信息的方法包括：获取待测产品图样的陈列排布信息；设置检测点的阵列参数。
[0010]本申请上述方案，通过获取待测产品图样的陈列排布信息，以及设置检测点阵列参数，便于生成检测点的阵列模板，保证检测效率。
[0011]可选的，所述的X
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Ray检测方法，其中，调节阵列模板与待测产品图样的位置关系的方法包括：检测阵列模板中的第一角检测点与产品图样第一对应角是否对位，若不对位，则进行校正对位；
检测阵列模板中与第一角相连的边线与产品图样相应边线是否对位，若不对位，则进行校正对位；检测第二角检测点与产品图样第二对应角是否对位，若不对位，则进行校正对位。
[0012]本申请上述方案，在进行检测之前，需要对阵列模板和待测样品图样之间的位置关系进行调节，首先对角检测点进行校正，再对边进行校正，接着再对另一个角检测点进行校正，从而保证阵列模板与待测样品图样的位置关系对应，保证检测精度。
[0013]本申请另一方面，公开了一种X
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Ray检测系统，其中，包括：检测点参数获取模块，用于获取待测产品图样的检测点参数信息；阵列模板生成模块，用于基于检测点参数信息，生成检测点的阵列模板；位置关系调节模块，用于调节阵列模板与待测产品图样的位置关系；检测模块，用于基于最终确定的阵列模板，形成检测点的检测路径，对待测产品进行依次检测。
[0014]本申请上述方案，通过获取待测产品图样的检测点参数信息，生成检测点的阵列模板，对阵列模板和待测样品图样的位置关系进行调节，完成后，基于最终确定的阵列模板，形成检测路径，对待测产品进行检测，保证了测量精度。
[0015]可选的，所述的X
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Ray检测系统，其中，所述系统还包括：参数预存模块，用于预设检测的标准阵列模板以及对应的阵列参数并存储。
[0016]本申请上述方案，通过预先存储标准阵列模板以及对应的阵列参数，方便在获取待测图样的待测点参数信息后，生成阵列模板。
[0017]可选的，所述的X
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Ray检测系统，其中，所述检测点参数获取模块包括：排布信息获取单元，用于获取待测产品图样的陈列排布信息；阵列参数设置单元，用于设置检测点的阵列参数。
[0018]本申请上述方案，通过获取待测产品图样的陈列排布信息，以及设置检测点阵列参数，便于生成检测点的阵列模板，保证检测效率。
[0019]可选的，所述的X
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Ray检测系统，其中，所述位置关系调节模块包括：第一位置关系调节单元，用于检测阵列模板中的第一角检测点与产品图样第一对应角是否对位，若不对位，则进行校正对位；第二位置关系调节单元，检测阵列模板中与第一角相连的边线与产品图样相应边线是否对位，若不对位，则进行校正对位；第三位置关系调节单元，检测第二角检测点与产品图样第二对应角是否对位，若不对位，则进行校正对位。
[0020]本申请上述方案，在进行检测之前，需要对阵列模板和待测样品图样之间的位置关系进行调节，首先对角检测点进行校正，再对边进行校正，接着再对另一个角检测点进行校正，从而保证阵列模板与待测样品图样的位置关系对应，保证检测精度。
[0021]本申请另一方面，公开了一种X
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Ray检测设备，其中，包括存储器和处理器，存储器存储有能够被处理器加载并执行如上所述的X
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Ray检测方法的计算机程序。
[0022]本申请另一方面，还公开了一种存储介质，其中，存储有能够被处理器加载并执行如上所述的X
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Ray检测方法的计算机程序。
[0023]综上所述，本申请公开了一种X
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Ray检测方法、系统、设备以及存储介质，其中所述
方法包括：获取待测产品图样的检测点参数信息；基于检测点参数信息，生成检测点的阵列模板；调节阵列模板与待测产品图样的位置关系；基于最终确定的阵列模板，形成检测点的检测路径，对待测产品进行依次检测，通过本申请所述方案，能够针对不同的待测产品，选取阵列模板，并可调节阵列模板与待测样品图样的位置关系，提高检测效率。
附图说明
[0024]图1是本申请所述X
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Ray检测方法的步骤流程图。
[0025]图2是本申请所述X
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Ray检测系统的结构框图。
具体实施方式
[0026]以下结合附图1
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2对本申请作进一步详细说明。
[0027]本申请基于不同大小尺寸的电路板以及不同的电路板陈列排布，对电路板进行检测的问题，提出一种X
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Ray检测方法，参阅图1，为所述方法的步骤流程图，具体的，所述方法包括：S1.获取待测产品图样的检测点参数信息；S2.基于检测点参数信息，生成检测点的阵列模板；S3.调节阵列模板与待测产品图样的位置关系；S4.基于最终确定的阵列模板，形成检测点的检测路径，对待测产品进行依次检测。
[0028]本申请实施例中，电路板的检测包含检测点，不同的电路板对应的检测点可能不同，本申请通过X
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Ray来进行电路板的检测，首先会获取待测产品图本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种X
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Ray检测方法，其特征在于，包括：获取待测产品图样的检测点参数信息；基于检测点参数信息，生成检测点的阵列模板；调节阵列模板与待测产品图样的位置关系；基于最终确定的阵列模板，形成检测点的检测路径，对待测产品进行依次检测。2.根据权利要求1所述的X
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Ray检测方法，其特征在于，还包括：预设检测的标准阵列模板以及对应的阵列参数并存储。3.根据权利要求1所述的X
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Ray检测方法，其特征在于，获取待测产品图样的检测点参数信息的方法包括：获取待测产品图样的陈列排布信息；设置检测点的阵列参数。4.根据权利要求1所述的X
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Ray检测方法，其特征在于，调节阵列模板与待测产品图样的位置关系的方法包括：检测阵列模板中的第一角检测点与产品图样第一对应角是否对位，若不对位，则进行校正对位；检测阵列模板中与第一角相连的边线与产品图样相应边线是否对位，若不对位，则进行校正对位；检测第二角检测点与产品图样第二对应角是否对位，若不对位，则进行校正对位。5.一种X
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Ray检测系统，其特征在于，包括：检测点参数获取模块，用于获取待测产品图样的检测点参数信息；阵列模板生成模块，用于基于检测点参数信息，生成检测点的阵列模板；位置关系调节模块，用于调节阵列模板与待测产品图样的位置关系；检测模块，用于基于最终确定的阵列模板，形成检测点的检测路...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐钻，高鹏，刘琴，徐焱峰，杨军鹏，
申请(专利权)人：瑞茂光学深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：