基于双路全投射光的薄膜均匀性检测系统技术方案

本发明专利技术公开了一种基于双路全投射光的薄膜均匀性检测系统，包括成像单元、采集单元、处理单元、存储单元、控制单元；所述成像单元用于产生P偏振光进行均匀照明，包括上表面成像单元、下表面成像单元，分别位于透明薄膜的上表面和下表面，以同一布儒斯特角将P偏振光分别入射到透明薄膜的上下表面实现双路全透射；所述采集单元包括载物台、多个线阵相机，用于采集所述薄膜图像，并进行多相机标定；所述处理单元用于采用预设的薄膜均匀性检测模型对所述薄膜图像进行识别，检测所述薄膜图像是否发生畸变，从而实现薄膜均匀一致性判别。本发明专利技术能够对透明薄膜的上下表面及内部进行均匀性检测。检测。检测。

【技术实现步骤摘要】
基于双路全投射光的薄膜均匀性检测系统


[0001]本专利技术涉及薄膜均匀性检测
，特别是涉及一种基于双路全投射光的薄膜均匀性检测系统。

技术介绍

[0002]薄膜广泛应用于液晶电视、平板电脑、智能手机、车载显示屏等领域，受生产工艺或生产环境等条件的限制，薄膜在生产过程中容易产生质量缺陷，主要表现在厚度不均匀、表面出现划痕、内部产生气泡，或薄膜内部掺入杂质、尘埃等，因此，薄膜均匀性检测成为薄膜类材料生产质量控制的重要一环。
[0003]传统的检测一般由有经验的检测人员目测和简单测量来实现，检测结果缺乏可靠性以及精确性，无法量化评价且难以进行长时间的观测。对于透明薄膜，比如聚脂薄膜，存在采集的薄膜图像孤立噪声点多的不足，严重影响图像的后续处理，进而影响薄膜均匀性的判别准确性。
[0004]因此亟需提供一种新型的基于双路全投射光的薄膜均匀性检测系统来解决上述问题。

技术实现思路

[0005]本专利技术所要解决的技术问题是提供一种基于双路全投射光的薄膜均匀性检测系统，能够实现透明薄膜的上下表面及内部均匀性检测。
[0006]为解决上述技术问题，本专利技术采用的一个技术方案是：提供一种基于双路全投射光的薄膜均匀性检测系统，包括成像单元、采集单元、处理单元、存储单元、控制单元；
[0007]所述成像单元用于产生P偏振光进行均匀照明，包括上表面成像单元、下表面成像单元，分别位于透明薄膜的上表面和下表面，以同一布儒斯特角将P偏振光分别入射到透明薄膜的上下表面实现双路全透射；/>[0008]所述采集单元包括载物台、两组线阵相机，用于采集薄膜图像，并进行多相机标定，两组线阵相机分别位于透明薄膜的上表面和下表面；
[0009]所述处理单元用于采用预设的薄膜均匀性检测模型对所述薄膜图像进行识别，检测所述薄膜图像是否发生畸变，从而实现薄膜均匀一致性判别；
[0010]所述存储单元用于预存各类滤波算法、薄膜均匀性检测模型和所述线阵相机获得的薄膜均匀一致和非一致典型薄膜图像库；
[0011]所述控制单元用于对所述成像单元、采集单元和处理单元的各种控制参数进行设定。
[0012]在本专利技术一个较佳实施例中，所述成像单元包括依次设置的光源、P偏振片、滤光片、准直镜、匀光镜和聚光透镜，其中心均位于同一轴线上，匀光镜位于聚光透镜焦点上，光源发出光线经过P偏振片得到P偏振光，再经过滤光片来进行光源光强和波长调节，最后依次通过准直镜、匀光镜和聚光透镜后产生均匀照明的P偏振光。
[0013]在本专利技术一个较佳实施例中，每组线阵相机分别在透明薄膜的上表面和下表面明域、暗域位置安放有两个线阵相机，来获取所有缺陷的高质量图像。
[0014]在本专利技术一个较佳实施例中，所述载物台用于承载待检测薄膜，配合外置的薄膜传送系统实现待检测薄膜的高精度成像，在起始处置和终点位置分别安装有起始位置传感器和终点位置传感器。
[0015]在本专利技术一个较佳实施例中，所述存储单元还用于预存薄膜缺陷类型、薄膜传送速度与光源、线阵相机的参数关系字典。
[0016]在本专利技术一个较佳实施例中，所述薄膜均匀性检测模型提供两种检测模式，包括精准模式和简单模式。
[0017]进一步的，所述精准模式使用并列的特征提取网络分别提取每个所述线阵相机获得的薄膜被测区域图像特征，然后使用多模态融合网络进行融合构建，并通过标注后的薄膜均匀一致和非一致薄膜图像集进行训练得到。
[0018]进一步的，所述简单模式通过将每个所述线阵相机获得的薄膜被测区域图像与所述典型薄膜图像库中对应线阵相机获得的图像进行相似度比对，按照设定的检测条件给出薄膜均匀一致性与否或者指定缺陷类型的快速简单检测。
[0019]在本专利技术一个较佳实施例中，该检测系统还包括显示单元，用于将每一个薄膜均匀性检测情况进行大屏可视化展示。
[0020]在本专利技术一个较佳实施例中，该检测系统还包括执行单元，用于检测到不合格薄膜后的操作。
[0021]本专利技术的有益效果是：
[0022](1)本专利技术通过将光源依次通过P偏振片、滤光片、准直镜、匀光镜和聚光透镜产生均匀照明的P偏振光，以同一布儒斯特角将P偏振光分别入射到透明薄膜的上下表面，实现了双路全透射，降低了反射光对线阵相机成像质量的影响；
[0023](2)本专利技术通过将薄膜上下表面透射光投射到明域、暗域位置的线阵相机进行成像，采用特征提取网络提取图像特征，使用多模态融合网络融合后进行检测，实现了透明薄膜的上下表面及内部均匀性检测；
[0024](3)本专利技术所述薄膜均匀性检测模型提供了精准模式和简单模式两种检测模式，薄膜均匀性检测更具灵活性。
附图说明
[0025]图1是本专利技术基于双路全投射光的薄膜均匀性检测系统一较佳实施例的结构框图；
[0026]图2是所述成像单元的光路框图；
[0027]图3是所述检测系统的光路原理图。
具体实施方式
[0028]下面结合附图对本专利技术的较佳实施例进行详细阐述，以使本专利技术的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本专利技术的保护范围做出更为清楚明确的界定。
[0029]请参阅图1，本专利技术实施例包括：
[0030]一种基于双路全投射光的薄膜均匀性检测系统，包括成像单元、采集单元、处理单元、存储单元、控制单元、显示单元、执行单元。
[0031]结合图2，所述成像单元用于产生P偏振光进行均匀照明，包括依次设置的光源、P偏振片、滤光片、准直镜、匀光镜和聚光透镜，其中心均位于同一轴线上，匀光镜位于聚光透镜焦点上。光源发出光线经过P偏振片得到P偏振光，再经过滤光片来进行光源光强和波长调节，依次通过准直镜、匀光镜和聚光透镜后产生均匀照明的P偏振光。所述成像单元为两组，包括上表面成像单元、下表面成像单元，分别位于透明薄膜的上表面和下表面，以同一布儒斯特角将P偏振光分别入射到透明薄膜的上下表面实现双路全透射。
[0032]进一步的，所述光源为可见光光源或激光光源或红外光源。
[0033]结合图3，所述采集单元包括载物台、滑动导轨和两组线阵相机，用于采集所述薄膜图像，并进行多相机标定。
[0034]进一步的，所述线阵相机可采用线阵CCD相机或/和CMOS相机，以提高成像效率。
[0035]所述载物台位于滑动导轨上，可以是滑动导轨的某一区域。外置的薄膜传送系统将待检测薄膜传送至滑动导轨上。所述载物台用于承载待检测薄膜，配合外置的薄膜传送系统可以实现待检测薄膜的高精度成像，如同流水线生产环节，待检测薄膜源源不断地在所述载物台经过，不需要停留便能实现图像采集、检测。
[0036]具体的，所述载物台在起始位置和终点位置分别安装有起始位置传感器和终点位置传感器，在传感器的信号辨别下，以自动开启和关闭图像采集、检测。
[0037]所述两组线阵相机分别位于透明薄膜的上表面和下表面，其中上表面线阵相机用于接收下表面成像单元入射到下表面后经上表面透射出的光线进本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于双路全投射光的薄膜均匀性检测系统，其特征在于，包括成像单元、采集单元、处理单元、存储单元、控制单元；所述成像单元用于产生P偏振光进行均匀照明，包括上表面成像单元、下表面成像单元，分别位于透明薄膜的上表面和下表面，以同一布儒斯特角将P偏振光分别入射到透明薄膜的上下表面实现双路全透射；所述采集单元包括载物台、两组线阵相机，用于采集薄膜图像，并进行多相机标定，两组线阵相机分别位于透明薄膜的上表面和下表面；所述处理单元用于采用预设的薄膜均匀性检测模型对所述薄膜图像进行识别，检测所述薄膜图像是否发生畸变，从而实现薄膜均匀一致性判别；所述存储单元用于预存各类滤波算法、薄膜均匀性检测模型和所述线阵相机获得的薄膜均匀一致和非一致典型薄膜图像库；所述控制单元用于对所述成像单元、采集单元和处理单元的各种控制参数进行设定。2.根据权利要求1所述的基于双路全投射光的薄膜均匀性检测系统，其特征在于，所述成像单元包括依次设置的光源、P偏振片、滤光片、准直镜、匀光镜和聚光透镜，其中心均位于同一轴线上，匀光镜位于聚光透镜焦点上，光源发出光线经过P偏振片得到P偏振光，再经过滤光片来进行光源光强和波长调节，最后依次通过准直镜、匀光镜和聚光透镜后产生均匀照明的P偏振光。3.根据权利要求1所述的基于双路全投射光的薄膜均匀性检测系统，其特征在于，每组线阵相机分别在透明薄膜的上表面和下表面明域、暗域位置安放有两个线阵相机，来获取所有缺陷的高质量图像。4.根据权利要求1所述的基于双...

【专利技术属性】
技术研发人员：董俊，马冬，何俊明，马凡，徐盼盼，姜铭坤，黄小文，
申请(专利权)人：安徽中科德技智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：