【技术实现步骤摘要】
基于双路全投射光的薄膜均匀性检测系统
[0001]本专利技术涉及薄膜均匀性检测
，特别是涉及一种基于双路全投射光的薄膜均匀性检测系统。
技术介绍
[0002]薄膜广泛应用于液晶电视、平板电脑、智能手机、车载显示屏等领域，受生产工艺或生产环境等条件的限制，薄膜在生产过程中容易产生质量缺陷，主要表现在厚度不均匀、表面出现划痕、内部产生气泡，或薄膜内部掺入杂质、尘埃等，因此，薄膜均匀性检测成为薄膜类材料生产质量控制的重要一环。
[0003]传统的检测一般由有经验的检测人员目测和简单测量来实现，检测结果缺乏可靠性以及精确性，无法量化评价且难以进行长时间的观测。对于透明薄膜，比如聚脂薄膜，存在采集的薄膜图像孤立噪声点多的不足，严重影响图像的后续处理，进而影响薄膜均匀性的判别准确性。
[0004]因此亟需提供一种新型的基于双路全投射光的薄膜均匀性检测系统来解决上述问题。
技术实现思路
[0005]本专利技术所要解决的技术问题是提供一种基于双路全投射光的薄膜均匀性检测系统，能够实现透明薄膜的上下表面及
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于双路全投射光的薄膜均匀性检测系统，其特征在于，包括成像单元、采集单元、处理单元、存储单元、控制单元；所述成像单元用于产生P偏振光进行均匀照明，包括上表面成像单元、下表面成像单元，分别位于透明薄膜的上表面和下表面，以同一布儒斯特角将P偏振光分别入射到透明薄膜的上下表面实现双路全透射；所述采集单元包括载物台、两组线阵相机，用于采集薄膜图像，并进行多相机标定，两组线阵相机分别位于透明薄膜的上表面和下表面；所述处理单元用于采用预设的薄膜均匀性检测模型对所述薄膜图像进行识别，检测所述薄膜图像是否发生畸变，从而实现薄膜均匀一致性判别；所述存储单元用于预存各类滤波算法、薄膜均匀性检测模型和所述线阵相机获得的薄膜均匀一致和非一致典型薄膜图像库；所述控制单元用于对所述成像单元、采集单元和处理单元的各种控制参数进行设定。2.根据权利要求1所述的基于双路全投射光的薄膜均匀性检测系统，其特征在于，所述成像单元包括依次设置的光源、P偏振片、滤光片、准直镜、匀光镜和聚光透镜，其中心均位于同一轴线上，匀光镜位于聚光透镜焦点上，光源发出光线经过P偏振片得到P偏振光，再经过滤光片来进行光源光强和波长调节，最后依次通过准直镜、匀光镜和聚光透镜后产生均匀照明的P偏振光。3.根据权利要求1所述的基于双路全投射光的薄膜均匀性检测系统，其特征在于，每组线阵相机分别在透明薄膜的上表面和下表面明域、暗域位置安放有两个线阵相机，来获取所有缺陷的高质量图像。4.根据权利要求1所述的基于双...
【专利技术属性】
技术研发人员：董俊，马冬，何俊明，马凡，徐盼盼，姜铭坤，黄小文，
申请(专利权)人：安徽中科德技智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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