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本发明公开了一种基于双路全投射光的薄膜均匀性检测系统，包括成像单元、采集单元、处理单元、存储单元、控制单元；所述成像单元用于产生P偏振光进行均匀照明，包括上表面成像单元、下表面成像单元，分别位于透明薄膜的上表面和下表面，以同一布儒斯特角将P...
该专利属于安徽中科德技智能科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过安徽中科德技智能科技有限公司授权不得商用。

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