对反光式信息面进行光扫描的装置制造方法及图纸

描述一种用于对信息面２进行光扫描的装置，其中，透镜系统６把由二极管激光器４发射的光束ｂ聚焦在该信息面上、并把由该表面反射的光束经由复合衍射光栅９聚焦成两个光点Ｖ－［１］和Ｖ－［２］，后者分别与分开的检测器对１８、１９及２０、２１合作。检测器对的分离条纹２２、２３是平行的，从而，在元件９、２０的位置方面提供相当宽的公差范围，同时，该装置在光束ｂ的波长变化方面得到令人满意的校正。图２。（*该技术在2009年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及对反光式信息面进行光扫描的装置，该装置包括提供扫描光束的二极管激光器;用于使扫描光束在信息面上聚焦成扫描光点并使扫描光点在复合的辐射敏感检测系统上再成象的物镜系统;以及安装在二极管激光器和物镜系统之间光路中的复合衍射元件，该元件用于使由信息面反射的一部分光束向辐射敏感检测系统偏转并把所述衍射光束分裂成许多子光束，这些子光束在所述复合捡测系统的相应的许多检测器对上形成相应的许多光点，与一个检测器对关联的两个检测器之间的分离条纹的取向使得由扫描光束的波长变化引起的再成象光点的偏移不会对检测信号有任何影响。美国专利4，665，310公开了这种类型的装置，它在原则上适合于阅读记录在光记录载体上的信息，以及适合于对这种记录载体进行光学记录。在该装置中，衍射光栅式的复合衍射元件完成两种功能(在没有该复合衍射元件的情况下，这两种功能是由两个独立的元件完成的)。第一，该光栅确保由信息面反射并穿过物镜系统的光束偏离由二极管激光器所发射的光束的路径，使得能够在反射光线的路径中设置检测系统。第二，该光栅把被反射的光束分裂成产生聚焦误差信号(即，一种包含关于物镜系统焦面和该信息面之间偏移本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种对反光式信息面进行光扫描的装置，该装置的包括：提供扫描光束的二极管激光器；用于使扫描光束在信息面上聚焦成扫描光点并使扫描光点在复合的辐射敏感检测系统上再成象和物镜系统；以及安装在二极管激光器和物镜系统之间光路中的复合衍射元件，该元件用于使由信息面反射的一部分光束向辐射敏感检测系统偏转并把所述偏转光束分裂成许多子光束，这些子光束在所述复合检测系统的相应的许多检测器对上形成相应的许多光点，与一个检测器对关联的两个检测器之间的分离条纹的取向使得由扫描光束的波长变化引起的再成象光点的偏移不会对检测信号有任何影响，其特征在于：检测器对的分离条纹基本上平行于从二极管激光器的发光表面的中心的连接线。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】NL 1988-11-3 88026891.一种对反光式信息面进行光扫描的装置，该装置包括提供扫描光束的二极管激光器；用于使扫描光束在信息面上聚焦成扫描光点并使扫描光点在复合的辐射敏感检测系统上再成象的物镜系统；以及安装在二极管激光器和物镜系统之间光路中的复合衍射元件，该元件用于使由信息面反射的一部分光束向辐射敏感检测系统偏转并把所述偏转光束分裂成许多子光束，这些子光束在所述复合检测系统的相应的许多检测器对上形成相应的许多光点，与一个检测器对关联的两个检测器之间的分离条纹的取向使得由扫描光束的波长变化引起的再成象光点的偏移不会对检测信号有任何影响，其特征在于检测器对的分离条纹基本上平行于从二极管激光器的发光表面的中心的连接线。2.如权利要求1中所要求的装置，其中，衍射元件是包括两个子光栅的衍射光栅，其特征在于这些子光栅具有变化的光栅周期和弯曲的光栅条纹。3.如权利要求1或2中所要求的装置，其中，衍射元件是包括两个子光栅的衍射光栅，其特征在于两个子光栅的光栅条纹具有相同的主方向，两个子光栅的平均光栅周期是不同的，各检测器对在平行于子光栅之间的边...

【专利技术属性】
技术研发人员：彼得库普斯，阿德里安纳斯约翰内斯杜伊维斯庭，
申请(专利权)人：皇家菲利浦电子有限公司，
类型：发明
国别省市：NL[荷兰]