一种矩阵式芯片测试与程序烧录方式装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种矩阵式芯片测试与程序烧录方式装置，包括：为整个装置提供安装和支撑平台的机壳；呈矩阵式排布于机壳上的多组测试工位，每组测试工位包括：测试主板设有SD卡电路和测试辅助电路；与测试主板连接的IC测试座，IC测试座用于容置待测芯片并使待测芯片与测试主板相连；与测试主板连接的测试副板，测试副板设有用于与测试主板SD卡电路连接的SD卡接口，通过测试副板使测试主板的SD卡接口电路连接转接至外部；与测试主板连接的用于显示测试和烧录状态的显示屏。本实用新型专利技术改善了传统的单一结构存在的烧录芯片效率低下的问题，节约了时间成本提升了生产效率，测试工位以矩阵式排布大成度的节约了空间。以矩阵式排布大成度的节约了空间。以矩阵式排布大成度的节约了空间。

【技术实现步骤摘要】
一种矩阵式芯片测试与程序烧录方式装置


[0001]本技术涉及半导体集成电路测试领域，具体地，涉及一种矩阵式芯片测试与程序烧录方式装置。

技术介绍

[0002]对于主控芯片或核心模块方案方案类产品，产品在使用的过程中必须要进测试和程序烧录，如果芯片不能有效的进行贴装前测试验证，如出现坏料，或买到残次品，贴装后出现批量产品问题，后续的返修成本与整体的产品交货效率不能很好的把控损失。
[0003]目前市场上的主要烧录测试装置主要包括一个芯片放置座和一个测试板，在烧录程序时，即将代码通过某种协议烧录到芯片的内部存储单元，程序占一部分存储空间，烧录软件在烧录的过程中都会出现等待时间，在这段等待时间很大程度占用的人员工时，影响了烧录效率。
[0004]经检索发现申请号为201810834677.3的中国专利，公开了一种同时烧录多个芯片的装置、方法、系统和存储介质，为了解决烧录芯片效率低下的问题，该装置通过向多通道烧录器，分别对多个芯片进行烧录，同时实时检测各芯片的烧录进度，判断各芯片的烧录结果，从而实现同时烧录多个芯片，但是其结构复杂，成本本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种矩阵式芯片测试与程序烧录方式装置，其特征在于，包括：机壳，所述机壳为整个装置提供安装和支撑平台；多组测试工位，所述多组测试工位呈矩阵式排布于所述机壳上，每组测试工位包括：测试主板，所述测试主板设有用于程序烧录的SD卡电路和用于测试待测芯片的测试辅助电路；与所述测试主板连接的IC测试座，所述IC测试座用于容置所述待测芯片并使所述待测芯片与所述测试主板相连，通过所述测试辅助电路对所述待测芯片进行测试；与所述测试主板连接的测试副板，所述测试副板设有用于与所述测试主板SD卡电路连接的SD卡接口，通过所述测试副板使所述测试主板的SD卡接口电路连接转接至外部；与所述测试主板连接的显示屏，所述显示屏用于显示测试和烧录状态。2.根据权利要求1所述的矩阵式芯片测试与程序烧录方式装置，其特征在于，所述测试副板通过第一FPC连接器与所述测试主板相连。3.根据权利要求2所述的矩阵式芯片测试与程序烧录方式装置，其特征在于，所述测试副板设有观察灯，所述观察灯通过所述第一FPC连接器与所述测试主板的电源相连，使用以测试所述待测芯片所需要的电源通过所述第一FPC连接器引出至所述测试副板上，通过观察所述观察灯的状态实现目视观察测试所述待测芯片所需电源是否正常。4.根据权利要求1所述的矩阵式芯片测试与程序烧录方式装置，其特征在于，所述显示屏通过第二FPC连接器与所述测试主板相连。5.根据权利要求1所述的矩阵式芯片测试与程序烧录方式装置，其特征在于，所述IC测试座包括：底座；探针，所述探针沿竖向夹持于所述底座上，所述探针的下端与所述测试主板连接，所述探针的上端用于连接所述待测芯片；设置于所述底座上具有中心空间的定座，所述中心空间用于容纳所述探针，所述定座的中心空间内设有限位装置，所述限位装置对所述待测芯片的安装位置进行限位，使所述待测芯片位于所述探针的正上方；设置于所述限位装置上方的高度调节板，且所述高度调节板位于所述待测芯片的上方，可通过调节所述高度调节板的高度从而调节向所述待测芯片施加按压力度，使所述待测芯片与所述探针连接或断开连接；与所述定座连接且可翻转的扣紧装置，所述扣紧装置盖于所述待测芯片的上方使所述定座的上方...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙自宇，周海涛，
申请(专利权)人：上海冠显光电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：