一种多功能芯片测试治具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种多功能芯片测试治具，包括底板，所述底板上表面固定有固定块和快速夹，所述固定块和快速夹分别位于底板的两端，所述固定块上固定有第一探针固定组件，所述快速夹的一端通过固定座固定有第二探针固定组件，所述第一探针固定组件与第二探针固定组件之间设置有组合式芯片固定组件；本实用新型专利技术主要通过芯片固定组件、第一探针固定组件、第二探针固定组件和快速夹的配合使用，通过组合式芯片固定组件，使芯片固定组件根据不同芯片的生产进行组装，从而使一个治具可以适用于多种芯片的测试，一定程度上提高测试治具的功能，降低了不同芯片生产的测试成本，以及降低了新机种治具研发时间。了新机种治具研发时间。了新机种治具研发时间。

【技术实现步骤摘要】
一种多功能芯片测试治具


[0001]本技术涉及测试治具
，具体为一种多功能芯片测试治具。

技术介绍

[0002]芯片是半导体元件产品的统称，又称微电路、微芯片、集成电路，是指内含集成电路的硅片，体积很小，常常是计算机或其他电子设备的—部分。在芯片生产工艺中，为确保产出的芯片性能正常，需将产出的芯片进行功能性测试，在测试时，通常使用芯片专用测试治具与测试设备匹配使用，但是，现有芯片测试治具大多的功能专一，一个治具只能用于一种芯片的测试，不能适用于不同种类有芯片的测试，从而增加不同芯片生产的测试成本，以及增加新机种治具研发时间，因此我们需要提出一种多功能芯片测试治具。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于提供一种多功能芯片测试治具，通过芯片固定组件、探针固定组件和快速夹的配合使用，使一个治具可以适用于多种芯片的测试，以解决
技术介绍
中提出的现有的芯片测试治具功能单一，增加不同芯片生产的测试成本，以及增加新机种治具研发时间的问题。
[0004]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种多功能芯片测试治具，包括底板，所述底板上表面固定有固定块和快速夹，所述固定块和快速夹分别位于底板的两端，所述固定块上固定有第一探针固定组件，所述快速夹的一端通过固定座固定有第二探针固定组件，且所述固定座与底板滑动连接，所述第一探针固定组件与第二探针固定组件之间设置有组合式芯片固定组件，所述芯片固定组件与底板滑动连接，且所述芯片固定组件通过螺栓与底板固定，所述第一探针固定组件和第二探针固定组件上均设置有探针，所述探针的一端与芯片固定组件的外壁贴合。
[0005]优选的，所述第一探针固定组件包括第一T形块和矩形带有凹口的第一夹紧块，所述第一夹紧块通过螺栓固定在第一夹紧块的一侧，所述第一T形块的横置杆通过螺栓与固定块固定连接。
[0006]优选的，所述第二探针固定组件包括第二T形块和矩形带有凹口的第二夹紧块，所述第二夹紧块通过螺栓固定在第二T形块的一侧，所述固定座呈匚形设置所述第二T形块横置杆固定在固定座的内部，所述固定座的下端固定有限位块，所述底板的上表面开设有供限位块滑动的第一滑槽。
[0007]优选的，所述第一探针固定组件与第二探针固定组件呈对称设置，所述第一夹紧块和第二夹紧块的一侧均开设有供探针的一端贯穿的通孔，且所述第一T形块和第二T形块上均开设有供探针的另一端固定的圆孔。
[0008]优选的，所述芯片固定组件包括固定架和矩形的上料块，所述固定架包括纵向板和两个竖板，两个所述竖板固定在纵向板的上表面，所述上料块通过紧固螺栓固定在两个竖板之间，所述纵向板的下端固定有两个定位块，所述底板的上表面开设有供两个定位块
滑动的第二滑槽，所述底板的两端上表面开设有供螺栓贯穿的通孔，所述上料块的上表面开设有供探针穿过的缺口，所述缺口的两侧分别开设有供芯片限位的限位槽。
[0009]优选的，所述上料块的下端固定有凸块，所述纵向板的上表面开设有供凸块插入的第三滑槽，且所述第三滑槽的长度与两个纵向板之间的距离相同。
[0010]优选的，所述快速夹包括固定板、把手和连接杆，所述固定板通过螺栓与底板固定，所述把手的一端与固定板转动连接，所述连接杆的一端与把手的侧壁转动连接，所述连接杆的另一端与固定座的外壁固定。
[0011]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0012]1、本技术主要通过芯片固定组件、第一探针固定组件、第二探针固定组件和快速夹的配合使用，通过组合式芯片固定组件，使芯片固定组件根据不同芯片的生产进行组装，从而使一个治具可以适用于多种芯片的测试，一定程度上提高测试治具的功能，降低了不同芯片生产的测试成本，以及降低了新机种治具研发时间。
附图说明
[0013]图1为本技术的结构示意图；
[0014]图2为本技术的剖面结构示意图；
[0015]图3为本技术的俯视结构示意图；
[0016]图4为本技术的芯片固定组件结构示意图。
[0017]图中：1、底板；2、固定块；3、第一探针固定组件；4、探针；5、芯片固定组件；6、固定座；7、第二探针固定组件；8、限位块；9、第一滑槽；10、固定板；11、把手；12、连接杆；13、第二滑槽；14、紧固螺栓；15、定位块；16、凸块；17、第三滑槽；18、缺口；19、纵向板；20、竖板；301、第一T形块；302、第一夹紧块；501、固定架；502、上料块；701、第二T形块；702、第二夹紧块。
具体实施方式
[0018]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0019]请参阅图1
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4，本技术提供一种技术方案：一种多功能芯片测试治具，包括底板1，底板1上表面固定有固定块2和快速夹，固定块2和快速夹分别位于底板1的两端，固定块2上固定有第一探针固定组件3，快速夹的一端通过固定座6固定有第二探针固定组件7，且固定座6与底板1滑动连接，第一探针固定组件3与第二探针固定组件7之间设置有组合式芯片固定组件5，芯片固定组件5与底板1滑动连接，且芯片固定组件5通过螺栓与底板1固定，第一探针固定组件3和第二探针固定组件7上均设置有探针4，探针4的一端与芯片固定组件5的外壁贴合；
[0020]通过组合式芯片固定组件5的设置，可根据不同芯片的生产需求进行组装芯片固定组件5，通过芯片固定组件5、第一探针固定组件3、第二探针固定组件7和快速夹的配合使用，从而使一个治具可以适用于多种芯片的测试，一定程度上提高测试治具的功能，降低了不同芯片生产的测试成本，以及降低了新机种治具研发时间
[0021]第一探针固定组件3包括第一T形块301和矩形带有凹口的第一夹紧块302，第一夹紧块302通过螺栓固定在第一夹紧块302的一侧，第一T形块301的横置杆通过螺栓与固定块2固定连接，通过第一夹紧块302将探针4固定，再通过第一夹紧块302对探针4进行支撑和固定，且第一夹紧块302为可拆卸设置，便于对探针4的安装和更换；
[0022]第二探针固定组件7包括第二T形块701和矩形带有凹口的第二夹紧块702，第二夹紧块702通过螺栓固定在第二T形块701的一侧，固定座6呈匚形设置第二T形块701横置杆固定在固定座6的内部，固定座6的下端固定有限位块8，底板1的上表面开设有供限位块8滑动的第一滑槽9，通过限位块8的设置，便于通过快速夹带动第二探针固定组件7移动，便于对芯片的功能进行测试；
[0023]第一探针固定组件3与第二探针固定组件7呈对称设置，第一夹紧块302和第二夹紧块702的一侧均开设有供探针4的一端贯穿的通孔，且第一T形块301和第二T形块701上均开设有供探针4的另一本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多功能芯片测试治具，包括底板(1)，其特征在于：所述底板(1)上表面固定有固定块(2)和快速夹，所述固定块(2)和快速夹分别位于底板(1)的两端，所述固定块(2)上固定有第一探针固定组件(3)，所述快速夹的一端通过固定座(6)固定有第二探针固定组件(7)，且所述固定座(6)与底板(1)滑动连接，所述第一探针固定组件(3)与第二探针固定组件(7)之间设置有组合式芯片固定组件(5)，所述芯片固定组件(5)与底板(1)滑动连接，且所述芯片固定组件(5)通过螺栓与底板(1)固定，所述第一探针固定组件(3)和第二探针固定组件(7)上均设置有探针(4)，所述探针(4)的一端与芯片固定组件(5)的外壁贴合。2.根据权利要求1所述的一种多功能芯片测试治具，其特征在于：所述第一探针固定组件(3)包括第一T形块(301)和矩形带有凹口的第一夹紧块(302)，所述第一夹紧块(302)通过螺栓固定在第一夹紧块(302)的一侧，所述第一T形块(301)的横置杆通过螺栓与固定块(2)固定连接。3.根据权利要求2所述的一种多功能芯片测试治具，其特征在于：所述第二探针固定组件(7)包括第二T形块(701)和矩形带有凹口的第二夹紧块(702)，所述第二夹紧块(702)通过螺栓固定在第二T形块(701)的一侧，所述固定座(6)呈匚形设置所述第二T形块(701)横置杆固定在固定座(6)的内部，所述固定座(6)的下端固定有限位块(8)，所述底板(1)的上表面开设有供限位块(8)滑动的第一滑槽(9)。4.根据权利要求3所述的一种多功能芯片测试治具，其特征在于：所述第一探针固定组件(3)...

【专利技术属性】
技术研发人员：张锋，
申请(专利权)人：昆山卓力达精密金属部品有限公司，
类型：新型
国别省市：