一种多功能芯片测试治具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种多功能芯片测试治具，包括底板，所述底板上表面固定有固定块和快速夹，所述固定块和快速夹分别位于底板的两端，所述固定块上固定有第一探针固定组件，所述快速夹的一端通过固定座固定有第二探针固定组件，所述第一探针固定组件与第二探针固定组件之间设置有组合式芯片固定组件；本实用新型专利技术主要通过芯片固定组件、第一探针固定组件、第二探针固定组件和快速夹的配合使用，通过组合式芯片固定组件，使芯片固定组件根据不同芯片的生产进行组装，从而使一个治具可以适用于多种芯片的测试，一定程度上提高测试治具的功能，降低了不同芯片生产的测试成本，以及降低了新机种治具研发时间。了新机种治具研发时间。了新机种治具研发时间。

【技术实现步骤摘要】
一种多功能芯片测试治具


[0001]本技术涉及测试治具
，具体为一种多功能芯片测试治具。

技术介绍

[0002]芯片是半导体元件产品的统称，又称微电路、微芯片、集成电路，是指内含集成电路的硅片，体积很小，常常是计算机或其他电子设备的—部分。在芯片生产工艺中，为确保产出的芯片性能正常，需将产出的芯片进行功能性测试，在测试时，通常使用芯片专用测试治具与测试设备匹配使用，但是，现有芯片测试治具大多的功能专一，一个治具只能用于一种芯片的测试，不能适用于不同种类有芯片的测试，从而增加不同芯片生产的测试成本，以及增加新机种治具研发时间，因此我们需要提出一种多功能芯片测试治具。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于提供一种多功能芯片测试治具，通过芯片固定组件、探针固定组件和快速夹的配合使用，使一个治具可以适用于多种芯片的测试，以解决
技术介绍
中提出的现有的芯片测试治具功能单一，增加不同芯片生产的测试成本，以及增加新机种治具研发时间的问题。
[0004]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种多功能芯片测试治具，包括底板，所述本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多功能芯片测试治具，包括底板(1)，其特征在于：所述底板(1)上表面固定有固定块(2)和快速夹，所述固定块(2)和快速夹分别位于底板(1)的两端，所述固定块(2)上固定有第一探针固定组件(3)，所述快速夹的一端通过固定座(6)固定有第二探针固定组件(7)，且所述固定座(6)与底板(1)滑动连接，所述第一探针固定组件(3)与第二探针固定组件(7)之间设置有组合式芯片固定组件(5)，所述芯片固定组件(5)与底板(1)滑动连接，且所述芯片固定组件(5)通过螺栓与底板(1)固定，所述第一探针固定组件(3)和第二探针固定组件(7)上均设置有探针(4)，所述探针(4)的一端与芯片固定组件(5)的外壁贴合。2.根据权利要求1所述的一种多功能芯片测试治具，其特征在于：所述第一探针固定组件(3)包括第一T形块(301)和矩形带有凹口的第一夹紧块(302)，所述第一夹紧块(302)通过螺栓固定在第一夹紧块(302)的一侧，所述第一T形块(301)的横置杆通过螺栓与固定块(2)固定连接。3.根据权利要求2所述的一种多功能芯片测试治具，其特征在于：所述第二探针固定组件(7)包括第二T形块(701)和矩形带有凹口的第二夹紧块(702)，所述第二夹紧块(702)通过螺栓固定在第二T形块(701)的一侧，所述固定座(6)呈匚形设置所述第二T形块(701)横置杆固定在固定座(6)的内部，所述固定座(6)的下端固定有限位块(8)，所述底板(1)的上表面开设有供限位块(8)滑动的第一滑槽(9)。4.根据权利要求3所述的一种多功能芯片测试治具，其特征在于：所述第一探针固定组件(3)...

【专利技术属性】
技术研发人员：张锋，
申请(专利权)人：昆山卓力达精密金属部品有限公司，
类型：新型
国别省市：