【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种用于磁光盘和光盘等装置中的光学拾取器，更为明确地讲，是旨在通过使用由两块棱镜，偏振膜和光栅构成的组合棱镜来减少光学系统的元件数量和缩短系统的光路长度。一般来讲，用于磁光盘和光盘等中的光学拾取器具有一个用于检测来自记录介质的射频信号的光学系统，一个用于检测聚焦误差的光学系统，和一个用于检测道跟踪误差的光学系统。如附图说明图1所示，在上述光学拾取器的光学系统中，一个光学系统被安排在使光入射到记录介质2上的出发光路上。安排在出发光路上的该光学系统由激光光源1，和一个邻接着光源1安排在光轴上的准直透镜3，记录介质2，第一偏振分束器4和第一凸透镜5构成。因而，发自光源1的光由准直透镜3准直，透过第一偏振分束器4，入射到第一凸透镜5，并由第一凸透镜5会聚到记录介质2上。此外，在光学拾取器的光学系统中，有一个光学系统被安排在用于检测记录介质2所反射的光的返回光路上。安排在返回光路上的该光学系统用于检测自记录介质2返回的光束，这部分光由第一偏振分束器4分出来。由第一偏振分束器4反射的返回光束光轴上设置有一个半波片6，第二凸透镜7，凹透镜8，第二偏振分束器9...
【技术保护点】
一种光学拾取器，用于把光束投射到记录介质上并检测从该记录介质反射回来的光，从而读出来自所述记录介质的信号，它包括：一个用于发射激光的光发射装置；一个由非轴晶体材料构成，并接收所述光发射装置发出的所述光的第一光学元件；一个由单轴晶 体材料构成，经由偏振膜粘到所述第一光学元件上的第二光学元件；一个第一检测装置，当所述光发射装置发出的光透过所述第一光学元件而被所述偏振膜反射，且所述偏振膜反射的光照射到记录介质上，经所述记录介质反射而返回的光再次进入所述第一光学元件并透 过所述偏振膜继续进入所述第二光学元件之后，检测透过所述第二光学元件的光；一个设置在所...
【技术特征摘要】
JP 1995-4-18 092833/951.一种光学拾取器，用于把光束投射到记录介质上并检测从该记录介质反射回来的光，从而读出来自所述记录介质的信号，它包括一个用于发射激光的光发射装置；一个由非轴晶体材料构成，并接收所述光发射装置发出的所述光的第一光学元件；一个由单轴晶体材料构成，经由偏振膜粘到所述第一光学元件上的第二光学元件；一个第一检测装置，当所述光发射装置发出的光透过所述第一光学元件而被所述偏振膜反射，且所述偏振膜反射的光照射到记录介质上，经所述记录介质反射而返回的光再次进入所述第一光学元件并透过所述偏振膜继续进入所述第二光学元件之后，检测透过所述第二光学元件的光；一个设置在所述记录介质反射光光路中的光栅；及一个第二检测装置，当所述光发射装置发出的光透过所述第一光学元件且透过所述偏振膜的光再透过所述第二光学元件之后，对该光进行检测。2.如权利要求1所述的光学拾取器，其中所述第一光学元件是平行四边形的，且第二光学元件是梯形的。3.如权利要求1所述的光学拾取器，其中所述第一检测装置与所述第二检测装置被设置在同一平面上。4.如权利要求1所述的光学拾取器，其中所述的光学拾取器进一步包括一个设置在所述第一光学元件光路中的第二光栅。5.如权利要求1所述的光学拾取器，其中用于检测通过所述第二光学元件被分裂且通过光栅被衍射的各0级光线，各+1级光线和各-1级光线的装置包括一个检测寻常光0级光线的光电探测器；一个检测非常光0级光线的光电探测器；一个检测寻常光-1级光线的三分光电探测器；一个检测非常光+1级光线的三分光电探测器。6.如权利要求5所述的光学拾取器，其中的光学拾取器包括一个检测所述寻常光+1级光线的二分光电探测器，和一个检测所述非常光-1级光线的二分光电探测器。7.如权利要求1所述的光学拾取器，其中所述光栅设置在...
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