测试光盘存储介质质量的方法和装置制造方法及图纸

用于测试一种光盘存储介质的方法和装置首先记录测试数据在光盘的一个外部区域中。当制造一个已被预先记录的磁盘时，光盘的此外部区域没有被使用，而其也没有被一次写入光盘的用户使用。光盘的质量是根据从光盘的外部区域中再现的测试根据中产生的测试信号来判断的。（*该技术在2017年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种可以用于测试光盘存储介质的质量的方法和装置及一种光盘存储介质；更具体地说是涉及一种被提高了准确性和可靠性的方法和装置。盘存储介质被分为两类，磁盘和光盘如只读光盘(CD)。由于光盘巨大的存储容量，对其的需要正在快速地增加。附图说明图1A和1B所示为常规的光盘。这些磁盘的半径L1为60mm，中心孔的直径为15mm。图1A显示了一个已被预先记录的光盘。如图1A所示，光盘的记录区包括一个导入起始点BLI，一个主存储区起始点BPL，和一个导出起始点BLO。信息被写入主存储区起始点BPL与导出起始点BLO之间的主存储区MSA内。图1B显示了一个常规的一次写入的光盘，在其上面还没有记录信息。与图1A中的光盘一样，图1B中的光盘也具有一个记录区，当信息被记录到其上时，此信息被记录在主存储区MSA中。如图1A和1B所示，记录区的一个外部区域不用于存储信息。其提供了一个对制造缺陷的裕量，因为由于所使用的制造技术，缺陷更容易出现在记录区的外部区域中。对磁盘和磁光盘而言，常规的质量测试方法包括在盘的导入区或主存储区中记录信号，再现这些测试信号，并将测试信号与参考信号进行比较以确定质量本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测试光盘存储介质质量的方法，其特征在于包括： 再现上述光盘存储介质中的一个外部区域中的测试数据以产生一个测试信号，上述光盘的上述外部区域被环形地定位在一个主存储区外侧；和根据上述再现的测试信号判断上述光盘存储介质的质量。

【技术特征摘要】
KR 1996-12-19 68282/961.一种用于测试光盘存储介质质量的方法，其特征在于包括再现上述光盘存储介质中的一个外部区域中的测试数据以产生一个测试信号，上述光盘的上述外部区域被环形地定位在一个主存储区外侧；和根据上述再现的测试信号判断上述光盘存储介质的质量。2.权利要求1所要求的方法，其中上述光盘存储介质的外部区域分布在从上述光盘存储介质的最外点到上述光盘存储介质的一个预定点的范围内。3.权利要求2所要求的方法，其中上述预定点被环形地定位于上述主信息存储区的一个导出区的外侧。4.权利要求1所要求的方法，其中在上述再现步骤中连续地再现上述外部区域中的上述测试数据以产生上述测试信号。5.权利要求1所要求的方法，其中在上述再现步骤中从上述外部区域的一个内侧段到上述外部区域的一个外侧段再现上述测试数据，上述内侧段比上述外侧段更靠近上述光盘存储介质的中心。6.权利要求1所要求的方法，在上述再现步骤中，从上述外部区域的一个外侧段到上述外部区域的一个内侧段再现上述测试数据，上述内侧段比上述外侧段更靠近上述光盘存储介质的中心。7.权利要求1所要求的方法，在上述再现步骤中，以周期性的间隔沿上述外部区域再现上述测试数据。8.权利要求1所要求的方法，在上述再现步骤中，从上述外部区域的各段中再现上述测试数据。9.权利要求1所要求的方法，另外包括当上述判断步骤判断上述光盘存储介质为劣质时向操作者发出一个警报。10.权利要求1所要求的方法，其中上述再现步骤再现一个槽模式信号作为上述测试信号，上述槽模式信号代表了上述光盘存储介质的上述外部区域中的一个预定的槽模式。上述判断步骤根据上述槽模式信号和一个表示了上述预定槽模式的参考信号来判断上述光盘存储介质的质量。11.权利要求10所要求的方法，在其上述判断步骤中将上述槽模式信号与上述参考信号进行比较，确定在上述槽模式信号中与上述参考信号匹配的信息的数量，如果上述信息数量大于一个预定的阈值时确定上述光盘存储介质为优质。12.权利要求10所要求的方法，其中上述预定模式为一个3T槽模式。13.权利要求1所要求的方法，其中上述再现步骤再现上述测试信号并产生一个位模式；上述判断步骤根据上述位模式和一个预定的位模式来判断上述光盘存储介质的质量。14.权利要求13所要求的方法，其中在上述判断步骤中将上述位模式与上述预定的位模式进行比较，确定在上述位模式信号中与上述预定的位模式匹配的信息的数量，如果上述信息数量大于一个预定的阈值时确定上述光盘存储介质为优质。15.权利要求14所要求的方法，其中在判断步骤中，将上述位模式与在位组上对应于上述光盘存储介质的上述外部区域上的一个预定槽模式的预定位模式进行比较。16.权利要求1所要求的方法，其中上述判断步骤首先比较上述测试信号的一个振幅与一个预定的阈值范围，并根据上述的比较确定上述光盘存储介质的质量。17.权利要求16所要求的方法，其中在上述判断步骤中，再比较上述测试信号的频率与一个预定的信号频率，并根据第一次和第二次比较来确定上述光盘存储介质的质量。18.权利要求1所要求的方法，在其上述判断步骤中比较上述测试信号的频率与一个预定的信号频率，并根据上述比较确定上述光盘存储介质的质量。19.一种用于测试一个光盘存储介质的质量的装置，其特征在于包括用于再现上述光盘存储介质中的一个外部区域中的测试数据以产生一个测试信号的光学拾取器，上述光盘的上述外部区域被环形地定位在一个主存储区外侧；和用于根据上述再现的测试信号判断上述光盘存储介质的质量的判断装置。20.权利要求19所要求的装置，其中上述光盘存储介质的外部区域分布在从上述光盘存储介质的最外点到上述光盘存储介质的一个预定点的范围内。21.权利要求20所要求的装置，其中上述预定点被环形地定位于上述主信息存储区的一个导出区的外侧。22.权利要求19所要求的装置，其中上述光学拾取器连续地再现上述外部区域中的上述测试数据以产生上述测试信号。23.权利要求19所要求的装置，其中上述光学拾取器从上述外部区域的一个内侧段到上述外部区域的一个外侧段再现上述测试数据，上述内侧段比上述外侧段更靠近上述光盘存储介质的中心。24.权利要求19所要求的装置，其中光学拾取器从上述外部区域的一个外侧段到上述外部区域的一个内侧段再现上述测试数据，上述内侧段比上述外侧段更靠近上述光盘存储介质的中心。25.权利要求1所要求的装置，其中光学拾取器以周期性的间隔沿上述外部区域再现上述测试数据。26.权利要求19所要求的装置，其中光学拾取器再现在上述外部区域的各段中的上述测试数据。27.权利要求19所要求的装置，另外包括一个指示器；其中当上述光盘被判断为劣质时上述判断装置使上述指示器操作者发出一个警报。28.权利要求19所要求的装置，其中上述光学拾取器再现一个槽模式信号作为上述测试信号，上述槽模式信号代表了上述光盘存储介质的上述外部区域中的一个预定的槽模式；且上述判断装置根据上述槽模式信号和一个表示了上述预定槽模式的参考信号来判断上述光盘存储介质的质量。29.权利要求28所要求的装置，其中上述判断装置将上述槽模式信号与上述参考信号进行比较，确定在上述槽模式信号中与上述参考信号匹配的信息的数量，如果上述信息数量...

【专利技术属性】
技术研发人员：吕运盛，金炯奎，
申请(专利权)人：LG电子株式会社，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]