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测试光盘存储介质质量的方法和装置制造方法及图纸
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下载测试光盘存储介质质量的方法和装置的技术资料
文档序号:3071310
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用于测试一种光盘存储介质的方法和装置首先记录测试数据在光盘的一个外部区域中。当制造一个已被预先记录的磁盘时,光盘的此外部区域没有被使用,而其也没有被一次写入光盘的用户使用。光盘的质量是根据从光盘的外部区域中再现的测试根据中产生的测试信号来判...
该专利属于LG电子株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过LG电子株式会社授权不得商用。
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