电子元件引脚测试机构制造技术

一种电子元件引脚测试机构，所述电子元件引脚测试机构包括基座、丝杆结构、第一滑动部、第二滑动部、吸附结构及探针，所述丝杆结构固定连接于所述基座的一侧，所述第一滑动部滑动设置于所述丝杆结构，所述第二滑动部滑动设置于所述第一滑动部，所述吸附结构装设于所述第二滑动部，所述吸附结构用于吸附一电子元件，所述探针与所述电子元件对应设置，所述探针电连接至一测试设备，所述测试设备通过所述探针测试所述电子元件的性能。所述电子元件引脚测试机构可有效测试电子元件的性能，其结构简单，且成本低，易于加工制造。易于加工制造。易于加工制造。

【技术实现步骤摘要】
电子元件引脚测试机构


[0001]本专利技术涉及一种电子元件引脚测试机构。

技术介绍

[0002]目前，电子元器件拥有成千上百种规格，选用正确的电子元器件可以保证电路的性能达到要求。因此，在实际的选择中，常常需要通过测试机构来选取优良的电子元器件。但传统的测试机构结构比较复杂，且成本较大。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，有必要提供一种结构简单、成本低的电子元件引脚测试机构。
[0004]一种电子元件引脚测试机构，所述电子元件引脚测试机构包括基座、丝杆结构、第一滑动部、第二滑动部、吸附结构及探针，所述丝杆结构固定连接于所述基座的一侧，所述第一滑动部滑动设置于所述丝杆结构，所述第二滑动部滑动设置于所述第一滑动部，所述吸附结构装设于所述第二滑动部，所述吸附结构用于吸附一电子元件，所述探针与所述电子元件对应设置，所述探针电连接至一测试设备，所述测试设备通过所述探针测试所述电子元件的性能。
[0005]优选地，所述丝杆结构包括丝杆，所述丝杆与一电机连接，用以在所述电机的驱动下带动所述第一滑动部、第二滑动部及所述吸附结构沿第一方向移动。
[0006]优选地，所述第二滑动部的一侧滑动安装于所述第一滑动部远离所述丝杆的一侧，所述第二滑动部与一驱动结构连接，所述第二滑动部用以在所述驱动结构的驱动下，带动所述吸附结构沿第二方向移动。
[0007]优选地，所述电子元件引脚测试机构还包括连接部，所述连接部固定连接所述第二滑动部及所述吸附结构。
[0008]优选地，所述连接部包括第一连接部及第二连接部，所述第一连接部的一侧固定连接于所述第二滑动部远离所述第一滑动部的一侧，第一连接部的另一侧与所述第二连接部的一端固定连接，所述第二连接部用于固定连接所述吸附结构。
[0009]优选地，所述吸附结构为真空吸盘。
[0010]优选地，所述电子元件引脚测试机构还包括测试件及测量平台，所述测试件包括安装板，所述安装板设置于所述测量平台上，所述安装板上还开设有相应的导向孔，所述探针收容于所述导向孔内，所述探针略低于所述导向孔远离所述安装板的一端。
[0011]优选地，所述电子元件引脚测试机构还包括抛料盒，所述抛料盒放置在所述测量平台上，所述抛料盒用于放置测试后的电子元件。
[0012]优选地，所述安装板由透明材质制成。
[0013]优选地，所述电子引脚测试机构还包括一物料盘，所述物料盘用于放置若干个待测试的电子元件。
[0014]所述电子元件引脚测试机构可有效测试电子元件的性能，其结构简单，且成本低，
易于加工制造。
附图说明
[0015]图1是本专利技术实施例中电子元件引脚测试机构的整体示意图。
[0016]图2是图1所示电子元件引脚测试机构中测试件的结构示意图。
[0017]图3是图2所示测试件中导向孔与探针另一角度下的部分示意图。
[0018]图4是沿图1所示电子元件引脚测试机构中IV-IV线的剖视图。
[0019]主要元件符号说明
[0020]电子元件引脚测试机构
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100
[0021]基座
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10
[0022]丝杆结构
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20
[0023]丝杆
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21
[0024]第一限位部
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22
[0025]第二限位部
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23
[0026]第一滑动部
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30
[0027]第二滑动部
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40
[0028]连接部
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50
[0029]第一连接部
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51
[0030]第二连接部
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52
[0031]吸附结构
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60
[0032]探针
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70
[0033]测试件
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80
[0034]固定板
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81
[0035]安装板
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82
[0036]导向孔
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821
[0037]测量平台
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90
[0038]抛物盒
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91
[0039]电子元件
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200
[0040]如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本专利技术。
具体实施方式
[0041]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0042]在专利技术中，除非另有明确规定和限定，如有术语“连接”应作广义去理解，例如，术语“连接”可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；也可以是机械连接；可以是直接相连，也可以是通过中间媒介相连，可以是两个元件内部相连通。对于本领域普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述的术语在本专利技术中的具体含义。
[0043]除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本专利技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本专利技术。
[0044]下面结合附图，对本专利技术的一些实施方式作详细说明。在不冲突的情况下，下述的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0045]请参阅图1及图2，本实施例提供一种电子元件引脚测试机构100。所述电子元件引脚测试机构100包括基座10、丝杆结构20、第一滑动部30、第二滑动部40、连接部50、吸附结构60本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子元件引脚测试机构，其特征在于：所述电子元件引脚测试机构包括基座、丝杆结构、第一滑动部、第二滑动部、吸附结构及探针，所述丝杆结构连接于所述基座的一侧，所述第一滑动部设置于所述丝杆结构的一侧，所述第二滑动部滑动设置于所述第一滑动部，所述吸附结构装设于所述第二滑动部，所述吸附结构用于吸附一电子元件，所述探针与所述电子元件对应设置，所述探针电连接至一测试设备，所述测试设备通过所述探针测试所述电子元件的性能。2.如权利要求1所述的电子元件引脚测试机构，其特征在于：所述丝杆结构包括丝杆，所述丝杆与一电机连接，用以在所述电机的驱动下带动所述第一滑动部、第二滑动部及所述吸附结构沿第一方向移动。3.如权利要求2所述的电子元件引脚测试机构，其特征在于：所述第二滑动部的一侧滑动安装于所述第一滑动部远离所述丝杆的一侧，所述第二滑动部与一驱动结构连接，所述第二滑动部用以在所述驱动结构的驱动下，带动所述吸附结构沿第二方向移动。4.如权利要求1所述的电子元件引脚测试机构，其特征在于：所述电子元件引脚测试机构还包括连接部，所述连接部固定连接所述第二滑动部及所述吸附结构。5.如权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈俊，吴炜，闫艳芳，张振科，柳志强，
申请(专利权)人：鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：