【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种磁阻头,尤其涉及一种旋转阀型磁阻头。已在例如,美国专利No.4,949,039(日本专利申请平2-61572)中公开了传统的旋动阀头型磁阻头。该磁阻头包括一个磁阻(MR)元件,它由第一铁磁层、非磁性的中间层和第二铁磁层叠合形成。其特征在于这种类型的磁阻元件的电阻随第一与第二铁磁层之间的磁化方向角度差而变。在传统的旋转阀型磁阻头中,一个铁磁层的磁化方向被固定,而另一铁磁层的磁化方向可以根据来自记录介质的磁场自由地转动。已有建议提供一种直接耦合到铁磁材料上的反铁磁层来固定固定铁磁层的磁化方向。若用图形表示,传统磁阻头示于附图说明图1(a)和1(b)中。如图所示,该磁阻头包括下屏蔽层18a、自由铁磁层14、非磁性中间层13、被锁定铁磁层12、反铁磁层11、一对铅导电层17和上屏蔽层18b。按照这个顺序在基片(未示出)上形成。该磁阻头进一步包括下屏蔽层18a与自由铁磁层14之间的第一绝缘层(未示出),和铅导电层17与上屏蔽层18b之间的第二绝缘层(未示出)。被锁定铁磁层12是由厚度为32埃的铁镍(NiFe)形成,非磁性中间层是由厚度为32埃的铜(Cu)形成,自由铁磁层是由厚度为45埃的铁镍(NiFe)形成。图2(a)是图1(a)所示的磁阻头的再现(reproduced)波形图。图的水平轴表示离记录介质磁化翻转(inverting)位置的距离,而垂直轴表示再现的输出。示出正的和负的独立波形的再现输出,波形的不对称性是-19%。图2(b)是图1(a)所示的磁阻头的自由铁磁层的磁化偏转图。水平轴表示自由铁磁层离接触空气面的高度。垂直轴表示自由铁磁 ...
【技术保护点】
一种磁阻头包括:磁化方向固定于第一方向的被锁定铁磁层;最初已在第二方向磁化的自由铁磁层,所述自由铁磁层的磁化方向根据外加磁场转动;设置在所述被锁定铁磁层与所述自由铁磁层之间的第一非磁性中间层;设置在与所述第一中间层相对的所述 自由铁磁层和所述被锁定铁磁层两者之一的一个侧面上的偏压控制铁磁层,所述的偏压铁磁层是由从NiFe、CoFe和FeN中选出的一种材料与至少一种从B、Rh、Cr和Zr中选出的元素作为添加剂形成;以及设置在所述偏压控制层与所述被锁定的和自由的 铁磁层两者之一之间的第二非磁性中间层。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】JP 1997-10-1 306305/971.一种磁阻头包括磁化方向固定于第一方向的被锁定铁磁层;最初已在第二方向磁化的自由铁磁层,所述自由铁磁层的磁化方向根据外加磁场转动;设置在所述被锁定铁磁层与所述自由铁磁层之间的第一非磁性中间层;设置在与所述第一中间层相对的所述自由铁磁层和所述被锁定铁磁层两者之一的一个侧面上的偏压控制铁磁层,所述的偏压铁磁层是由从NiFe、CoFe和FeN中选出的一种材料与至少一种从B、Rh、Cr和Zr中选出的元素作为添加剂形成;以及设置在所述偏压控制层与所述被锁定的和自由的铁磁层两者之一之间的第二非磁性中间层。2.根据权利要求1的磁阻头,其中所述的偏压控制层由NiFeCr形成。3.根据权利要求2的磁阻头,其中所述的偏压控制层含Cr的原子百分比为1.0~9.4%。4.根据权利要求1的磁阻头,其中所述的偏压控制层的厚度约为30~50埃。5.根据权利要求4的磁阻头,其中所述的偏压控制层的厚度约为40埃。6.根据权利要求1的磁阻头,其中所述的第二非磁性中间层具有约为100μΩcm或更高的电阻率。7.根据权利要求6的磁阻头,其中所述的第二非磁性中间层由Ta形成。8.一种磁阻头包括基底;设置在所述基底上的反铁磁层;直接在所述反铁磁层上形成的被锁定铁磁层,它与所述反铁磁层共同在第一方向被固定地磁化;在所述被锁定层上形成的第一非磁性中间层;在所述第一中间层上形成的、最初已在第二方向被磁化的自由铁磁层,所述自由铁磁层的磁化方向根据外加磁场而转动;在所述自由铁磁层上形成的第二非磁性中间层,和偏压控制铁磁层。9.根据权利要求8的磁阻头,其中所述偏压控制层是一种软磁性层,其磁化方向与所述被锁定层的第一方向与检测电流的方向相反。10.根据权利要求9的一种磁阻头,其中所述偏压控制层是由从NiFe、CoFe和FeN中选出的一种材料与从B、Rh、Cr和Zr中选出的至少一种添加剂形成。11.一种磁阻头,包括在第一方向被磁化的被锁定硬磁性层;最初已在第二方向被磁化的自由铁磁层,所述自由铁磁层的磁化方向根据外加磁场而转动;设置在所述被锁定硬磁性层与所述自由铁磁层之间的第一非磁性中间层;设置在与所述第一中间层相对的所述自由层和所述被锁定层两者之一的一侧的偏压控制软磁性层;和设...
【专利技术属性】
技术研发人员:山田健一郎,金井均,
申请(专利权)人:富士通株式会社,
类型:发明
国别省市:JP[日本]
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