光学拾取装置制造方法及图纸

一种光学拾取装置，其包括：光源模块，其被形成为单独模块，发射具有不同波长的光束的第一光源和第二光源；第一光栅，把从第一光源发出的第一光束分解为三束并传递从第二光源发出的第二光束；第二光栅，传递从第一光源发出的第一光束并把从第二光源发出的第二光束分解为三束；光束分光镜，反射或传递从光源模块发出的光束；物镜，把穿过光束分光镜的光束聚焦在盘片上；光电探测器，接收和检测由盘片反射的光束。因而，由于第一和第二光源形成为单独的光源模块，零部件的数量可以减少而光效率得以提高。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种光学拾取装置，而更为具体地，涉及一种光学拾取装置，其中生产率和光效率通过减少零部件数量得以提高。
技术介绍
参照图1，一种现有的兼容式光学拾取装置包括第一灯光支座105，其被形成为整体，其中具有用于发射大约650nm波长的光束的第一光源100和用于把来自第一光源100的光束分解为三支光束以便于轨迹伺服或聚焦伺服的第一光栅103；第二支座115，其被形成为整体，其中具有用于发射大约780nm波长的光束的第二光源110和用于把来自第二光源110的光束分解为三支光束以便于轨迹伺服或聚焦伺服的第二光栅113。第一支座105和第二支座115独立地配置在不同位置处。第一光源100用于盘片107，诸如具有较薄厚度的DVD，而第二光源110用于盘片117，诸如具有较厚厚度的CD。从第一光源100发出的光束由第一光束分光镜120予以反射，穿过第二光束分光镜123，以及朝向较薄盘片107行进。然后，光束由较薄盘片107予以反射，穿过第一和第二光束分光镜120和123，以及由光电探测器130予以接收。用于改变从第一和第二光源100和110发出的各光束的路径的反射镜，用于使光束平行的准本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学拾取装置，包括： 光源模块，其被形成为单独模块，发射具有不同波长光束的第一光源和第二光源； 第一光栅，把从所述第一光源发出的第一光束分解为三束并传递从所述第二光源发出的第二光束； 第二光栅，传递从所述第一光源发出的所述第一光束并把从所述第二光源发出的所述第二光束分解为三束； 光束分光镜，反射或传递从所述光源模块发出的光束； 物镜，把穿过所述光束分光镜的光束聚焦在盘片上；以及 光电探测器，接收和检测由所述盘片反射的光束。

【技术特征摘要】
KR 2002-3-19 14708/021.一种光学拾取装置，包括光源模块，其被形成为单独模块，发射具有不同波长光束的第一光源和第二光源；第一光栅，把从所述第一光源发出的第一光束分解为三束并传递从所述第二光源发出的第二光束；第二光栅，传递从所述第一光源发出的所述第一光束并把从所述第二光源发出的所述第二光束分解为三束；光束分光镜，反射或传递从所述光源模块发出的光束；物镜，把穿过所述光束分光镜的光束聚焦在盘片上；以及光电探测器，接收和检测由所述盘片反射的光束。2.按照权利要求1所述的光学拾取装置，其中，所述第一和所述第二光栅被形成为整体。3.按照权利要求1或2所述的光学拾取装置，其中，准直透镜设置在所述光束分光镜与所述物镜之间以使光束平行。4.按照权利要求1或2所述的光学拾取装置，其中，所述光电探测器包括检测所述第一光束的第一光电探测器和检测所述第二光束的第二光电探测器。5.按照权利要求4所述的光学拾取装置，其中，所述第一光电探测器包括具有一种四分结构的主光电探测器和各自具有一种四分结构并配置在主光电探测器两侧的副光电探测器。6.按照权利要求4所述的光学拾取装置，其中，第一光电探测器包括具有一种四分结构的主光电探测器和各自具有一种二分结构并配置在所述主光电探测器两侧的副光电探测器。7.按照权利要求5或6所述的光学拾取装置，其中，所述第二光电探测器包括具有一种四分结构的主光电探测器和配置在所述主光电探测器两侧的各光电探测器。8.按照权利要求5或6所述的光学拾取装置，其中，所述第二光电探测器包括具有一种四分结构的主光电探测器和各自具有一种二分结构并配置在所述主光电探测器两侧的副光电探测器。9.按照权利要求5所述的光学拾取装置，其中，所述第二光电探测器包括具有一种四分结构的主光电探测器和各自具有一种四分结构并配置在所述主光电探测器两侧的副光电探测器。10.按照权利要求1或2所述的光学拾取装置，其中，所述第一光栅的图形深度是1.51μm，所述第二光栅的图形深度是1.23μm。11.按照权利要求1或2所述的光学拾取装置，其中，所述第一光源发射具有650nm或更大波长的光束，而所述第二光源发射具有大于所述第一光源波长的光束。12.按照...

【专利技术属性】
技术研发人员：朴英淳，金凤基，朴寿韩，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]