光器件测试方法以及系统技术方案

本发明专利技术涉及光器件测试技术领域，提供了一种光器件测试方法，包括如下步骤：S1，将光器件的电路拓展到测试板上；S2，采用夹具将光器件固定，使光器件的FPC与测试板的焊盘对准夹好，完成上电；S3，接好测试板和误码仪，并采用误码仪配置交流调制信号，连接好测试设备，点击PC电脑开始测试。还提供一种光器件测试系统，包括用于配置交流调制信号的误码仪、集成有光器件的电路的测试板以及用于锁定光器件以完成测试板的上电的夹具，误码仪与测试板连接。本发明专利技术采用误码仪配置交流调制信号，在调制信号下进行测试，突破了原有的直流测试系统的限制，使得测试结果非常准确，光模块制程前端对光器件进行甄别和挑选可以节约成本、提高良率。率。率。

【技术实现步骤摘要】
光器件测试方法以及系统


[0001]本专利技术涉及光器件测试
，具体为一种光器件测试方法以及系统。

技术介绍

[0002]传统光器件开发过程中不能进行调制信号下的相关测试，这会导致光功率、消光比、波长的测量结果均不够准确，只能作为一个大致的参考，与光器件在光模块上使用时的性能有较大出入，使得不能在光模块生产前端对光器件的性能做出一个很准确的甄别和挑选；另外传统光器件测试时需要进行模块排产测试，造成了资源浪费，操作效率低。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于提供一种光器件测试方法以及系统，至少可以解决现有技术中的部分缺陷。
[0004]为实现上述目的，本专利技术实施例提供如下技术方案：一种光器件测试方法，包括如下步骤：
[0005]S1，将光器件的电路拓展到测试板上；
[0006]S2，采用夹具将所述光器件固定，使光器件的FPC与所述测试板的焊盘对准夹好，完成上电；
[0007]S3，接好所述测试板和误码仪，并采用所述误码仪配置交流调制信号，连接好测试设备，点击PC电脑开始测试。
[0008]进一步，在夹具固定测试板前，先将所述测试板上的TX
‑
disable拨码开关关闭，并在对准夹好后再打开所述TX
‑
disable拨码开关。
[0009]进一步，采用一分四的光开关来控制不同种类的测试设备来测试光器件的激光器。
[0010]进一步，进行光功率测试时，所述测试设备采用功率计，将所述光开关的档位打至光功率计档与所述功率计导通，所述功率计与所述PC电脑连接。
[0011]进一步，进行消光比测试时，所述测试设备采用示波器，将所述光开关的档位打至示波器档与所述示波器导通，所述示波器与所述PC电脑连接。
[0012]进一步，进行波长测试时，所述测试设备采用波长计，将所述光开关的档位打至波长计档与所述波长计导通，所述波长计与所述PC电脑连接。
[0013]进一步，采用带功率监控的程控衰减器来测试光器件的探测器的灵敏度，所述误码仪内置光源，光源出光经过所述程控衰减器，再回到所述测试板上的ROSA端。
[0014]本专利技术实施例提供另一种技术方案：一种光器件测试系统，包括用于配置交流调制信号的误码仪、集成有光器件的电路的测试板以及用于锁定光器件以完成所述测试板的上电的夹具，所述误码仪与所述测试板连接。
[0015]进一步，还包括用于固定CCD相机的架体，所述CCD相机将所述测试板的焊盘部分显示至显示屏上。
[0016]进一步，还包括用于使光器件的FPC与所述测试板上的焊盘对准的旋钮组件。
[0017]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：
[0018]1、采用误码仪配置交流调制信号，在调制信号下进行测试，突破了原有的直流测试系统的限制，使得测试结果非常准确，光模块制程前端对光器件进行甄别和挑选可以节约成本、提高良率。
[0019]2、先将所述测试板上的TX
‑
disable拨码开关关闭，可以将激光器的发射关断，在器件成功上电后打开，这样可以避免瞬间上电将器件损坏。
[0020]3、通过旋钮组件可以使得本系统兼具激光器和探测器的检测。
附图说明
[0021]图1为本专利技术实施例提供的一种光器件测试系统的夹具、CCD相机、架体以及旋钮组件的组装示意图；
[0022]图2为本专利技术实施例提供的一种光器件测试系统的测试原理示意图；
[0023]图3为图1的A处放大示意图；
[0024]附图标记中：1
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底座；2
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立柱；3
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底板；4
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固定块；5
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限位块；6
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推杆；7
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压杆；8
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下板；9
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轴套；10
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光轴；11
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安装座；12
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上杆；13
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顶杆；14
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旋钮；15
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锁紧件；16
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CCD相机；17
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万向支架。
具体实施方式
[0025]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0026]实施例一：
[0027]请参阅图1和图2，本专利技术实施例提供一种光器件测试方法，包括如下步骤：S1，将光器件的电路拓展到测试板上；S2，采用夹具将所述测试板固定，使光器件的FPC与所述测试板的焊盘对准夹好，完成上电；S3，接好所述测试板和误码仪，并采用所述误码仪配置交流调制信号，连接好测试设备，点击PC电脑开始测试。在本实施例中，采用误码仪配置交流调制信号，在调制信号下进行测试，突破了原有的直流测试系统的限制，使得测试结果非常准确，光模块制程前端对光器件进行甄别和挑选可以节约成本、提高良率。具体地，光器件的电路拓展到测试板上，测试板上即可具有TOSA(激光器)端和ROSA(探测器)端，通过本系统即可测试激光器和探测器。为了稳定地测试以及上电，采用夹具将光器件固定，测试板上的焊盘与光器件FPC(柔性电路板)对接即可完成上电，然后通过误码仪配置交流调制信号，即可开始测试，点击开始测试，自动化测试系统会按照录入的测试规范载入初始值，按照测试序列调测出最优的测试值。优选的，当调试完毕后，所有调制参数恢复为默认值，如此可以防止偏流加得太高，上电的瞬间或未夹好的时候将器件击伤。
[0028]作为本专利技术实施例的优化方案，请参阅图1和图2，在夹具固定测试板前，先将所述测试板上的TX
‑
disable拨码开关关闭，并在对准夹好后再打开所述TX
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disable拨码开关。在本实施例中，先将所述测试板上的TX
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disable拨码开关关闭，可以将激光器的发射关断，
在器件成功上电后打开，这样可以避免瞬间上电将器件损坏。
[0029]作为本专利技术实施例的优化方案，请参阅图1和图2，采用一分四的光开关来控制不同种类的测试设备来测试光器件的激光器。在本实施例中，光开关可以用来调到不同的测试设备档位，具体的测试设备包括功率计、示波器、波长计，当需要测试其他数据时，更换成对应的设备即可，非常灵活，便于后期扩展，各器件均可以通过电路与光开关连接。
[0030]进一步优化上述方案，请参阅图2，进行光功率测试时，所述测试设备采用功率计，将所述光开关的档位打至光功率计档与所述功率计导通，所述功率计与所述PC电脑连接。在本实施例中，在进行光功率测试时，TEC温度点、偏置电流、EA均可以在设定好的规范范围内调试，通过光功率计软件可以自动读出测量本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光器件测试方法，其特征在于，包括如下步骤：S1，将光器件的电路拓展到测试板上；S2，采用夹具将所述光器件固定，使光器件的FPC与所述测试板的焊盘对准夹好，完成上电；S3，接好所述测试板和误码仪，并采用所述误码仪配置交流调制信号，连接好测试设备，点击PC电脑开始测试。2.如权利要求1所述的光器件测试方法，其特征在于：在夹具固定测试板前，先将所述测试板上的TX
‑
disable拨码开关关闭，并在对准夹好后再打开所述TX
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disable拨码开关。3.如权利要求1所述的光器件测试方法，其特征在于：采用一分四的光开关来控制不同种类的测试设备来测试光器件的激光器。4.如权利要求3所述的光器件测试方法，其特征在于：进行光功率测试时，所述测试设备采用功率计，将所述光开关的档位打至光功率计档与所述功率计导通，所述功率计与所述PC电脑连接。5.如权利要求3所述的光器件测试方法，其特征在于：进行消光比测试时，所述测试设备采...

【专利技术属性】
技术研发人员：张行，吴天书，杨现文，李林科，张健，
申请(专利权)人：武汉联特科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：