一种简易40G误码仪测试系统及方法技术方案

一种简易40G误码仪测试系统及方法，系统包括四个10G误码仪、一个电开关和一个示波器，其中，四个10G误码仪分别为10GBERT

【技术实现步骤摘要】
一种简易40G误码仪测试系统及方法


[0001]本专利技术涉及光通信领域，具体涉及一种简易40G误码仪测试系统及方法。

技术介绍

[0002]40G光模块由CH1，CH2,CH3，CH4这4个通道组成，40G误码仪在测试40G光模块光眼图时，需要通过光开关切换不同的通道测试光眼图参数。传统40G误码仪，是4个通道共时钟Trigger信号，可以直接连接到示波器上的Trigger,当光开关切换不同通道时，示波器显示就是对应通道的眼图，传统误码仪如图1所示，是一个单台设备。

技术实现思路

[0003]鉴于现有技术中存在的技术缺陷和技术弊端，本专利技术实施例提供克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种简易40G误码仪测试系统，具体方案如下：
[0004]作为本专利技术的第一方面，提供一种简易40G误码仪测试系统，所述系统包括四个10G误码仪、一个电开关和一个示波器，其中，四个10G误码仪分别为10G BERT
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1、10G BERT
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2、10G BERT
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3和10G BERT
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4，10G BERT
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1、10G BERT
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2、10G BERT
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3和10G BERT
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4分别对应40G光模块的CH1、CH2、CH3和CH4四个通道，10G BERT
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1、10G BERT
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2、10G BERT
‑/>3和10G BERT
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4的Trigger端口均通过电开关电连接到示波器上的Trigger端口，所述电开关用于基于电开关串口设置可选的切换其中一个10G误码仪接入示波器，通过示波器进行对应通道的性能测试。
[0005]进一步地，所述电开关包括IN1、IN2、IN3和IN4四个输入端口和一个COM端口，10G BERT
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1、10G BERT
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2、10G BERT
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3和10G BERT
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4的Trigger端口分别电连接到电开关的IN1、IN2、IN3和IN4四个输入端口，所述电开关的COM端口电连接到示波器上的Trigger端口。
[0006]进一步地，所述电开关串口设置具体为：
[0007]先设置电开关初始控制指令为FF 00 00，设置电开关IN1、IN2、IN3和IN4四个输入端口和一个COM端口全开路；
[0008]当测试CH1通道的发射眼图参数时，将电开关的控制指令设置为FF 01 00，使输入端口IN1与Com端口连通，其它输入端口开路；
[0009]当测试CH2通道的发射眼图参数时，将电开关的控制指令设置为FF 02 00，使输入端口IN2与Com端口连通，其它输入端口开路；
[0010]当测试CH3通道的发射眼图参数时，将电开关的控制指令设置为FF 03 00，使输入端口IN3与Com端口连通，其它输入端口开路；
[0011]当测试CH4通道的发射眼图参数时，将电开关的控制指令设置为FF 04 00，使输入端口IN4与Com端口连通，其它输入端口开路。
[0012]进一步地，所述系统还包括控制单元，所述控制单元通过RS232串口与电开关电连接，用于向电开关发送对应的控制指令。
[0013]进一步地，所述示波器为86105A光示波器。
[0014]作为本专利技术的第二方面，提供一种简易40G误码仪测试方法，所述方法包括：
[0015]将40G光模块的CH1、CH2、CH3和CH4四个通道分别电连接到10G BERT
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1、10G BERT
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2、10G BERT
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3和10G BERT
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4的TD/RD收发信号端口上，将10G BERT
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1、10G BERT
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2、10G BERT
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3和10G BERT
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4的Trigger端口均通过电开关电连接到示波器上的Trigger端口；
[0016]通过电开关串口设置可选的切换其中一个10G误码仪接入示波器，通过示波器进行对应通道的性能测试。
[0017]进一步地，所述电开关包括IN1、IN2、IN3和IN4四个输入端口和一个COM端口，10G BERT
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1、10G BERT
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2、10G BERT
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3和10G BERT
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4的Trigger端口分别电连接到电开关的IN1、IN2、IN3和IN4四个输入端口，所述电开关的COM端口电连接到示波器上的Trigger端口。
[0018]进一步地，所述电开关串口设置具体为：
[0019]先设置电开关初始控制指令为FF 00 00，设置电开关IN1、IN2、IN3和IN4四个输入端口和一个COM端口全开路；
[0020]当测试CH1通道的发射眼图参数时，将电开关的控制指令设置为FF 01 00，使输入端口IN1与Com端口连通，其它输入端口开路；
[0021]当测试CH2通道的发射眼图参数时，将电开关的控制指令设置为FF 02 00，使输入端口IN2与Com端口连通，其它输入端口开路；
[0022]当测试CH3通道的发射眼图参数时，将电开关的控制指令设置为FF 03 00，使输入端口IN3与Com端口连通，其它输入端口开路；
[0023]当测试CH4通道的发射眼图参数时，将电开关的控制指令设置为FF 04 00，使输入端口IN4与Com端口连通，其它输入端口开路。
[0024]本专利技术具有以下有益效果：
[0025]本专利技术提供的一种简易40G误码仪测试系统及方法，运用4个10G误码仪和电开关，通过串口控制的方式，可以实现40G产品的测试方案，替代40G外购整机误码仪，大幅降低40G产品的测试成本。
附图说明
[0026]图1为本专利技术实施例提供的40G误码仪的结构示意图
[0027]图2为本专利技术实施例提供的一种简易40G误码仪测试系统的结构示意图。
具体实施方式
[0028]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0029]如图2所示，作为本专利技术的第一实施例，提供一种简易40G误码仪测试系统，所述系统包括四个10G误码仪、一个电开关和一个示波器，其中，四个10G误码仪分别为10G BERT
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1、10G BERT
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2、10G BERT
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3和10G BERT...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种简易40G误码仪测试系统，其特征在于，所述系统包括四个10G误码仪、一个电开关和一个示波器，其中，四个10G误码仪分别为10G BERT
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1、10G BERT
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2、10G BERT
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3和10G BERT
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4，10G BERT
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1、10G BERT
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2、10G BERT
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3和10G BERT
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4分别对应40G光模块的CH1、CH2、CH3和CH4四个通道，10G BERT
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1、10G BERT
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2、10G BERT
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3和10G BERT
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4的Trigger端口均通过电开关电连接到示波器上的Trigger端口，所述电开关用于基于电开关串口设置可选的切换其中一个10G误码仪接入示波器，通过示波器进行对应通道的性能测试。2.根据权利要求1所述的简易40G误码仪测试系统，其特征在于，所述电开关包括IN1、IN2、IN3和IN4四个输入端口和一个COM端口，10GBERT
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1、10G BERT
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2、10G BERT
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3和10G BERT
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4的Trigger端口分别电连接到电开关的IN1、IN2、IN3和IN4四个输入端口，所述电开关的COM端口电连接到示波器上的Trigger端口。3.根据权利要求1所述的简易40G误码仪测试系统，其特征在于，所述电开关串口设置具体为：先设置电开关初始控制指令为FF 0000，设置电开关IN1、IN2、IN3和IN4四个输入端口和一个COM端口全开路；当测试CH1通道的发射眼图参数时，将电开关的控制指令设置为FF 01 00，使输入端口IN1与Com端口连通，其它输入端口开路；当测试CH2通道的发射眼图参数时，将电开关的控制指令设置为FF 02 00，使输入端口IN2与Com端口连通，其它输入端口开路；当测试CH3通道的发射眼图参数时，将电开关的控制指令设置为FF 03 00，使输入端口IN3与Com端口连通，其它输入端口开路；当测试CH4通道的发射眼图参数时，将电开关的控制指令设置为FF 04 00，使输入端口IN4与Com端口连通，其它输入端口开路。4.根据权利要求3所...

【专利技术属性】
技术研发人员：关鹤林，吴天书，杨现文，李林科，张健，
申请(专利权)人：武汉联特科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：