显示面板制造技术

本申请实施例公开了一种显示面板，其包括显示区、位于显示区一侧的外围区和位于外围区一侧的检测区，数据线设置于显示区；外延线设置在基板上，外延线自显示区延伸至检测区，一外延线对应电连接一数据线；测试垫设置在检测区，一测试垫对应电连接一外延线。本申请通过将测试垫设置在检测区，并采用测试垫和外延线一一对应连接，从而实现采用全接触的探针检测方式进行点灯测试，也即采用探针接触检测区的测试垫。测试垫。测试垫。

【技术实现步骤摘要】
显示面板


[0001]本申请涉及显示
，具体涉及一种显示面板。

技术介绍

[0002]在对现有技术的研究和实践过程中，本申请的专利技术人发现，现有LOI
‑
1点灯采用短接棒的设计方式，即将不同数据线短接在一起，显示R/G/B/W多个画面，但无法显示上白下黑或上黑下白画面，也即薄膜晶体管的源极和漏极短路造成的亮点无法检出。
[0003]而现有的全接触检测方式虽然可以显示上白下黑或上黑下白画面，但探针直接在绑定区上进行探测，由于绑定区的绑定垫精度较高，而探针和设备的精度相对较低，故在进行探测的过程容易出现偏差，导致检测良率下降。

技术实现思路

[0004]本申请实施例提供一种显示面板，可采用全接触的探针检测方式进行点灯测试。
[0005]本申请实施例提供一种显示面板，包括显示区、位于所述显示区一侧的外围区和位于所述外围区远离所述显示区一侧的检测区，其中，所述显示面板包括：
[0006]基板，所述基板设置于所述显示区、所述外围区和所述检测区；
[0007]多条数据线，所述数据线设置在所述基板上，所述数据线设置于所述显示区；
[0008]多条外延线，所述外延线设置在所述基板上，所述外延线自所述显示区延伸至所述检测区，一所述外延线对应电连接一所述数据线；
[0009]多个测试垫，所述测试垫设置在所述基板上，所述测试垫设置在所述检测区，一所述测试垫对应电连接一所述外延线。
[0010]可选的，在本申请的一些实施例中，所述显示面板还包括：
[0011]第一金属层，所述第一金属层设置在所述基板上，所述第一金属层包括所述外延线；
[0012]第一绝缘层，所述第一绝缘层设置在所述第一金属层上；
[0013]第二金属层，所述第二金属层设置在所述第一绝缘层上，所述第二金属层包括所述数据线和信号接入部，所述信号接入部设置在所述检测区；
[0014]第二绝缘层，所述第二绝缘层设置在所述第二金属层上；
[0015]导电层，所述导电层设置在所述第二绝缘层上，所述导电层包括所述测试垫，所述测试垫连接于所述外延线和所述信号接入部。
[0016]可选的，在本申请的一些实施例中，所述第二绝缘层设置有第一过孔和第二过孔，所述第一过孔裸露所述信号接入部，所述第二过孔延伸入所述第一绝缘层并裸露所述外延线，所述测试垫延伸入所述第一过孔连接于所述信号接入部，所述测试垫延伸入所述第二过孔连接于所述外延线；
[0017]所述测试垫延伸入所述第一过孔和所述第二过孔的部分形成凹陷部，所述凹陷部用于插入探针。
[0018]可选的，在本申请的一些实施例中，所述第一过孔和所述第二过孔间隔设置。
[0019]可选的，在本申请的一些实施例中，所述第一过孔和所述第二过孔连通设置。
[0020]可选的，在本申请的一些实施例中，所述外延线包括主线部分和连接于所述主线部分一端的绑定部分，所述绑定部分的宽度大于所述主线部分的宽度；
[0021]所述第二过孔裸露所述绑定部分，所述测试垫连接于所述绑定部分。
[0022]可选的，在本申请的一些实施例中，所述第一过孔和/或所述第二过孔的开口面积大于所述探针的端面面积。
[0023]可选的，在本申请的一些实施例中，所述第一过孔和/或所述第二过孔的宽度大于3微米且小于等于9微米。
[0024]可选的，在本申请的一些实施例中，多条所述外延线包括多条第一外延线、多条第二外延线和多条第三外延线；多个所述测试垫包括多个第一测试垫、多个第二测试垫和多个第三测试垫；一所述第一测试垫对应连接于一所述第一外延线，一所述第二测试垫对应连接于一所述第二外延线，一所述第三测试垫对应连接于一所述第三外延线；
[0025]在第一方向上，多个所述第一测试垫排列成第一行，多个所述第三测试垫排列成第二行，多个所述第二测试垫排列成第三行；
[0026]在第二方向上，所述第二行设置在所述第一行和所述第三行之间；所述第二方向与所述第一方向相交；所述第一测试垫、所述第二测试垫和所述第三测试垫之间彼此错位设置。
[0027]可选的，在本申请的一些实施例中，所述第一外延线的长度小于所述第三外延线的长度，所述第三外延线的长度小于所述第二外延线的长度；
[0028]在所述第一方向上，所述第一外延线、所述第二外延线和所述第三外延线依次交替排布设置。
[0029]本申请实施例的显示面板包括显示区、位于所述显示区一侧的外围区和位于所述外围区一侧的检测区，数据线设置于显示区；外延线设置在基板上，外延线自显示区延伸至检测区，一外延线对应电连接一数据线；测试垫设置在检测区，一测试垫对应电连接一外延线。本申请通过将测试垫设置在检测区，并采用测试垫和外延线一一对应连接，从而实现采用全接触的探针检测方式进行点灯测试，也即采用探针接触检测区的测试垫。
附图说明
[0030]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0031]图1是本申请实施例提供的显示面板的第一种结构示意图；
[0032]图2是本申请实施例提供的显示面板的第一种结构中检测区部分的示意图；
[0033]图3是图2中沿着MN线的剖视结构示意图；
[0034]图4是本申请实施例提供的显示面板的第二种结构示意图；
[0035]图5是本申请实施例提供的显示面板的第二种结构中检测区部分的示意图；
[0036]图6是图5中沿着HL线的剖视结构示意图。
具体实施方式
[0037]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。此外，应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本申请，并不用于限制本申请。在本申请中，在未作相反说明的情况下，使用的方位词如“上”和“下”通常是指装置实际使用或工作状态下的上和下，具体为附图中的图面方向；而“内”和“外”则是针对装置的轮廓而言的。
[0038]本申请实施例提供一种显示面板，下文进行详细说明。需说明的是，以下实施例的描述顺序不作为对实施例优选顺序的限定。
[0039]请参照图1和图2，本申请实施例提供一种显示面板100，其包括显示区AA、位于显示区AA一侧的外围区NA和位于外围区NA远离显示区AA一侧的检测区TS。显示面板100包括基板11、多条外延线121、多条数据线131和多个测试垫141。
[0040]基板11设置于显示区AA、外围区NA和检测区TS。数据线131设置在基板11上。数据线131设置于显示区AA。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示面板，包括显示区、位于所述显示区一侧的外围区和位于所述外围区远离所述显示区一侧的检测区，其特征在于，所述显示面板包括：基板，所述基板设置于所述显示区、所述外围区和所述检测区；多条数据线，所述数据线设置在所述基板上，所述数据线设置于所述显示区；多条外延线，所述外延线设置在所述基板上，所述外延线自所述显示区延伸至所述检测区，一所述外延线对应电连接一所述数据线；多个测试垫，所述测试垫设置在所述基板上，所述测试垫设置在所述检测区，一所述测试垫对应电连接一所述外延线。2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括：第一金属层，所述第一金属层设置在所述基板上，所述第一金属层包括所述外延线；第一绝缘层，所述第一绝缘层设置在所述第一金属层上；第二金属层，所述第二金属层设置在所述第一绝缘层上，所述第二金属层包括所述数据线和信号接入部，所述信号接入部设置在所述检测区；第二绝缘层，所述第二绝缘层设置在所述第二金属层上；导电层，所述导电层设置在所述第二绝缘层上，所述导电层包括所述测试垫，所述测试垫连接于所述外延线和所述信号接入部。3.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述第二绝缘层设置有第一过孔和第二过孔，所述第一过孔裸露所述信号接入部，所述第二过孔延伸入所述第一绝缘层并裸露所述外延线，所述测试垫延伸入所述第一过孔连接于所述信号接入部，所述测试垫延伸入所述第二过孔连接于所述外延线；所述测试垫延伸入所述第一过孔和所述第二过孔的部分形成凹陷部，所述凹陷部用于插入探针。4.根据权利要求3所述的显示面板，其特征在于，所述第一过孔和所述第二过孔间隔设置。5.根据权利要求3所...

【专利技术属性】
技术研发人员：李亮，
申请(专利权)人：TCL华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：