用于检查技术系统的方法和设备技术方案

用于检查技术系统的方法和设备。用于检查技术系统的方法（10），其特征在于如下特征：

【技术实现步骤摘要】
用于检查技术系统的方法和设备


[0001]本专利技术涉及一种用于检查技术系统的方法。本专利技术还涉及一种相对应的设备、一种相对应的计算机程序以及一种相对应的存储介质。

技术介绍

[0002]在软件技术中，在上位概念“基于模型的测试”（model
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based testing，MBT）下概括了使用模型用于测试活动的自动化和用于在测试过程中生成测试工件（Testartefakten）。例如，众所周知的是从描述待测试系统的额定行为的模型来生成测试用例。
[0003]尤其是嵌入式系统（embedded systems）依赖于传感器的合理的输入信号，而且又通过对各种各样的执行器的输出信号来刺激其周围环境。因而，在对这种系统的验证和之前的研发阶段的过程中，在调节回路中将该系统的模型（model in the loop（回路中的模型），MiL）、软件（software in the loop（回路中的软件），SiL）、处理器（processor in the loop（回路中的处理器），PiL）或者整个硬件（hardware in 本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.用于对技术系统、尤其是至少部分自主机器人或车辆进行检查的方法（10），其特征在于如下特征：
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借助于对所述系统的仿真（11）来执行测试（12），
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所述测试（12）关于对所述系统的定量要求的满足量度（13）和所述仿真（11）的误差量度（14）来被分析，
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根据所述满足量度（13）和误差量度（14）来将所述测试（12）暂时归类（15）为可靠（16）或不可靠（17），而且
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通过逐步细化所述归类（15）来优化用于所述归类（15）的分类器（18）。2.根据权利要求1所述的方法（10），其特征在于如下特征：
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在预选阶段（20）中，通过在所述系统上的实验测量（21）来对所述仿真（11）进行确认，
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所述分类器（18）的暂时的决策边界（19）线性地被取得为使得一方面在所述仿真（11）中取得的满足量度（13）与另一方面在所述测量（21）中取得的满足量度偏差得尽可能小，而且
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通过使所述决策边界（19）反复适配来优化所述分类器（18）。3.根据权利要求1所述的方法（10），其特征在于如下特征：
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通过在所述系统上的相对应的测量（21），对借助于所述仿真（11）所执行的测试（12）进行预评定，
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【专利技术属性】
技术研发人员：尹智洙，J，
申请(专利权)人：罗伯特，
类型：发明
国别省市：