毫米波宽带功率校准修正方法及系统、存储介质及终端技术方案

本发明专利技术提供一种毫米波宽带功率校准修正方法及系统、存储介质及终端，包括以下步骤：对于同轴或波导端口的夹具上连接的校准标准件，获取所述校准标准件的测试反射系数和实际反射系数；基于所述测试反射系数和所述实际反射系数构建超定方程组；基于所述超定方程组计算所述夹具的S参数；对所述夹具的S参数进行圆形内插，获取内插点的S参数；基于所述夹具的S参数和所述内插点的S参数进行毫米波宽带功率校准修正。本发明专利技术的毫米波宽带功率校准修正方法及系统、存储介质及终端能够准确、便捷地进行毫米波宽带功率校准修正，有效提高了射频微波的测试精度。的测试精度。的测试精度。

【技术实现步骤摘要】
毫米波宽带功率校准修正方法及系统、存储介质及终端


[0001]本专利技术涉及功率校准修正的
，特别是涉及一种毫米波宽带功率校准修正方法及系统、存储介质及终端。

技术介绍

[0002]射频微波测试中，根据测试项物理与数学本质可分为相对值测试项和绝对值测试项。常见的相对值项有S参数、噪声系数、功率附加效率等；常见的绝对值项一般为输入功率、输出功率。而用于功率校准的定标设备一般为射频微波功率计，其端口形式为同轴或波导结构。当功率校准平面和实际测试平面接口类型不一致时，无法直接通过校准进行完全修正。这点在在片测试时尤为突出，该误差对高频尤其是毫米波频段以上（>30GHz）测试影响很大。为消除这“最后一厘米”误差，亟需一种精确、简便、频率覆盖性高的修正方法。
[0003]现有技术中，常见的修正方法包括以下几种。
[0004]（1）查表去嵌法，即根据厂家提供的插损或S参数文件进行矢量或标量修正。但是，该方法数据完全由出厂数据给出，数据点不完整且经常与实际应用点不匹配，修正精度不高。
[0005]（2）在校准过程中采用OSL（Open、Short、Load，开路、短路、负载）去嵌。但是，该方法在功率校准前增加单端口S校准过程参数校准进行矢量修正，其内嵌于少数厂家的矢量网络分析仪，数据文件加密，仅限于校准过程中应用，不能后期更改，如有更改需重新校准。
[0006]（3）使用基于时域变换算法的夹具移除方法，提取S参数进行修正。但是，该方法对待修正夹具的最小长度有限制，不能小于一个电长度，使用受限。
[0007]因此，上述方法要么精度不够，要么使用受限且均不支持矢量放缩。故需要开发一种精确、简便、频率覆盖性高且不受个别厂家仪器限制的毫米波宽带功率校准修正方法。

技术实现思路

[0008]鉴于以上所述现有技术的缺点，本专利技术的目的在于提供一种毫米波宽带功率校准修正方法及系统、存储介质及终端，能够准确、便捷地进行毫米波宽带功率校准修正，有效提高了射频微波的测试精度。
[0009]为实现上述目的及其他相关目的，本专利技术提供一种毫米波宽带功率校准修正方法，包括以下步骤：对于同轴或波导端口的夹具上连接的校准标准件，获取所述校准标准件的测试反射系数和实际反射系数；基于所述测试反射系数和所述实际反射系数构建超定方程组；基于所述超定方程组计算所述夹具的S参数；对所述夹具的S参数进行圆形内插，获取内插点的S参数；基于所述夹具的S参数和所述内插点的S参数进行毫米波宽带功率校准修正。
[0010]于本专利技术一实施例中，所述校准标准件包括开路、负载和四个不同延时的短路。
[0011]于本专利技术一实施例中，所述超定方程组为，其中Γ
O
和Γ
L
分别为所述开路和所述负载的实际反射系数，Γ
S1
、Γ
S2
、Γ
S3
、Γ
S4
为所述四个不同延时的短路的实际反射系数；Γ
MO
和Γ
ML
分别为所述开路和所述负载的测试反射系数，Γ
MS1
、Γ
MS2
、Γ
MS3
、Γ
MS4
为所述四个不同延时的短路的测试反射系数；S
F11
、S
F12
、S
F21
、S
F22
为所述夹具的S参数。
[0012]于本专利技术一实施例中，基于所述超定方程组计算所述夹具的S参数包括以下步骤：设定、、、、，得到；设定S
F11
=S
F21
，基于X1、 X2、X3计算S
F11
、S
F12
、S
F21
、S
F22
。
[0013]于本专利技术一实施例中，对所述夹具的S参数进行圆形内插，获取内插点的S参数包括以下步骤：在所述夹具的S参数中依次选择三个点来构成或一个圆，获取所述圆的半径r和圆心坐标(x0, y0)；在所述三个点中选择一个参考点；根据获取内插点的S参数，其中，表示单位相位；n为所述三个点中相邻两点间需内插点数，k为内插点与所述参考点距离单位相位个数，φ
ref
为所述参考点相位，为所述夹具的S参数中相邻点的相位差。
[0014]本专利技术提供一种毫米波宽带功率校准修正系统，包括获取模块、构建模块、计算模块、内插模块和校准修正模块；所述获取模块用于对于同轴或波导端口的夹具上连接的校准标准件，获取所述校准标准件的测试反射系数和实际反射系数；所述构建模块用于基于所述测试反射系数和所述实际反射系数构建超定方程组；所述计算模块用于基于所述超定方程组计算所述夹具的S参数；所述内插模块用于对所述夹具的S参数进行圆形内插，获取内插点的S参数；所述校准修正模块用于基于所述夹具的S参数和所述内插点的S参数进行毫米波宽带功率校准修正。
[0015]本专利技术提供一种存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现上述的毫米波宽带功率校准修正方法。
[0016]本专利技术提供一种毫米波宽带功率校准修正终端，包括：处理器及存储器；所述存储器用于存储计算机程序；所述处理器用于执行所述存储器存储的计算机程序，以使所述毫米波宽带功率校准修正终端执行上述的毫米波宽带功率校准修正方法。
[0017]如上所述，本专利技术的毫米波宽带功率校准修正方法及系统、存储介质及终端，具有以下有益效果：（1）采用构造求解超定方程组，求得其最小二阶乘解的方法来优化OSL方法；利用测试冗余项降低随机误差干扰，提高测试精度，尤其在毫米波频段以上优势明显；结合圆形内插算法，可实现离线数据矢量扩展，不需要在每次功率测试时都进行夹具参数提取，大大提高了操作的便捷性；（2）通用性好，不受限于某一厂家仪器与软件，提高射频微波测试精度，推动整个行业的发展。
附图说明
[0018]图1显示为本专利技术毫米波宽带功率校准修正方法于一实施例中的流程图。
[0019]图2显示为本专利技术的基于OSL方法的S参数提取方法的信号流图。
[0020]图3显示为本专利技术的圆形内插于一实施例中的结构示意图。
[0021]图4显示为本专利技术毫米波宽带功率校准修正系统于一实施例中的结构示意图。
[0022]图5显示为本专利技术毫米波宽带功率校准修正终端于一实施例中的结构示意图。
[0023]元件标号说明41
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获取模块42
ꢀꢀꢀꢀ
构建模块43
ꢀꢀꢀꢀ
计算模块44
ꢀꢀꢀꢀ
内插模块45
ꢀꢀꢀꢀ
校准修正模块51
ꢀꢀꢀꢀ
处理器52
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存储器。
具体实施方式
[0024]以下通过特定的具体实例说明本专利技术的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本专利技术的其他优点与功效。本专利技术还可以通过另外不本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种毫米波宽带功率校准修正方法，其特征在于：包括以下步骤：对于同轴或波导端口的夹具上连接的校准标准件，获取所述校准标准件的测试反射系数和实际反射系数；基于所述测试反射系数和所述实际反射系数构建超定方程组；基于所述超定方程组计算所述夹具的S参数；对所述夹具的S参数进行圆形内插，获取内插点的S参数；基于所述夹具的S参数和所述内插点的S参数进行毫米波宽带功率校准修正。2.根据权利要求1所述的毫米波宽带功率校准修正方法，其特征在于：所述校准标准件包括开路、负载和四个不同延时的短路。3.根据权利要求2所述的毫米波宽带功率校准修正方法，其特征在于：所述超定方程组为，其中Γ
O
和Γ
L
分别为所述开路和所述负载的实际反射系数，Γ
S1
、Γ
S2
、Γ
S3
、Γ
S4
为所述四个不同延时的短路的实际反射系数；Γ
MO
和Γ
ML
分别为所述开路和所述负载的测试反射系数，Γ
MS1
、Γ
MS2
、Γ
MS3
、Γ
MS4
为所述四个不同延时的短路的测试反射系数；S
F11
、S
F12
、S
F21
、S
F22
为所述夹具的S参数。4.根据权利要求3所述的毫米波宽带功率校准修正方法，其特征在于：基于所述超定方程组计算所述夹具的S参数包括以下步骤：设定、、、、，得到；设定S
F11
=S
F21
...

【专利技术属性】
技术研发人员：丁旭，王立平，刘利平，
申请(专利权)人：浙江铖昌科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：