管理一次写入式记录介质上的缺陷的方法和装置制造方法及图纸

技术编号:3062727 阅读:123 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种考虑了与可重写的盘的兼容性来管理缺陷的方法、一种用于实现所述方法的再现和/或记录装置、一种由此而来的一次写入式记录介质、以及一种包括用于控制缺陷管理的实现的计算机可读代码的介质。所述方法包括:在一次写入式记录介质上提供多个临时缺陷管理区域;通过使用所述多个临时缺陷管理区域来进行缺陷管理;以及当所述多个临时缺陷管理区域之中的一个用完时,将指示该一个临时缺陷管理区域用完的满标志信息写入到剩余的临时缺陷管理区域之中的至少一个上。因此,能够有效地进行缺陷管理。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一次写入式记录介质上的缺陷的管理,更特别地,本专利技术涉及一种用于管理一次写入式记录介质中的缺陷而且保持与可重写的再现和/或记录装置的兼容性的方法、一种用于实现上述方法的再现和/或记录装置、一种由此而来的一次写入式记录介质、以及一种包括用于控制所述方法的实现的计算机可读代码的介质。
技术介绍
缺陷管理是一种当将用户数据记录在用户数据区域的先前尝试导致具有缺陷的已记录的用户数据时而将用户数据存储在备用区域中的处理。传统上,通过使用线性替换或滑动替换来进行记录介质上的缺陷管理。线性替换(linear replacement)是利用备用区域中没有缺陷的扇区替换用户数据区域中的有缺陷扇区的处理。滑动替换(slipping replacement)是跳过缺陷扇区并且使用紧接着该缺陷扇区的第一良好扇区的处理。线性替换和滑动替换这两者只能用于能将数据重写到其中的和/或能利用随机访问写入数据的记录介质,举例来说,DVD-RAM盘和DVD-RW盘。换句话说,将传统的线性替换和滑动替换应用到一次写入式记录介质是困难的。能够通过实际上将数据写入到记录介质上来验证是否缺陷已经发生。但是,由于数据不能被重写到一次写入式记录介质中,所以通过使用这些传统的方法不能对一次写入式记录介质进行缺陷管理。同时,随着CD-R和DVD-R记录介质的发展,已经开发了具有几十GB容量的高密度一次写入式记录介质。这些记录介质价格便宜并且能使用随机访问来读取数据,从而具有快的读取速度。因为这些优点,所以它们通常被用于系统备份(backup)。但是,由于在一次写入式记录介质上没有进行缺陷管理,所以当在备份期间出现有缺陷的扇区时则中断备份。特别地,由于通常当不频繁使用系统时进行备份,即,在夜间,当操作者不在时,存在备份被中断而没有被恢复的高度可能性。传统上,通过已定义的规范(举例来说,DVD规范)中的规则公开了为缺陷管理所提供的区域的位置信息,并且再现和/或记录装置设计者基于规范来设计再现和/或记录装置。因此,如果将新的区域增加到记录介质,除了用于传统的缺陷管理的区域之外,传统的再现和/或记录装置不能正确地识别新的区域,以及不能正确地进行缺陷管理。
技术实现思路
本专利技术的实施例提供了用于管理一次写入式记录介质上的缺陷以便允许在一次写入式记录介质上顺利地进行记录的方法、一种用于实现上述方法的再现和/或记录装置、一种由此而来的一次写入式记录介质、以及一种包括用于控制所述方法的实现的计算机可读代码的介质。本专利技术的实施例也提供了用于管理一次写入式记录介质上的缺陷,以便该一次写入式记录介质与可重写的再现和/或记录装置相兼容的方法、一种用于实现上述方法的再现和/或记录装置、一种由此而来的一次写入式记录介质、以及一种包括用于控制所述方法的实现的计算机可读代码的介质。本专利技术的附加方面和/或优点将在随后的描述中被部分地提出,并且,部分地,将从描述中是显而易见的,或者可以通过本专利技术的实践来学会。为了实现上述和/或其它的方面和优点,本专利技术的实施例包括一种用于管理记录介质上的缺陷的方法,所述记录介质包括用于管理在记录介质上所检测的缺陷的多个临时缺陷管理区域,所述方法包括通过使用多个临时缺陷管理区域进行缺陷管理;以及当一个临时缺陷管理区域用完时,将用于指示多个临时缺陷管理区域中的一个临时缺陷管理区域用完的满标志信息写入到剩余的多个临时缺陷管理区域中的至少一个中。为了实现上述和/或附加的方面和优点,本专利技术的实施例还包括用于对具有单一记录层的记录介质上的缺陷进行管理的方法,在所述单一记录层上顺序地设置了导入区域、数据区域、和导出区域,其中所述数据区域在其各自相对的末端处具有第一备用区域和第二备用区域,所述方法包括将第一临时缺陷管理区域分配到记录介质的导入区域和导出区域中的至少一个上;将第二临时缺陷管理区域分配在第一备用区域和用户数据区域之间或分配在用户数据区域和第二备用区域之间;通过使用第一和第二临时缺陷管理区域来进行记录介质的缺陷管理;以及当第一和第二临时缺陷管理区域中的一个用完时,将用于指示第一和第二临时缺陷管理区域中的一个临时缺陷管理区域用完的满标志信息写入到第一和第二临时缺陷管理区域中的另一个中。为了实现上述和/或另外的方面和优点,本专利技术的实施例包括一种用于对在具有第一记录层和第二记录层的记录介质上的缺陷进行管理的方法,所述第一记录层包括根据记录路径顺序地设置的导入区域、数据区域、和外部区域,其中第一记录层的数据区域具有在其各自相对的末端处的第一备用区域和第二备用区域,所述第二记录层包括根据记录路径顺序地设置的外部区域、数据区域、和导出区域,其中第二记录层的数据区域具有在其各自相对的末端处的第三备用区域和第四备用区域,所述方法包括将第一临时缺陷管理区域分配到在记录介质的导入区域、导出区域、和外部区域之中的至少一个上;将第二临时缺陷管理区域分配在第一备用区域和用户数据区域之间和/或分配在第四备用区域和用户数据区域之间;通过使用第一和第二临时缺陷管理区域来进行记录介质的缺陷管理;以及当第一和第二临时缺陷管理区域中的一个用完时,将用于指示第一和第二临时缺陷管理区域中的一个临时缺陷管理区域用完的满标志信息写入到第一和第二临时缺陷管理区域中的另一个中。为了实现上述和/或仍然另外的方面和优点,本专利技术的实施例包括一种再现和/或记录装置,其包括拾取器,用于将数据写入到记录介质或从记录介质读取数据;以及控制单元,用于验证由拾取器写入到记录介质的或从记录介质所读取的数据,通过使用在记录介质上所提供的多个临时缺陷管理区域来进行缺陷管理,以及当一个临时缺陷管理区域用完时,控制拾取器以便将用于指示多个临时缺陷管理区域中的一个临时缺陷管理区域用完的满标志信息写入到剩余的临时缺陷管理区域中的至少一个中。为了实现上述和/或其它的方面和优点,本专利技术的实施例包括一种具有单一记录层的一次写入式记录介质,在该单一记录层上顺序地设置了导入区域、数据区域、和导出区域,所述数据区域具有顺序地设置的第一备用区域、用户数据区域、和第二备用区域,所述一次写入式记录介质包括在导入区域和导出区域中的至少一个中所提供的缺陷管理区域,其包括用于在重放期间进行一次写入式记录介质的缺陷管理的缺陷管理信息;在导入区域和导出区域中的至少一个中所提供的第一临时缺陷管理区域,其包括利用预定的周期记录到一次写入式记录介质上的临时管理信息;以及在第一备用区域和用户数据区域之间或在用户数据区域和第二备用区域之间提供的第二临时缺陷管理区域,其包括利用与所述预定的周期不相同的周期记录到一次写入式记录介质上的临时管理信息,其中将指示第二临时缺陷管理区域是否用完的满标志信息记录在第一临时缺陷管理区域中,和将指示第一临时缺陷管理区域是否用完的满标志信息记录在第二临时缺陷管理区域中。为了实现上述和/或其它的方面和优点,本专利技术的实施例包括一种具有第一记录层和第二记录层的一次写入式记录介质,所述第一记录层包括根据记录路径顺序地设置的导入区域、数据区域、和外部区域,其中所述数据区域具有在其各自相对的末端处的第一备用区域和第二备用区域,所述第二记录层包括根据记录路径顺序地设置的外部区域、数据区域、和导入区域,其中数据区域具有在其各自相对的末端处的第三备本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种用于管理记录介质上的缺陷的方法,所述记录介质包括多个用于管理在该记录介质上所检测的缺陷的临时缺陷管理区域,所述方法包括:    通过使用多个临时缺陷管理区域来进行缺陷管理;以及    当一个临时缺陷管理区域用完时,将用于指示多个临时缺陷管理区域中的一个临时缺陷管理区域用完的满标志信息写入到剩余的多个临时缺陷管理区域中的至少一个中。

【技术特征摘要】
KR 2003-4-19 24869/031.一种用于管理记录介质上的缺陷的方法,所述记录介质包括多个用于管理在该记录介质上所检测的缺陷的临时缺陷管理区域,所述方法包括通过使用多个临时缺陷管理区域来进行缺陷管理;以及当一个临时缺陷管理区域用完时,将用于指示多个临时缺陷管理区域中的一个临时缺陷管理区域用完的满标志信息写入到剩余的多个临时缺陷管理区域中的至少一个中。2.根据权利要求1所述的方法,其中记录介质还包括从临时缺陷管理区域分离的缺陷管理区域,用于在记录介质的重放期间的缺陷管理。3.根据权利要求1所述的方法,还包括当剩余的多个临时缺陷管理区域中的至少一个包括满标志信息时,在没有一个临时缺陷管理区域用完的情况下,通过使用剩余的临时缺陷管理区域进行缺陷管理。4.根据权利要求1所述的方法,还包括将多个临时缺陷管理区域中的至少一个设置在记录介质的导入区域、导出区域、和外部区域中的至少一个中;以及将多个临时缺陷管理区域中的至少一个设置在记录介质的数据区域中。5.根据权利要求4所述的方法,其中满标志信息的写入包括当设置在导入区域、导出区域、和外部区域中的至少一个中的一个临时缺陷管理区域用完时,将用于指示一个临时缺陷管理区域用完的满标志信息写入到设置在数据区域中的剩余的多个临时缺陷管理区域中的一个中。6.根据权利要求4所述的方法,其中满标志信息的写入包括当设置在数据区域中的一个临时缺陷管理区域用完时,将用于指示一个临时缺陷管理区域用完的满标志信息写入到设置在导入区域、导出区域、和外部区域中的至少一个中的剩余的多个临时缺陷管理区域中的一个中。7.根据权利要求1所述的方法,其中以从每一各自临时缺陷管理区域的后面到每一各自临时缺陷管理区域的前面的相反的先后顺序来将包括所检测到的缺陷的信息的临时缺陷信息记录在临时缺陷管理区域中。8.一种用于对具有单一记录层的记录介质上的缺陷进行管理的方法,其中在所述单一记录层上顺序地设置了导入区域、数据区域、和导出区域,所述数据区域在其各自相对的末端处具有第一备用区域和第二备用区域,所述方法包括将第一临时缺陷管理区域分配到记录介质的导入区域和导出区域中的至少一个上;将第二临时缺陷管理区域分配在第一备用区域和用户数据区域之间或分配在用户数据区域和第二备用区域之间;通过使用第一和第二临时缺陷管理区域来进行记录介质的缺陷管理;以及当第一和第二临时缺陷管理区域中的一个用完时,将用于指示第一和第二临时缺陷管理区域中的一个临时缺陷管理区域用完的满标志信息写入到第一和第二临时缺陷管理区域中的另一个中。9.根据权利要求8所述的方法,还包括当第一和第二临时缺陷管理区域中的另一个包括满标志信息时,在没有第一和第二临时缺陷管理区域中的一个用完的情况下,通过使用第一和第二临时缺陷管理区域中的另一个进行缺陷管理。10.根据权利要求8所述的方法,其中缺陷管理的执行包括无论何时填满用户数据区域中的预定数量的簇时或无论何时在记录介质上的写入后验证的操作被完成预定次数时,更新在第二临时缺陷管理区域中的临时管理信息;以及,无论何时完成记录操作时,更新在第一临时缺陷管理区域中的临时管理信息,其中在第一临时缺陷管理区域中的临时管理信息的更新是根据不同于在第二临时缺陷管理区域中的临时管理信息的更新的周期而发生的。11.根据权利要求8所述的方法,缺陷管理的执行包括将在第一或第二临时缺陷管理区域中的最近更新的临时管理信息写入到在记录介质的导入区域和导出区域中的至少一个中所提供的缺陷管理区域中,其中所述缺陷管理区域用于在记录介质的重放期间的缺陷管理。12.根据权利要求8所述的方法,还包括将包括所检测到的缺陷的信息的临时缺陷信息以从每一各自临时缺陷管理区域的后面到每一各自临时缺陷管理区域的前面的相反的先后顺序记录在第一和/或第二临时缺陷管理区域中。13.一种用于对在具有第一记录层和第二记录层的记录介质上的缺陷进行管理的方法,所述第一记录层包括根据记录路径顺序地设置的导入区域、数据区域、和外部区域,其中第一记录层的数据区域具有在其各自相对的末端处的第一备用区域和第二备用区域,所述第二记录层包括根据记录路径顺序地设置的外部区域、数据区域、和导出区域,其中第二记录层的数据区域具有在其各自相对的末端处的第三备用区域和第四备用区域,所述方法包括将第一临时缺陷管理区域分配到在记录介质的导入区域、导出区域、和外部区域之中的至少一个上;将第二临时缺陷管理区域分配在第一备用区域和用户数据区域之间和/或分配在第四备用区域和用户数据区域之间;通过使用第一和第二临时缺陷管理区域来进行记录介质的缺陷管理;以及当第一和第二临时缺陷管理区域中的一个用完时,将用于指示第一和第二临时缺陷管理区域中的一个临时缺陷管理区域用完的满标志信息写入到第一和第二临时缺陷管理区域中的另一个中。14.根据权利要求13所述的方法,还包括当第一和第二临时缺陷管理区域中的另一个包括满标志信息时,在没有第一和第二临时缺陷管理区域中的一个用完的情况下,通过使用第一和第二临时缺陷管理区域中的另一个进行缺陷管理。15.根据权利要求13所述的方法,其中缺陷管理的执行包括无论何时填满用户数据区域中的预定数量的簇时或无论何时在记录介质上的写入后验证的操作被完成预定次数时,更新在第二临时缺陷管理区域中的临时管理信息;以及,无论何时完成记录操作时,更新在第一临时缺陷管理区域中的临时管理信息,其中在第一临时缺陷管理区域中的临时管理信息的更新是根据与在第二临时缺陷管理区域中的临时管理信息的更新不同的周期而发生的。16.根据权利要求13所述的方法,其中缺陷管理的执行包括将在第一或第二临时缺陷管理区域中的最近更新的临时管理信息写入到在记录介质的导入区域、导出区域、和外部区域之中的至少一个中所提供的缺陷管理区域中,其中所述缺陷管理区域用于在记录介质的重放期间的缺陷管理。17.根据权利要求13所述的方法,其中将包括所检测到的缺陷的信息的临时缺陷信息以从每一各自临时缺陷管理区域的后面到每一各自临时缺陷管理区域的前面的相反的先后顺序记录在第一和/或第二临时缺陷管理区域中。18.一种再现和/或记录装置,包括拾取器,用于将数据写入到记录介质或从记录介质读取数据;以及控制单元,用于验证由拾取器写入到记录介质的或从记录介质所读取的数据,通过使用在记录介质上所提供的多个临时缺陷管理区域来进行缺陷管理,以及当一个临时缺陷管理区域用完时,控制拾取器以便将用于指示多个临时缺陷管理区域中的一个临时缺陷管理区域用完的满标志信息写入到剩余的临时缺陷管理区域中的至少一个中。19.根据权利要求18所述的再现和/或记录装置,其中控制单元控制拾取器来使用记录介质的缺陷管理区域,该缺陷管理区域是与临时缺陷管理区域相分离的,其用于在记录介质的重放期间的记录的缺陷管理。20.根据权利要求19所述的再现和/或记录装置,其中缺陷管理区域是在用于可重写的记录介质和为一次写入式记录介质的记录介质的相兼容的位置中。...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄盛凞高祯完李坰根
申请(专利权)人:三星电子株式会社
类型:发明
国别省市:KR[韩国]

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