本实用新型专利技术公开一种多针PTC测试板及多针PTC测试耐压装置，包括：测针板，所述测针板的反面可拆卸连接有若干组并联的接入电源，所述测针板的正面上设有若干组测针，每一组所述接入电源为至少两根并联电源，每一组所述测针为至少两个测针，每一组所述接入电源与其对应的每一组所述测针接触电连接；在耐压测试时，能够减少待测试的PTC表面触点发黑和烧电极等现象的出现，提高了10％以上PTC耐压表面合格率。提高了10％以上PTC耐压表面合格率。提高了10％以上PTC耐压表面合格率。
【技术实现步骤摘要】
一种多针PTC测试板及多针PTC测试耐压装置
[0001]本技术具体涉及一种多针PTC测试板及多针PTC测试耐压装置。
技术介绍
[0002]目前市场上PTC耐压测试，采用单触点(探针)表面测试，测试时，单探针接触PTC表面。由于PTC表面或者探针头存在脏污，使得探针与PTC的接触电阻增大。当施加高电压进行PTC的耐压测试时，探针与PTC的接触点的电流较大，如果存在接触电阻的话，PTC表面就容易电极烧毁形成黑点导致产品报废。在实际生产中，这种黑点的不良率在2％以上。
技术实现思路
[0003]为了解决上述技术问题，本技术提出了一种多针PTC测试板及多针PTC测试耐压装置，在耐压测试时，能够减少待测试的PTC表面触点发黑和烧电极等现象的出现，提高了10％以上PTC耐压表面合格率。
[0004]为了达到上述目的，本技术的技术方案如下：
[0005]一种多针PTC测试板，包括：测针板，所述测针板的反面可拆卸连接有若干组并联的接入电源，所述测针板的正面上设有若干组测针，每一组所述接入电源为至少两根并联电源，每一组所述测针为至少两个测针，每一组所述接入电源与其对应的每一组所述测针接触电连接。
[0006]本技术公开一种多针PTC测试板及多针PTC测试耐压装置，在耐压测试时，能够减少待测试的PTC表面触点发黑和烧电极等现象的出现，提高了10％以上PTC耐压表面合格率。
[0007]在上述技术方案的基础上，还可做如下改进：
[0008]本技术公开了一种多针PTC测试耐压装置，以上任一项所述的多针PTC测试板和多针PTC测试耐压组件，所述多针PTC测试板设置于所述多针PTC测试耐压组件上，用于对PTC片的耐压测试。
[0009]作为优选的方案，包括：上测针板和下测针板，PTC片设置于所述上测针板与所述下测针板之间，所述上测针板与所述下测针板相对应且相互配合。
[0010]作为优选的方案，所述上测针板上具有上测针板测针，所述下测针板上具有下测针板测针，所述上测针板测针能够与所述PTC片的正面接触，所述下测针板测针能够与所述PTC片的反面接触。
[0011]作为优选的方案，包括：框本体，所述框本体包括：框顶壁、框底壁和至少四根定位导柱，所述框顶壁通过所述定位导柱与所述框底壁连接构成框本体。
[0012]作为优选的方案，所述多针PTC测试耐压组件包括：上测针板置物台和下测针板置物台，所述上测针板设置于所述上测针板置物台上，所述下测针板设置于所述下测针板置物台上，所述上测针板置物台与所述下测针板置物台呈相对设置。
[0013]作为优选的方案，每一根所述定位导柱上设有上滑块和下滑块，所述上滑块与所
述上测针板置物台的侧外壁连接，所述下滑块与所述下测针板置物台的侧外壁连接。
[0014]作为优选的方案，所述下测针板置物台与所述下滑块之间至少设有两根限位条。
[0015]作为优选的方案，包括：驱动组件，所述驱动组件一端部穿设所述框顶壁并与所述上测针板置物台连接。
[0016]作为优选的方案，所述多针PTC测试耐压组件还包括：压缩弹性件，所述压缩弹性件设置于所述下滑块与所述框底壁之间的定位导柱上。
附图说明
[0017]图1为本技术实施例提供的一种多针PTC测试板的结构图；
[0018]图2为本技术实施例提供的一种多针PTC测试耐压装置的结构图。
[0019]其中：
[0020]1、测针板；2、并联的接入电源；3、测针；4、框顶壁，5、框底壁，6、定位导柱，7、上测针板置物台，8、下测针板置物台，9.上测针板，10.下测针板，11.上滑块，12.下滑块，13.限位条，14.驱动组件，15.压缩弹性件。
具体实施方式
[0021]下面结合附图详细说明本技术的优选实施方式。
[0022]为了达到本技术的目的，如图1和2所示，一种多针PTC测试板，包括：测针板1，所述测针板1的反面可拆卸连接有若干组并联的接入电源2，所述测针板1的正面上设有若干组测针3，每一组所述接入电源为至少两根并联电源2，每一组所述测针3为至少两个测针3，每一组所述接入电源2与其对应的每一组所述测针3接触电连接。
[0023]本技术公开一种多针PTC测试板及多针PTC测试耐压装置，在耐压测试时，能够减少待测试的PTC表面触点发黑和烧电极等现象的出现，提高了10％以上PTC耐压表面合格率。
[0024]本技术公开了一种多针PTC测试耐压装置，以上任一项所述的多针PTC测试板和多针PTC测试耐压组件，所述多针PTC测试板设置于所述多针PTC测试耐压组件上，用于对PTC片的耐压测试。
[0025]采用上述实施例，其结构简单，操作方便，便于对PTC片进行耐压测试，能够减少待测试的PTC表面触点发黑和烧电极等现象的出现，提高了10％以上PTC耐压表面合格率。
[0026]在一些实施例中，所述测针板1包括：上测针板9和下测针板10，PTC片(未示出)设置于所述上测针板9与所述下测针板10之间，所述上测针板9与所述下测针板10相对应且相互配合用于对所述PTC片(未示出)进行耐压测试。
[0027]采用上述实施例，其结构简单，操作方便，所述上测针板9测针能够与所述PTC片(未示出)的正面接触进行测试，所述下测针板10测针能够与所述PTC片(未示出)的反面接触进行测试，便于对PTC片(未示出)进行耐压测试。
[0028]在一些实施例中，所述上测针板9上具有上测针板测针3，所述下测针板10上具有下测针板测针3，所述上测针板测针3能够与所述PTC片(未示出)的正面接触进行测试，所述下测针板测针3能够与所述PTC片(未示出)的反面接触进行测试。
[0029]采用上述实施例，其结构简单，操作方便，所述上测针板测针3能够与所述PTC片
(未示出)的正面接触进行耐压测试，所述下测针板测针3能够与所述PTC片(未示出)的反面接触进行耐压测试，便于对PTC片进行耐压测试。
[0030]在一些实施例中，包括：框本体，所述框本体包括：框顶壁4、框底壁5和至少四根定位导柱6，所述框顶壁4通过所述定位导柱6与所述框底壁5连接构成框本体。
[0031]采用上述实施例，其结构简单，操作方便，便于对PTC片进行耐压测试。
[0032]在一些实施例中，所述多针PTC测试耐压组件包括：上测针板置物台7和下测针板置物台8，所述上测针板9设置于所述上测针板置物台7上，所述下测针板10设置于所述下测针板置物台8上，所述上测针板置物台7与所述下测针板置物台8呈相对设置。
[0033]采用上述实施例，其结构简单，操作方便，便于对PTC片进行耐压测试。
[0034]在一些实施例中，每一根所述定位导柱6上设有上滑块11和下滑块12，所述上滑块11与所述上测针板置物台7的侧外壁连接，所述下滑块12与所述下测针板置物台8的侧外壁连接。
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种多针PTC测试板，其特征在于，包括：测针板，所述测针板的反面可拆卸连接有若干组并联的接入电源，所述测针板的正面上设有若干组测针，每一组所述接入电源为至少两根并联电源，每一组所述测针为至少两个测针，每一组所述接入电源与其对应的每一组所述测针接触电连接。2.一种多针PTC测试耐压装置，其特征在于，包括如权利要求1所述的多针PTC测试板和多针PTC测试耐压组件，所述多针PTC测试板设置于所述多针PTC测试耐压组件上，用于对PTC片的耐压测试。3.根据权利要求2所述的多针PTC测试耐压装置，其特征在于，包括：上测针板和下测针板，PTC片设置于所述上测针板与所述下测针板之间，所述上测针板与所述下测针板相对应且相互配合。4.根据权利要求3所述的多针PTC测试耐压装置，其特征在于，所述上测针板上具有上测针板测针，所述下测针板上具有下测针板测针，所述上测针板测针能够与所述PTC片的正面接触，所述下测针板测针能够与所述PTC片的反面接触。5.根据权利要求2所述的多针PTC测试耐压装置，其特征在于，包括：框本体，所述框本体包括：框顶壁、框底壁和...
【专利技术属性】
技术研发人员：朱兴文，
申请(专利权)人：江苏钧瓷科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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