一种用于谷物不完善粒与杂质感官检验的双层分析盘制造技术

本实用新型专利技术涉及一种用于谷物不完善粒与杂质感官检验的双层分析盘，包括底盘、挑选盘、暂存室和挡板，所述底盘为U形结构，包括底板、两个侧板以及背板，挑选盘平行设置于底盘的底板上方，并与底盘的两个侧板固定连接，且挑选盘与底盘之间沿长度方向划分有多个通道；所述暂存室位于挑选盘的末端与背板之间，每个暂存室与一个通道对应并连通，且每个暂存室与通道之间均设有挡料门；所述挡板垂直设置在挑选盘上，与底盘的侧板围成挑选区间，且挡板的一端还开设有完善粒出料口。本实用新型专利技术结构简单、节约空间、成本低廉、操作简单，可较好解决传统仪器占用空间、不易原粮现场作业等问题。不易原粮现场作业等问题。不易原粮现场作业等问题。

【技术实现步骤摘要】
一种用于谷物不完善粒与杂质感官检验的双层分析盘


[0001]本技术涉及谷物籽粒与杂质感官检验
，具体涉及一种用于谷物不完善粒与杂质感官检验的双层分析盘。

技术介绍

[0002]谷物不完善粒与杂质是原粮检验工作中重要的质量指标，在谷物原粮出入库和储存期间，检验员检测谷物的不完善粒率与杂质含量，对谷物市场流通与谷物安全储藏都起到重要的指导性作用。在目前现有检测条件下，谷物不完善粒与杂质检验工作仍是以传统的检验方式为主，检验员将检验样品放在普通白瓷方盘中进行挑选，另外需要给白瓷盘配若干个玻璃器皿用于放置不完善粒与杂质，这样的检验仪器占用空间大，不易携带至现场原粮检验。区别于传统检验员人工感官检验，随着计算机科学和机器视觉的快速发展，目前谷物不完善粒与杂质智能检验试验已经可以实现单籽粒的分类识别，而且市面上也以出现谷物不完善粒检验仪，由于仪器体积大、质量重，对检验样品要求高，识别准确率低等因素限制，谷物不完善粒与杂质检验工作仍由检验员人工感官检验进行挑选。因此，为了能很好解决传统检验工作时仪器简陋，占用空间大，不易携带至原粮现场进行检验的问题，需研究设计了一种用于谷物不完善粒与杂质感官检验的双层分析盘。

技术实现思路

[0003]本技术的目的是为解决上述技术问题及不足，提供一种用于谷物不完善粒与杂质感官检验的双层分析盘。
[0004]本技术为解决上述技术问题的不足，所采用的技术方案是：一种用于谷物不完善粒与杂质感官检验的双层分析盘，包括底盘、挑选盘、暂存室和挡板，所述底盘为U形结构，包括底板、两个侧板以及背板，挑选盘平行设置于底盘的底板上方，并与底盘的两个侧板固定连接，且挑选盘与底盘之间沿长度方向划分有多个通道；所述暂存室位于挑选盘的末端与背板之间，每个暂存室与一个通道对应并连通，且每个暂存室与通道之间均设有挡料门；所述挡板垂直设置在挑选盘上，与底盘的侧板围成挑选区间，且挡板的一端还开设有完善粒出料口。
[0005]作为本技术一种用于谷物不完善粒与杂质感官检验的双层分析盘的进一步优化，所述的暂存室与通道对应设有3
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8个。
[0006]作为本技术一种用于谷物不完善粒与杂质感官检验的双层分析盘的进一步优化，所述完善粒出料口处还设有出料门。
[0007]作为本技术一种用于谷物不完善粒与杂质感官检验的双层分析盘的进一步优化，所述挡板为L形结构。
[0008]作为本技术一种用于谷物不完善粒与杂质感官检验的双层分析盘的进一步优化，L形结构的挡板的竖直板与水平板铰接。
[0009]作为本技术一种用于谷物不完善粒与杂质感官检验的双层分析盘的进一步
优化，所述底盘的两个侧板上设有LED灯带。
[0010]作为本技术一种用于谷物不完善粒与杂质感官检验的双层分析盘的进一步优化，所述挑选盘为透明板结构。
[0011]本技术具有以下有益效果：
[0012]一、本技术设计的用于谷物不完善粒与杂质感官检验的双层分析盘，其结构简单、节约空间、成本低廉、操作简单，可较好解决传统仪器占用空间、不易原粮现场作业等问题。
[0013]二、本技术的双层分析盘代替了传统的白瓷盘与若干个玻璃器皿，既节约了占用空间又便于携带，让检验员的工作台更简洁、整齐有序。
[0014]三、本技术操作简单，该装置不需要对检验员进行操作教学即可使用，对装置使用环境要求低，既可以在水平的工作台面上进行检验工作，也可以携带至原粮现场作业。
附图说明
[0015]图1为本技术的结构示意图；
[0016]附图标记：1、底盘，2、挑选盘，3、暂存室，4、挡板，5、通道，6、挡料门，7、完善粒出料口。
具体实施方式
[0017]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。
[0018]实施例1
[0019]一种用于谷物不完善粒与杂质感官检验的双层分析盘，包括底盘1、挑选盘2、暂存室3和挡板4，所述底盘1为U形结构，包括底板、两个侧板以及背板，挑选盘2平行设置于底盘1的底板上方，并与底盘1的两个侧板固定连接，且挑选盘2与底盘1之间沿长度方向划分有多个通道5；所述暂存室3位于挑选盘2的末端与背板之间，每个暂存室3与一个通道5对应并连通，且每个暂存室3与通道5之间均设有挡料门6；所述挡板4垂直设置在挑选盘2上，与底盘1的侧板围成挑选区间，且挡板4的一端还开设有完善粒出料口7。
[0020]本技术中所述的暂存室3与通道5对应设有3
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8个。针对检测玉米、大豆等谷物的双层分析盘可设置6
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8个暂存室3与通道5，最优的实施方式为设置7个暂存室3与通道5。针对小麦、大米等粒径偏小的谷物的双层分析盘可设置3
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5个暂存室3与通道5，最优的实施方式为设置4个暂存室3与通道5。
[0021]为了使本技术具有更好的实施方式，所述完善粒出料口7处还设有出料门。
[0022]作为本技术的另一种实施方式，所述挡板4为L形结构，进一步的可以将L形结构的挡板4的竖直板与水平板铰接，当挡板4呈L形时，水平板可以起导流作用，防止谷物散落；当转动水平板使挡板4呈直线形，可以根据需要挡住完善粒出料口7。
[0023]为了具有更好的实施效果，所述底盘1的两个侧板上设有LED灯带，用于检验环境昏暗时急用。所述挑选盘2为透明板结构，能清晰观察到不完善粒与杂质在通道5的输出情况。
[0024]本技术中，针对玉米、大豆等谷物的每个通道高1cm，宽2cm；针对小麦、大米等
谷物的每个通道高0.5
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1cm，宽1cm。
[0025]本技术在工作时，谷物小样倒入挑选盘2内，人工挑选，将不同的杂质以及不完善粒放入不同的暂存室3，挑拣完成后将完善粒从完善粒出料口7排出，然后根据需要抽拉挡料门6，使对应的暂存室3内的不完整粒或杂质沿对应连通的通道5倒出，进行检测或者称重等操作。
[0026]本技术设计的用于谷物不完善粒与杂质感官检验的双层分析盘，其结构简单、节约空间、成本低廉、操作简单，可较好解决传统仪器占用空间、不易原粮现场作业等问题。本技术的双层分析盘代替了传统的白瓷盘与若干个玻璃器皿，既节约了占用空间又便于携带，让检验员的工作台更简洁、整齐有序。本技术操作简单，该装置不需要对检验员进行操作教学即可使用，对装置使用环境要求低，既可以在水平的工作台面上进行检验工作，也可以携带至原粮现场作业。
[0027]以上对本技术的具体实施例进行了描述。需要理解的是，本技术并不局限于上述特定实施方式，本领域技术人员可以在权利要求的范围内做出各种变形或修改，这并不影响本技术的实质内容。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于谷物不完善粒与杂质感官检验的双层分析盘，其特征在于：包括底盘(1)、挑选盘(2)、暂存室(3)和挡板(4)，所述底盘(1)为U形结构，包括底板、两个侧板以及背板，挑选盘(2)平行设置于底盘(1)的底板上方，并与底盘(1)的两个侧板固定连接，且挑选盘(2)与底盘(1)之间沿长度方向划分有多个通道(5)；所述暂存室(3)位于挑选盘(2)的末端与背板之间，每个暂存室(3)与一个通道(5)对应并连通，且每个暂存室(3)与通道(5)之间均设有挡料门(6)；所述挡板(4)垂直设置在挑选盘(2)上，与底盘(1)的侧板围成挑选区间，且挡板(4)的一端还开设有完善粒出料口(7)。2.如权利要求1所述的一种用于谷物不完善粒与杂质感官检验的双层分析盘，其特征在于：所述的暂...

【专利技术属性】
技术研发人员：张玉荣，吴琼，王强强，张咚咚，周显青，
申请(专利权)人：河南工业大学，
类型：新型
国别省市：