重学习光源驱动特性的最优功率控制执行方法及光学记录/再现设备技术

提供一种光学记录／再现设备和一种ＯＰＣ执行方法，用于在执行ＯＰＣ测试记录和ＯＰＣ测量之后重学习光源驱动特性，以保证在光盘上记录数据所用的准确的最优功率控制（ＯＰＣ），特别是当驱动特性根据光源的温度改变而变化时。ＯＰＣ执行方法包括：执行ＯＰＣ记录作为针对ＯＰＣ的测试记录，及ＯＰＣ测量作为ＯＰＣ记录状态的测量；执行光源驱动特性的功率分析，并得到ＯＰＣ记录和ＯＰＣ测量之后的光源驱动特性；以及根据ＯＰＣ记录状态和得到的光源驱动特性，执行ＯＰＣ计算来将最优光源驱动电平确定为使得能够从光源发射最优记录功率的光束的光源驱动电平。因此，由于根据光源温度上升之后的光源驱动特性执行ＯＰＣ计算，故可以准确地得到最优光源驱动电平。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光学记录介质及一种使用该光学记录介质的记录/再现设备，更具体地涉及一种在最优功率控制(OPC)记录和OPC测量之后重学习光源驱动特性的OPC执行方法，以及一种使用该方法的光学记录/再现设备。
技术介绍
已经开发并商业化了诸如光盘之类的性能改善的记录介质来长时间地记录和存储图像数据和声音数据。根据数据记录容量，可以将这些光盘归类为紧致盘(CD)或数字万能盘(DVD)。可以被记录、删除和再现的光盘的例子包括650MB CD-R、CD刻录器(RW)、4.7GB DVD+R/RW、DVD-随机访问存储器(RAM)和DVD-R/RW。数据再现专用光盘的例子包括650MB CD和4.7GB DVD-只读存储器(ROM)。此外，由于传统DVD-ROM存储容量的增加受限，新型高密度光盘(例如，蓝光盘(BD)和HD-DVD)的标准已快速发展。当在高密度光盘上记录数据时，执行最优功率控制(OPC)过程来确定在关联盘上记录数据所用的最优记录功率，即，针对每个光盘及记录/再现设备组合的最佳记录激光功率设置。通常，在向光盘上记录数据时，光学记录/再现设备在光盘的测试记录区上执行OPC过程。通过OPC操作确定最优LD驱动电平，以便从激光二极管(LD)中发射最优记录功率的光束。OPC过程具有一系列步骤，包括(1)学习激光二极管(LD)的驱动特性；(2)根据驱动特性驱动激光二极管(LD)的同时，执行OPC记录作为测试记录；(3)执行OPC测量以测量OPC记录状态；以及(4)根据OPC测量的结果和LD驱动特性，执行OPC计算以确定最优LD驱动电平。但是，OPC记录和OPC测量通常使激光二极管(LD)的温度升高。如果激光二极管(LD)的温度上升，LD驱动特性也改变。尽管LD驱动特性发生上述变化，仍然根据激光二极管(LD)的温度的任何改变之前检测到的LD驱动特性来执行OPC计算。如上所述，因为不是根据激光二极管(LD)的温度上升之后检测到的LD驱动特性来执行OPC计算，所以通常错误地估算最优LD驱动电平。如果根据不准确或不正确的最优LD驱动电平驱动激光二极管(LD)，则发射不准确的最优记录功率的光束，从而导致在光盘上记录数据过程中的更大的错误发生概率。
技术实现思路
本专利技术的多个方面和典型实施例有利地提供一种OPC执行方法和一种使用该方法的光学记录/再现设备，为了防止高密度光盘中的错误发生概率，该设备基于由OPC记录和OPC测量引起的温度改变的光源的驱动特性的更新分析利用光源驱动特性执行OPC计算。在随后的描述中将部分地提出专利技术的其它方面和/或优点，并且部分地从描述中将显而易见，或者可以通过专利技术的实施了解。根据本专利技术的一方面，OPC执行方法包括执行OPC记录作为针对OPC的测试记录，及执行OPC测量作为OPC记录状态的测量；分析光源的驱动特性，并得到OPC记录和OPC测量之后的光源驱动特性；以及根据得到的OPC记录状态和光源驱动特性，执行OPC计算来确定最优光源驱动电平作为光源驱动电平，使得能够从光源中发射最优记录功率的光束。光源驱动特性根据光源的温度改变而变化。进一步，光源驱动特性根据由OPC记录和OPC测量中的至少一个引起的光源的温度改变而变化。此外，光源驱动特性的分析包括得到光源驱动电平-测量功率相关性，作为光源驱动电平和测量功率之间的相关性，其中测量功率作为根据光源驱动电平驱动光源时在用于监控的光学检测元件测量到的光功率。优选地，OPC计算包括根据OPC记录状态确定最优记录功率；当从光源中发射所确定最优记录功率的光束时，计算测量到的测量功率；以及根据在功率分析期间得到的光源驱动电平—测量功率相关性，将与所计算的测量功率相对应的光源驱动电平确定为最优光源驱动电平。此外，还提供预学习步骤，在OPC记录和OPC测量之前，通过光源驱动特性的分析得到该光源驱动特性，其中根据得到的光源驱动特性执行OPC记录。根据本专利技术的另一方面，光学记录设备包括光源，发射在光盘上记录数据所用的光束；以及控制单元，在作为测试记录的OPC记录和作为OPC记录状态的测量的OPC测量之后学习光源驱动特性，得到光源驱动特性，并根据OPC记录状态和光源驱动特性将最优光源驱动电平确定为光源驱动电平，使得能够从光源中发射最优记录功率的光束。光源驱动特性根据光源的温度改变而变化。进一步，光源驱动特性根据由OPC记录和OPC测量中的至少一个引起的光源的温度改变而变化。根据本专利技术的一方面，控制单元得到表示光源驱动电平和测量功率之间的相关性的光源驱动电平—测量功率相关性来作为光源驱动特性，其中测量功率作为根据光源驱动电平驱动光源时在用于监控的光学检测元件中测量到的光功率。根据本专利技术的另一方面，控制单元根据OPC记录状态确定最优记录功率；计算从光源发射所确定的最优记录功率的光束时在用于监控的光学检测元件中测量到的测量功率；并根据光源驱动电平—测量功率相关性将与所计算的测量功率相对应的光源驱动电平确定为最优光源驱动电平。此外，在OPC记录和OPC测量之前，通过光源驱动特性的分析得到该光源驱动特性，并根据得到的光源驱动特性执行OPC记录。除了上述的示例实施例和方面之外，通过参考附图和学习以下描述，本专利技术的其它方面和实施例将显而易见。附图说明结合附图阅读以下对示例实施例和权利要求的详细描述将会更好地理解本专利技术，其中所有附图和描述组成了专利技术公开的一部分。虽然以下所写及所演示的公开集中公开专利技术的示例实施例，但是应该清楚地理解只是通过演示和示例描述了相同内容，专利技术并不局限于此。专利技术的精神和范围只受限于所附权利要求。以下代表附图的简要描述，其中图1是根据本专利技术的实施例的、用于在OPC记录和OPC测量之后通过重学习光源驱动特性来执行OPC的典型光学记录/再现设备的方框图；图2是解释根据本专利技术的实施例的、用于在完成OPC记录和OPC测量之后重学习光源驱动特性的OPC执行方法的流程图；以及图3A-3B示出图2中所示的S260方框中的典型的记录功率测量功率相关性。具体实施例方式将详细参考本专利技术的现有实施例，在附图中演示了其示例，其中相似的参考数字表示相似的元件。为了解释本专利技术，下面通过参考图来描述实施例。图1是根据本专利技术的实施例的典型光学记录/再现设备的方框图。在图1中，实线所示的流水线表示诸如驱动信号、控制信号、信息信号及类似的电信号的路径，并且虚线所示的流水线表示光束的路径。在执行最优功率控制或校准(OPC)中，光学记录/再现设备在完成OPC记录和OPC测量之后再次执行光源驱动特性的学习，并根据通过重学习更新的光源驱动特性执行OPC计算。在OPC记录/测量和OPC学习之间重复光源驱动特性的重学习，以便得到由OPC记录/测量引起的温度变化后的光源驱动特性，并将得到的光源驱动特性用于OPC计算。如图1中所示，光学记录/再现设备包括光盘100、光学拾取器单元110、再现处理单元120、记录处理单元130和控制单元140。此外，还可以安排诸如伺服单元、电动驱动器、键输入单元和存储器之类的其它单元，但没有示出。为简洁起见，不论整体还是部分，还可以将该光学记录/再现设备称作可以是内部(位于主机内)或外部(位于与主机相连的分离的箱子中)的驱动系统。光盘可以是任何高密度介质，比如蓝光盘(BD)本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种最优功率控制（ＯＰＣ）执行方法，包括：执行ＯＰＣ记录作为针对ＯＰＣ的测试记录，以及执行ＯＰＣ测量作为ＯＰＣ记录状态的测量；分析ＯＰＣ记录和ＯＰＣ测量之后的光源驱动特性，并得到光源驱动特性；以及根据ＯＰＣ记录状态和 得到的光源驱动特性，执行ＯＰＣ计算来将最优光源驱动电平确定为使得能够从光源发射最优记录功率的光束的光源驱动电平。

【技术特征摘要】
KR 2005-6-1 2005-466731.一种最优功率控制(OPC)执行方法，包括执行OPC记录作为针对OPC的测试记录，以及执行OPC测量作为OPC记录状态的测量；分析OPC记录和OPC测量之后的光源驱动特性，并得到光源驱动特性；以及根据OPC记录状态和得到的光源驱动特性，执行OPC计算来将最优光源驱动电平确定为使得能够从光源发射最优记录功率的光束的光源驱动电平。2.根据权利要求1所述的方法，其中光源驱动特性根据光源的温度改变而变化。3.根据权利要求2所述的方法，其中光源驱动特性根据由OPC记录和OPC测量中的至少一个引起的光源的温度改变而变化。4.根据权利要求1所述的方法，其中所述分析包括得到光源驱动电平-测量功率相关性，作为光源驱动电平与作为根据光源驱动电平驱动光源时测量到的光功率的测量功率之间的相关性。5.根据权利要求4所述的方法，其中OPC计算包括根据OPC记录状态确定最优记录功率；计算在从光源发射所确定的最优记录功率的光束时测量到的测量功率；以及根据得到的光源驱动电平-测量功率相关性，将与所计算的测量功率相对应的光源驱动电平确定为最优光源驱动电平。6.根据权利要求1所述的方法，还包括预学习在OPC记录和OPC测量之前得到的光源驱动特性，其中根据在预学习期间得到的光源驱动特性执行OPC记录。7.一种光盘设备，包括光源，被布置以便发射用于在光盘上记录数据的光束；以及控制单元，被布置以便在作为针对OPC的测试记录的OPC记录和作为OPC记录状态的测量的OPC测量之后分析光源驱动特性，并得到光源驱动特性，然后根据OPC记录状态和光源驱动特性将最优光源驱动电平确定为使得能够从光源中发射最优记录功率的光束的光源驱动电平。8.根据权利要求7所述的光盘设备，其中光源驱动特性根据光源的温度改变而变化。9.根据权利要求8所述的光盘设备，其中光源驱动特性根据由OPC记录和OPC测量中的至少一个引起的光源的温度改变而变化。10.根据权利要求7所述的光盘设备，其中控制单元得到表示光源驱动电平与作为在根据光源驱动电平驱动光源时测量到的光记录功率的测量功率之间的相关性的光源驱动电平-测量功率相关性来作为光源驱动特性。11.根据权利要求10所述的光盘设备，其中控制单元根据OPC记录状态确定最优记录功率，计算在从光源发射所确定的最优记录功率的光束时测量到的测量功率，并根...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘真雨，大塚达宏，高钟珍，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]