本发明专利技术涉及一种射频开关的谐波测试方法及装置，所述方法至少包括：基于接入被测件前与接入被测件后的谐波信号数据变化的矢量差来确定受所述被测件接入的影响产生的谐波信号。与现有技术直接通过高质量信号源来测试被测件产生的谐波信号相比，本发明专利技术能够适用于不同质量的信号源，并且通过谐波信号的变化的数据处理来得到准确的谐波信号，数据处理步骤少，误差小。本发明专利技术降低了产生高质量信号源的设备的成本，并且取消了滤波装置，使得谐波测试装置更加简化，操作简单，体积更小。体积更小。体积更小。
【技术实现步骤摘要】
一种射频开关的谐波测试方法及装置
[0001]本专利技术涉及射频集成电路
，尤其涉及一种射频开关的谐波测试方法及装置。
技术介绍
[0002]在进行射频芯片测试的时候有时候会需要测试仅由被测件接入影响产生的谐波信号。一般而言，信号发生器发出信号之后，由于本身的非线性的影响会产生若干个不同频率的谐波，接入被测件之后由于被测件的影响又会产生若干个不同频率的谐波，那么就很有必要分清楚哪些是我们所需要的谐波。最理想的现有方案是使用高质量的信号源，这种信号源发出之后是没有谐波干扰的，接入被测件之后产生的谐波就是我们所需要的谐波了。然而发生高质量的信号源是需要极高的成本的，放在平时的测量当中也不太现实。还有一种现有方案是载入带通滤波器，但是滤波器的体积是与其通过的功率成正比的，所以在实际测量过程中可能会需要多个大体积的滤波器，成本较高，而且结构复杂。
[0003]例如，中国专利CN110632544A公开了一种谐波测试系统，包括检定仪、第一三相变压器、第一录波仪、CVT设备、第二录波仪、分压电路、第三录波仪和第一微处理芯片，检定仪的输出级与第一录波仪的输入级和第一三相变压器的二次侧电连接；第一录波仪的输出级与微处理芯片的第一输入级电连接；第一三相变压器的三次侧与CVT设备的输入级电连接；CVT设备的输出级与第二录波仪的输入级电连接；第二录波仪的输出级与微处理芯片的第二输入级电连接；第一三相变压器的三次侧与分压电路的输入级电连接；分压电路的输出级与第三录波仪的输入级电连接；第三录波仪的输出级与微处理芯片的第三输入级电连接。该专利技术通过对三种信号进行比对，从而得到CVT设备内部的谐波产出情况。该系统依然需要高质量的信号源。
[0004]中国专利CN102565672B一种基于PXI测试设备的射频功率放大器谐波测试电路，包括PXI测试设备和被测射频功率放大器，PXI测试设备和被测射频功率放大器之间连接有谐波信号获取电路，谐波信号获取电路和PXI测试设备之间还连接有基波和载波抑制电路，谐波信号获取电路采用耦合器实现，耦合器从被测射频功率放大器输出信号上耦合获取完整的信号，谐波信号获取电路获取的信号经基波和载波抑制电路进入PXI测试设备。采用该电路的测试板卡，可降低谐波测试部分的电路复杂性，进而降低了测试板卡的成本，同时经过该电路处理过的谐波信号对PXI测试设备的要求更低，进一步的降低了测试成本。该系统依然需要高质量的信号源来完成测试。
[0005]因此，现有技术中测试谐波信号的成本太高，如何提供一种成本较低且测试质量较好的谐波信号测试方法及装置是当前没有解决的技术问题。
[0006]此外，一方面由于本领域技术人员的理解存在差异；另一方面由于专利技术人做出本专利技术时研究了大量文献和专利，但篇幅所限并未详细罗列所有的细节与内容，然而这绝非本专利技术不具备这些现有技术的特征，相反本专利技术已经具备现有技术的所有特征，而且申请人保留在
技术介绍
中增加相关现有技术之权利。
技术实现思路
[0007]现有技术中，一般采用高质量的信号源来进行被测件的谐波测试。由于高质量信号源不存在谐波，那么检测到的谐波就是被测件产生的。但是高质量信号源成本较高，在日常测量中不能够频繁进行。现有技术还通过载入带通滤波器来进行谐波测试，但是滤波器的体积是与其通过的功率成正比的，所以在实际测量过程中可能会需要多个大体积的滤波器，成本较高，而且结构复杂。现有技术中，本领域技术人员一般集中于提高仪器的过滤精度来过滤掉有干扰的谐波，总是希望在仪器测量后能够直接获得所需要的谐波，而忽略了对测得谐波数据进行数据处理的技术手段。
[0008]基于现有技术的缺陷，本专利技术希望能够提供一种不需要高质量信号源的谐波测试方法，降低信号源的产生成本，同时又能够排除干扰谐波的干扰，获得所需要的准确的谐波信息。本专利技术不采用高质量信号源，也不采用滤波的技术手段来排除有干扰的谐波，而是通过数据处理的方式来消减有干扰谐波的数据来得到准确的被测件的谐波数据。
[0009]针对现有技术之不足，本专利技术提供一种射频开关的谐波测试方法，所述方法至少包括：基于接入被测件前与接入被测件后的谐波信号数据变化的矢量差来确定受所述被测件接入的影响产生的谐波信号。
[0010]优选地，在接入被测件前，记录指定频段内的若干第一谐波信号数据，在接入被测件后，记录指定频段内的与若干第一谐波信号对应的若干第二谐波信号数据，基于所述第一谐波信号数据与所述第二谐波信号数据的矢量差来确定在所述被测件接入的情况下产生的若干第三谐波信号。
[0011]本专利技术中，在接入被测件之前，通过记录所有的第一谐波信号，能够确定被测件接入之前的信号环境，从而不遗漏第一谐波信号，也减少后续数据处理的误差。在接入被测件之后，谐波信号的频段不会变化，功率会发生变化，因此相同频段的第二谐波信号的数据能够被再次采集。本专利技术通过将第一谐波信号与第二谐波信号进行矢量计算，能够准确地得到由被测件产生的第三谐波信号数据。
[0012]优选地，所述方法还包括：计算所述第一谐波在偏移后形成的第四谐波的数据，基于所述第二谐波信号数据与所述第四谐波信号数据的矢量差来确定在所述被测件接入的情况下产生的若干第三谐波信号。
[0013]优选地，所述方法还包括：若干所述第一谐波信号数据来源于由信号发生器发出的一个信号。采用一个信号为主信号，不仅能够减少数据处理的计算量，而且减少信号的复杂程度，更方便谐波信号的测试。
[0014]优选地，在接入被测件前和在接入被测件后，信号发生器发出的信号是相同的。发出相同的信号，则受仪器影响产生的谐波就是相同的，就排除了额外信号的干扰，使得数据处理得到的谐波数据更准确。
[0015]优选地，第一谐波信号、第二谐波信号和第三谐波信号为包括大小和方向的矢量信号。
[0016]本专利技术还提供一种射频开关的谐波测试装置，在信号发生器发出信号后，所述谐波测试装置基于接入被测件前与接入被测件后的谐波信号数据变化的矢量差来确定受所述被测件接入的影响产生的谐波信号。
[0017]优选地，谐波测试装置设置有数据处理单元，在接入被测件前，所述谐波测试装置
记录指定频段内的若干第一谐波信号数据，在接入被测件后，所述谐波测试装置记录指定频段内的与若干第一谐波信号对应的若干第二谐波信号数据，所述数据处理单元基于所述第一谐波信号数据与所述第二谐波信号数据的矢量差来确定在所述被测件接入的情况下产生的若干第三谐波信号。本专利技术的谐波测试装置，不设置有滤波器，仅包括谐波测试单元和数据处理单元，简化了装置的结构，并且数据处理单元的体积较小。本专利技术的谐波测试装置的测试方法简单，数据处理简单，从而得到的被测件的谐波数据也准确，数据处理效率较高。
[0018]优选地，数据处理单元计算所述第一谐波在偏移后形成的第四谐波的数据，基于所述第二谐波信号数据与所述第四谐波信号数据的矢量差来确定在所述被测件接入的情况下产生的若干第三谐波信号。优选地，若干第一谐波信号数据来源于由信号发生器发出的一个信号。对于由一个信号产生本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种射频开关的谐波测试方法，其特征在于，所述方法至少包括：基于接入被测件前与接入被测件后的谐波信号数据变化的矢量差来确定受所述被测件接入的影响产生的谐波信号。2.根据权利要求1所述的射频开关的谐波测试方法，其特征在于，在接入被测件前，记录指定频段内的若干第一谐波信号数据，在接入被测件后，记录指定频段内的与若干第一谐波信号对应的若干第二谐波信号数据，基于所述第二谐波信号数据与所述第一谐波信号数据的矢量差来确定在所述被测件接入的情况下产生的若干第三谐波信号。3.根据权利要求2所述的射频开关的谐波测试方法，其特征在于，所述方法还包括：计算所述第一谐波在偏移后形成的第四谐波的数据，基于所述第二谐波信号数据与所述第四谐波信号数据的矢量差来确定在所述被测件接入的情况下产生的若干第三谐波信号。4.根据权利要求1~3任一项所述的射频开关的谐波测试方法，其特征在于，在接入被测件前和在接入被测件后，信号发生器发出的信号是相同的。5.根据权利要求1~3任一项所述的射频开关的谐波测试方法，其特征在于，第一谐波信号、第二谐波信号和第三谐波信号为包括大小和方向的矢量信号。6.一种射频开关的谐波测试装置，其特征在于，在信号发生器发...
【专利技术属性】
技术研发人员：胡信伟，戴海平，侯林，李翔，
申请(专利权)人：南京派格测控科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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