【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及对磁道间距不同的多种光记录盘片进行信息的记录及/或重放的光记录盘片装置。
技术介绍
对光记录盘片进行信息的记录及/或重放的光记录盘片装置，具有激光光源；光检测器；以及构成将从激光光源射出的激光引向光记录盘片的去路、和将用光记录盘片反射的返回光引向光检测器的回路的光学系统。另外，在光记录盘片装置中，为了利用差动推挽法(以下称为DPP(Differential Push-Pull)法)，得到跟踪误差信号，利用衍射元件，从激光光源射出的光生成由0级光形成的主光束、以及由衍射光形成的副光束。关于这样的衍射元件，揭示了使用在小于光束的截面积的区域内形成沟槽的衍射元件的技术(例如，参照专利文献1)。另外，提出了一种衍射元件，该衍射元件以在光记录盘片上将光点尺寸聚缩得足够小为目的，在中心区域附近，使槽宽接近于光栅周期的一半长度，在外部边缘附近，使光栅槽宽远离光栅周期的一半长度(例如，参照专利文献2)。特开平10-162383号公报[专利文献2]特开2004-295954号公报在采用这些衍射光栅的任何一种光栅的情况下，由于能够降低激光光束在中心区域的0级光的光强...
【技术保护点】
一种光记录盘片装置，是对磁道间距不同的第１光记录盘片及第２光记录盘片进行信息的记录及／或重放的光记录盘片装置，其特征在于，具有激光光源；光检测器；构成将从所述激光光源射出的激光引向光记录盘片的去路、和将用所述光记录盘片反射的返回光引向光检测器的回路的光学系统；以及根据用所述光检测器的检测结果、利用差动推挽法生成跟踪误差信号的跟踪误差信号生成电路，所述光学系统在所述去路的途中位置从所述激光光源射出的激光的入射区域，包含三光束生成用的衍射元件，该三光束生成用的衍射元件具有包含该入射区域的至少中心部分的内侧衍射区域、以及０级光的透射率高于该内侧衍射区域的外侧区域，利用该衍射元件生...
【技术特征摘要】
JP 2005-10-27 2005-3126431.一种光记录盘片装置，是对磁道间距不同的第1光记录盘片及第2光记录盘片进行信息的记录及/或重放的光记录盘片装置，其特征在于，具有激光光源；光检测器；构成将从所述激光光源射出的激光引向光记录盘片的去路、和将用所述光记录盘片反射的返回光引向光检测器的回路的光学系统；以及根据用所述光检测器的检测结果、利用差动推挽法生成跟踪误差信号的跟踪误差信号生成电路，所述光学系统在所述去路的途中位置从所述激光光源射出的激光的入射区域，包含三光束生成用的衍射元件，该三光束生成用的衍射元件具有包含该入射区域的至少中心部分的内侧衍射区域、以及0级光的透射率高于该内侧衍射区域的外侧区域，利用该衍射元件生成的三光束，生成副光点，并且所述第1光记录盘片及所述第2光记录盘片中，该副光点的中心位于沿跟踪方向从主光点中心偏离差动推挽法所使用的副推挽信号的振幅大的第1光记录盘片磁道间距的0.2倍到0.8倍距离的位置。2.一种光记录盘片装置，是对磁道间距不同的第1光记录盘片及第2光记录盘片进行信息的记录及/或重放的光记录盘片装置，其特征在于，具有激光光源；光检测器；构成将从所述激光光源射出的激光引向光记录盘片的去路、和将用所述光记录盘片反射的返回光引向光检测器的回路的光学系统；以及根据用所述光检测器的检测结果、利用差动推挽法生成跟踪误差信号的跟踪误差信号生成电路，所述光学系统在所述去路的途中位置从所述激光光源射出的激光的入射区域，包含三光束生成用的衍射元件，该三光束生成用的衍射元件具有包含该入射区域的至少中心部分的内侧衍射区域、以及0级光的透射率高于该内侧衍射区域的外侧区域，利用该衍射元件生成的三光束，生成副光点，并且所述第1光记录盘片及所述第2光记录盘片中，该副光点的中心位于沿跟踪方向从主光点中心偏离磁道间距宽的第1光记录盘片磁道间距的0.2倍到0.8倍距离的位置。3.如权利要求1或2所述的光记录盘片装置，其特征在于，利用所述衍射元件生成的三光束，生成副光点，该副光点的中心位于沿跟踪方向从主光点中心偏离所述第1光记录盘片磁道间距的0.5倍距离的位置。4.如权利要求1或2所述的光记录盘片装置，其特征在于，...
【专利技术属性】
技术研发人员：酒井博，
申请(专利权)人：日本电产三协株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]
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