【技术实现步骤摘要】
一种探测器阵列的数据采集控制装置及安检系统
[0001]本专利技术涉及一种探测器阵列的数据采集控制装置及安检系统,属于自动控制
技术介绍
[0002]现有的X光机安检设备一般都是根据探测器阵列的规格、布置,以及分辨率、包裹输送机额定的运行速度等技术要求事先设定信号的采样周期,每一次采样周期(或采样间隔)是相等的。设备的采样系统依据该采样周期工作,在连续工作中,采样周期无法随被检物体移动的速度变化而变化,因此在被检物体的移动速度发生变化时,每一次采样的数据所对应的物体的长度就会发生变化。在物体移动的速度大于额定速度时,采样的数据所对应物体的长度要比额定的长,对应的图像就会被压缩,反之,在物体移动的速度小于额定速度时,采样的数据所对应物体的长度要比额定的短,对应的图像就会被伸长,导致图像会发生变形现象。
[0003]另一方面,我们经常看到,物体在检查通道内正在扫描时,由于某些原因,输送装置突然停止移动,扫描工作中断。如输送装置恢复工作,由于输送装置一开始达不到额定速度,会有图像变形出现。为解决这一问题,常常采用 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种探测器阵列的数据采集控制装置,其特征在于,包括:位移传感器,用于设置在安检机输送装置上,使得安检机输送装置每传输设定距离,位移传感器发出一个脉冲信号;探测器阵列,包括若干探测器以及对应连接的积分电路,用于接收安检扫描过程中透射的X射线,并对接收的X射线进行采样处理;控制器,控制器的输入端连接位移传感器,控制器的输出端控制连接各积分电路,且积分电路输出连接控制器,用于根据位移传感器的脉冲信号控制积分电路进行积分的起始时间和积分时间,得到探测器的采样数据,其中起始时间为脉冲信号上升沿对应的时间点,积分时间为脉冲信号的宽度。2.根据权利要求1所述的探测器阵列的数据采集控制装置,其特征在于,脉冲信号间隔时长内的采样数据为前一个脉冲信号积分后的采样数据。3.根据权利要求1或2所述的探测器阵列的数据采集控制装置,其特征在于,所述探测器阵列中还包括若干信号调理电路,探测器通过信号调理电路连接积分电路。4.根据权利要求1或2所述的探测器阵列的数据采集控制装置,其特征在于,所述积分电路通过模/数转换电路输出连接控制器。5.一种安检系统,包括安检机输送装置、安检通道、用于在包裹达到指定位置后发出触发信号的触发器以及用于发射X射线,对包裹进行扫描的射线源,...
【专利技术属性】
技术研发人员:王骞,王满仓,
申请(专利权)人:上海瑞示电子科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。